2025年8月30日-8月31日第六屆光電子集成芯片立強大會在湖北省武漢市舉辦并順利召開！

作為備受矚目的行業(yè)盛會，本次大會聚焦光芯片、電芯片、人工智能、光器件、激光通信等熱點話題及最新科技研發(fā)成果和進(jìn)展。

作為光電子集成芯片測試領(lǐng)域知名企業(yè)，中星聯(lián)華科技（北京）股份有限公司受邀參加本次展會。

盛會匯聚眾多業(yè)內(nèi)專家以及技術(shù)領(lǐng)先企業(yè)，進(jìn)一步推動光電子與交叉領(lǐng)域的技術(shù)交流、產(chǎn)業(yè)鏈合作和人才培養(yǎng)，展示光電子集成芯片材料、器件、工藝平臺、仿真設(shè)計、封測技術(shù)及其在光通信、數(shù)據(jù)中心、高性能計算、多維光存儲和光成像、光顯示與光傳感等領(lǐng)域的應(yīng)用。

大會邀請華中科技大學(xué)、山東大學(xué)、國家信息光電子創(chuàng)新中心、鵬城實驗室、浙江大學(xué)、中國科學(xué)院、清華大學(xué)、南京大學(xué)、東南大學(xué)、上海交通大學(xué)等單位代表蒞臨。

現(xiàn)場熱況

中星聯(lián)華展出光芯片測試、光模塊測試、電芯片測試、Serdes芯片測試、光壓力眼測試等專業(yè)技術(shù)方案，本次會議與現(xiàn)場嘉賓、觀眾進(jìn)行了深度交流，為現(xiàn)場的觀眾提供了專業(yè)的解答。

中星聯(lián)華展出的高性能注抖加噪誤碼儀、高速率誤碼儀、超低相噪信號源、雙音信號源等產(chǎn)品及光電芯片測試、Serdes芯片測試，光模塊測試等方案備受關(guān)注。

中星聯(lián)華展示的產(chǎn)品吸引了眾多觀眾前來交流，在現(xiàn)場同事們專業(yè)的講解下，客戶對我司的核心產(chǎn)品和解決方案產(chǎn)生了濃厚的興趣，希望后續(xù)可以與我司進(jìn)行深入了解與交流，并一起探尋業(yè)務(wù)合作的機(jī)會。

中星聯(lián)華高性能誤碼儀

產(chǎn)品特色：

模塊化：多通道靈活配置，單機(jī)支持32發(fā)32收

高速率：1G-120Gbps，數(shù)據(jù)速率靈活可調(diào)

壓力眼：注抖加噪，讓信號擁有72般變化

UDP：最大可支持16Gbit超長用戶自定義碼型

中星聯(lián)華高性能誤碼分析儀具有模塊化設(shè)計、靈活的通道配置、高速率、注抖加噪創(chuàng)建壓力眼信號、超長用戶自定義碼型等業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的核心技術(shù)，可用于高速Serdes芯片和高速接口、光芯片、光器件、光模塊、光傳輸、高速互連等領(lǐng)域苛刻的測試。

中星聯(lián)華超低相噪信號源

頻率范圍:5kHz~67GHz

超低相位噪聲:

<-132dBc/Hz(@10GHz,10kHz偏移,典型值)

最大輸出功率：≥+18dBm（@20GHz，典型值）

支持多通道輸出，支持雙音信號輸出

諧波抑制：＜-55dBc（@100MHz~2GHz）

非諧波抑制：＜-80dBc（@10GHz）

代碼兼容，支持業(yè)內(nèi)主流SCPI命令

高度集成，體積小巧，操作簡單

本次盛會已圓滿結(jié)束，中星聯(lián)華此行收獲滿滿。未來，中星聯(lián)華將繼續(xù)深化與國內(nèi)外同行的交流與合作，共同推動光電子產(chǎn)業(yè)向前發(fā)展。

我們期待來年再見！