鼎陽(yáng)科技發(fā)布SAP8000D有源差分探頭
2025年9月17日，鼎陽(yáng)科技發(fā)布SAP8000D有源差分探頭，專為高速信號(hào)測(cè)試與射頻應(yīng)用需求研發(fā)，具備8 GHz帶寬和300 fF超低輸入電容，支持差分與單端測(cè)量，具有優(yōu)異的共模抑制性能，適用于 PCIe、DDR、USB3.0、千兆以太網(wǎng)等高速串行總線驗(yàn)證，信號(hào)完整性分析及高頻電路調(diào)試。
SAP8000D探頭設(shè)計(jì)靈活，可搭配多種配件，靈活適應(yīng)焊接、手持或夾具等不同測(cè)試場(chǎng)景，為工程師在復(fù)雜測(cè)試環(huán)境中提供更高帶寬和更低噪聲的測(cè)試解決方案。
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原文標(biāo)題：鼎陽(yáng)科技發(fā)布8 GHz有源差分探頭，助力高速數(shù)字電路測(cè)試
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