在產(chǎn)品開發(fā)階段，研發(fā)工程師可能會使用信號發(fā)生器來替代系統(tǒng)的本地振蕩器（LO）和時鐘子系統(tǒng)。這些措施能有效提升研發(fā)效率、降低驗(yàn)證成本，并確保系統(tǒng)設(shè)計的可靠性。

圖 1 展示了一個簡單的接收機(jī)示例：當(dāng)本振和時鐘組件的電路原型尚未完成設(shè)計時，可使用 AP500xA 系列信號發(fā)生器作為本振和時鐘的替代源。第一臺信號發(fā)生器連接至混頻器，充當(dāng)本振替代源；混頻器的輸出信號隨后通過帶通濾波器，以過濾出目標(biāo)信號；目標(biāo)信號經(jīng)放大后，由模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）采樣，再送入現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）進(jìn)行后續(xù)信號處理。

在此場景中，ADC 和 FPGA 的時鐘（由 AP500xA 替代）被配置為不同頻率，通過連接兩者的內(nèi)部參考振蕩器實(shí)現(xiàn)頻率鎖定；若有需要，也可將本振信號發(fā)生器與這兩個時鐘源進(jìn)行頻率鎖定，確保各模塊時鐘的相位一致性。

圖1：AP500x系列射頻信號源用作本振及時鐘替代

使用信號發(fā)生器替代振蕩器和時鐘組件的優(yōu)勢之一，是能通過具有優(yōu)異信號純度（低相位噪聲和低雜散信號）的信號源驗(yàn)證系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)。相位噪聲用于衡量射頻源的頻率穩(wěn)定性，通常包括長期穩(wěn)定性（常用百萬分比 PPM 表示）和由信號源內(nèi)部隨機(jī)波動導(dǎo)致的短期穩(wěn)定性；雜散信號則是不期望的非諧波相關(guān)頻率分量。由于雜散和相位噪聲會影響接收機(jī)性能，因此選擇如 AP500xA 這類高純度信號發(fā)生器，可在系統(tǒng)組件開發(fā)階段進(jìn)行性能對比。圖 2中的表格顯示，AP500xA 在 1 GHz 頻率、20 kHz 偏移條件下的相位噪聲低至 - 130 dBc/Hz。

圖2：AP500x系列射頻信號源的前后面板及參數(shù)指標(biāo)

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