隨著AI技術(shù)應(yīng)用越來越廣，算力需求激增，光通信系統(tǒng)正加速向小型化、高密度、多通道方向演進。硅光芯片、高速光模塊等核心器件內(nèi)部的光纖通道數(shù)量成倍增加，波導結(jié)構(gòu)愈發(fā)精細，傳統(tǒng)檢測手段因分辨率不足、效率低下，難以精準定位微米級損傷或耦合失效點，成為制約產(chǎn)品良率和性能的瓶頸。相比于傳統(tǒng)光纖鏈路測量方法（如功率計、插回損儀、紅光筆、光譜儀等），昊衡科技自主研發(fā)的OLI光纖微裂紋檢測儀可分布式測量光鏈路中所有位置的回波損耗，實現(xiàn)一鍵掃描，內(nèi)部結(jié)構(gòu)反射強度的可視化測量。

OLI的核心技術(shù)：光學低相干檢測

OLI即Optical Low coherence Interrogator，其基于光學相干檢測技術(shù)（Optical Coherence Detection），通過白光（寬譜光）的低相干性原理，實現(xiàn)了對光纖鏈路和光學器件的亞毫米級空間分辨率探測，靈敏度高達-100dB，可精準捕捉微裂紋、斷點、耦合異常等缺陷。其技術(shù)亮點包括：

高精度定位

采樣分辨率達1μm，事件點精度達百μm，可清晰呈現(xiàn)光鏈路中每個事件節(jié)點（如連接器端面、芯片波導接口）的回波損耗分布，快速鎖定故障位置。

分布式測量

OLI區(qū)別于傳統(tǒng)的功率指標測量，其最大特點即是可在某一長度范圍內(nèi)實現(xiàn)分布式強度信號測量，一鍵掃描，可查看最長90cm范圍內(nèi)每個位置點的反射信號強度，協(xié)助客戶判斷待測品中各種精細結(jié)構(gòu)端面異常情況，耦合好壞，微彎損耗，微裂紋點等。

快速自動化檢測

升級后的OLI支持多通道測試，并且添加了精準掃描功能，客戶可根據(jù)實際需要測量的范圍精準設(shè)置掃描位置，2cm長度掃描范圍僅需1.5秒，適配產(chǎn)線高速測量需求，效率提升超80%。同時，設(shè)備還開發(fā)了遠程數(shù)據(jù)傳輸功能，可實時傳輸測試數(shù)據(jù)到客戶自己的云端數(shù)據(jù)庫，方便出貨調(diào)用或后期失效查閱。

可對硅光芯片、高速光模塊、光纖連接器、復(fù)雜的光路耦合系統(tǒng)等場景進行測量，并可支持FC、LC、SC、MPO、MT、PC或APC等多種接頭類型及端面類型測試。

OLI的優(yōu)勢：從失效分析到工藝優(yōu)化

1. 硅光芯片的“全鏈路透視”

硅光芯片作為5G、AI算力的核心載體，其內(nèi)部光波導與外部光纖的耦合質(zhì)量直接影響信號傳輸效率。OLI可精準檢測耦合面質(zhì)量、FA內(nèi)部裂紋、FA帶纖裂紋及損傷等缺陷，助力優(yōu)化設(shè)計并提升制造良率。

2. 高速光模塊的產(chǎn)線級質(zhì)控

面對400G/800G光模塊的多通道波分復(fù)用架構(gòu)，OLI可快速掃描模塊內(nèi)部光纖鏈路，定位微損傷或連接異常。單次點擊測量，同時出所有通道測量結(jié)果，方便數(shù)據(jù)對比和分析。

3. 光纖連接器的精密檢測

隨著光模塊的速率越來越高、光纖鏈路的越來越復(fù)雜，光纖連接器早已不再只是傳統(tǒng)的單模單芯了。AI的火熱，使得MPO/MT類光纖連接器出貨量激增，相應(yīng)的光纖FA轉(zhuǎn)MPO/MT類跳線也是訂單明顯增加。隨著器件模塊的訂單價值越來越高，客戶對此類連接頭及帶纖的質(zhì)量要求也越來越高。分布式回損檢測儀（光纖微裂紋檢測儀）的市場將會越來越大。

總結(jié)：以精密丈量，鑄就光纖安全

OLI是一款可以有效幫助研發(fā)工程師解決設(shè)計問題，改進生產(chǎn)以及幫助產(chǎn)線解決自動化測試，提高產(chǎn)線效率的高精度測量設(shè)備。隨著光通信市場的不斷擴大，OLI將持續(xù)迭代，以更高精度、更大測量范圍應(yīng)對復(fù)雜光器件的檢測需求。昊衡科技始終致力為客戶提供從研發(fā)到量產(chǎn)的全生命周期質(zhì)量保障，助力客戶構(gòu)建智能化檢測體系。