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同惠TH9120在超高壓高精度電氣安全測試的工業(yè)級(jí)解決方案

agitek456 ? 來源:agitek456 ? 作者:agitek456 ? 2025-02-20 14:15 ? 次閱讀
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隨著新能源汽車、光伏儲(chǔ)能及高壓工業(yè)設(shè)備的快速發(fā)展,絕緣耐壓測試需求呈現(xiàn)高電壓、高精度、智能化趨勢。傳統(tǒng)測試設(shè)備在應(yīng)對(duì)10kV以上交/直流耐壓測試、GΩ級(jí)絕緣檢測時(shí),普遍面臨以下痛點(diǎn):

●輸出能力不足:無法滿足大功率器件(如電機(jī)、動(dòng)力電池模組、帶啟動(dòng)電容的電器)的極限測試需求

●檢測維度單一:僅判定“合格/不合格”,缺乏崩潰電壓分析及電弧放電監(jiān)測

●自動(dòng)化兼容性差:產(chǎn)線集成效率低,數(shù)據(jù)追溯困難

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TH9120系列交/直流耐壓絕緣電阻測試儀,專為高絕緣強(qiáng)度器件設(shè)計(jì),可精準(zhǔn)執(zhí)行10kV級(jí)交流/直流耐壓測試及絕緣電阻檢測,適用于光耦元件、電力繼電器、工業(yè)高壓開關(guān)、光伏組件等器件的高壓耐受性評(píng)估與絕緣失效分析。

TH9120系列交/直流耐壓絕緣測試儀包括以下幾種類型:

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01高壓性能全面升級(jí)

●交/直流耐壓測試:

AC:10kV/最大20mA/200VA輸出,DC:12kV/最大10mA/120VA輸出,因此可用來為高耐壓的定子、電機(jī)等設(shè)備做耐壓測試,也可以對(duì)零件做同樣的測試。

●絕緣崩潰檢測:

AC:0.05-10.0kV,分辨率10V,DC:0.05-12kV,分辨率10V。常規(guī)測試耐壓,如圖A-1所示,只是設(shè)定了上升時(shí)間和測試電壓值,如果在測試時(shí)間內(nèi),被測件出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象,則判斷耐壓不良,直接切斷測試電壓。因此,常規(guī)耐壓檢測僅能判斷在指定電壓下耐壓是否合格。

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部分被動(dòng)組件或材料需檢測高壓耐受度并確定崩潰電壓,常規(guī)耐壓檢測法無法滿足。因此,TH9120系列增加了崩潰電壓檢測功能,通過預(yù)設(shè)起始、截止電壓、電壓步進(jìn)及時(shí)間間隔逐步測量,被測件絕緣不良時(shí)自動(dòng)保存電壓值作為崩潰電壓。

若至截止電壓仍未崩潰,可重設(shè)參數(shù)繼續(xù)分析,直至獲得準(zhǔn)確值。此功能可準(zhǔn)確評(píng)估組件絕緣耐壓程度,幫助研究人員改進(jìn)絕緣較弱部分。

02智能診斷與安全防護(hù)

●耐壓絕緣測試和電弧偵測(ARC):耐壓不良指測試中發(fā)生電氣閃絡(luò)或絕緣擊穿。盡管耐壓測試已成為電器設(shè)備及材料安全檢測的強(qiáng)制性項(xiàng)目,但單一判斷絕緣失效已無法滿足品質(zhì)管控需求。電弧放電(ARC)現(xiàn)象因與絕緣性能高度關(guān)聯(lián),現(xiàn)被列為關(guān)鍵監(jiān)測對(duì)象。

●兩類典型場景易引發(fā)ARC:

?材料表面放電:高電場強(qiáng)度導(dǎo)致氣體電離,瞬態(tài)打火產(chǎn)生溫升效應(yīng),長期作用引發(fā)絕緣材料熱老化失效;

?空間拉弧放電:測試點(diǎn)間距過小時(shí),空氣電離形成高頻瞬態(tài)電流,加速局部絕緣碳化。ARC偵測通過高頻電流信號(hào)分析(如下圖),可量化評(píng)估放電強(qiáng)度,精準(zhǔn)識(shí)別潛在絕緣缺陷。

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●開短路偵測OSC(僅TH9120/A):在耐壓測試過程中由于被測件與測試線接觸不良、測試線損壞等,會(huì)發(fā)生開路現(xiàn)象,導(dǎo)致不良品誤判為良品;被測件損壞或者被測端間距太小導(dǎo)致測試線短路現(xiàn)象,使用OCS功能,儀器可預(yù)先偵知測試端開短路情況,減少誤判與設(shè)備損傷。

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●引腳接觸檢查:對(duì)于產(chǎn)線測試時(shí)的接觸檢查問題,除OSC功能外,還增加了引腳檢測功能(圖D),確保被測件與測試線連接可靠,提升測試可靠度與效率。

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03多場景適配與高效管理

●自動(dòng)化接口:HANDLER(機(jī)械手接口)、RS-232、LAN、USB DEVICE、USB HOST;選配GPIB,無縫對(duì)接機(jī)械手與工業(yè)控制系統(tǒng)。

●多步驟編程:支持100個(gè)文件×50步存儲(chǔ),滿足復(fù)雜測試流程需求。

●數(shù)據(jù)溯源:一鍵截屏/U盤導(dǎo)出,搭配定制化上位機(jī)軟件,實(shí)現(xiàn)測試數(shù)據(jù)可視化分析。

審核編輯 黃宇

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