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別被波形“騙” 了!差分探頭與無源探頭測量不一致的 5 大關鍵因素

PRBTEK ? 來源:PRBTEK ? 作者:PRBTEK ? 2025-10-14 09:31 ? 次閱讀
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在電子測量領域,精確地獲取電路中電信號的波形對于分析電路的工作狀態(tài)、驗證設計思路以及排查故障至關重要。示波器是波形測量中最常用的儀器,通常會搭配不同類型的探頭使用。其中,差分探頭和無源探頭是比較常見的兩種類型。然而,在實際測量中,常常出現(xiàn)這兩種探頭測量同一信號時波形不一致的情況,這給工程師們帶來了諸多困擾。接下來,我們將深入探討這一現(xiàn)象背后的原因。

一、工作原理的差異

無源探頭是示波器探頭中較為基礎且常用的類型。它的工作原理基于簡單的電阻電容分壓網(wǎng)絡,通常采用10:1 的衰減比例,即將輸入信號衰減為原來的十分之一后傳輸給示波器。無源探頭的輸入阻抗較高,一般為 10MΩ,能夠有效減少對被測電路的負載效應。在低頻信號測量(通常頻率低于 500MHz)時,無源探頭能夠較好地還原信號波形,具有成本低、結(jié)構簡單、堅固耐用等優(yōu)點。

差分探頭則采用了更為復雜的差分放大原理。它具備正負兩個輸入通道,通過差分放大器對兩個輸入信號的差值進行放大處理。這種設計使得差分探頭能夠有效抑制共模干擾信號,具有較高的共模抑制比(CMRR),一般可達 80dB 以上。差分探頭適合測量那些不能以地為參考的信號,例如在功率電子領域中,測量三相逆變器母線電壓等浮地系統(tǒng)的信號。

二、測量環(huán)境的影響

在一些復雜的電磁環(huán)境中,例如存在大量開關電源、電機等干擾源的場合,無源探頭由于其單端輸入結(jié)構,容易受到外界電磁干擾的影響。較長的接地線在高頻環(huán)境下會形成天線效應,耦合進噪聲信號,從而導致測量波形出現(xiàn)雜散的毛刺或失真。例如,在測量開關電源的輸出紋波時,如果無源探頭的接地線過長,就可能會拾取到開關電源自身的高頻開關噪聲,使得測量得到的紋波波形上疊加大量無規(guī)律的尖峰噪聲。

盡管差分探頭對共模干擾有較強的抑制能力,但在面對過大的共模電壓變化速率(dv/dt)時,其共模抑制比會下降。當測量一些高速功率器件(如碳化硅 MOSFET)的驅(qū)動信號時,由于其開關速度極快,dv/dt 可達 100V/ns 甚至更高,此時差分探頭可能無法完全抑制共模干擾,導致測量波形出現(xiàn)幅度偏差或形狀畸變。有工程師在測量碳化硅 MOSFET 的驅(qū)動電壓時,使用差分探頭得到的波形在開關瞬間出現(xiàn)了明顯的過沖和振蕩,與理論波形相差較大。經(jīng)過分析發(fā)現(xiàn),這是由于共模電壓變化速率過大,超出了差分探頭的共模抑制能力范圍。

圖片1.png

三、探頭參數(shù)特性的差異

無源探頭的帶寬相對有限,一般常見的無源探頭帶寬在500MHz 以下。當測量高頻信號時,由于其自身的頻率響應特性,會對信號的高頻分量產(chǎn)生衰減,導致測量波形的上升沿變緩、幅度下降。例如,使用 500MHz 的無源探頭測量一個上升時間為 530ps 的信號,即使不考慮示波器的帶寬影響,經(jīng)過探頭后的信號上升時間也會變?yōu)?860ps,波形失真明顯。

差分探頭的帶寬范圍則較為廣泛,從幾十MHz 到數(shù) GHz 都有。但是不同帶寬的差分探頭在測量同一信號時也可能出現(xiàn)差異。帶寬較低的差分探頭在測量高頻信號時,同樣會面臨高頻分量丟失的問題;而帶寬過高的差分探頭在測量低頻信號時,可能會引入更多的噪聲,因為其對低頻信號的濾波效果相對較弱。此外,差分探頭的輸入阻抗和輸入電容等參數(shù)也會影響測量結(jié)果。如果輸入阻抗與被測電路不匹配,會導致信號反射,造成波形畸變;輸入電容過大則會對被測電路產(chǎn)生較大的負載效應,改變原信號的特性。

四、探頭使用方法的不當

無源探頭在使用時需要進行正確的補償調(diào)節(jié)。其連接示波器的一端通常有一個可調(diào)電容,通過調(diào)整該電容,使探頭的高頻響應與示波器的輸入特性相匹配,從而保證在不同頻率下都能準確測量信號。如果補償調(diào)節(jié)不當,在測量方波信號時,會出現(xiàn)過沖或下沖的現(xiàn)象,測量其他復雜波形時,也會導致幅度和相位的測量誤差。例如,在示波器提供的低頻方波校準信號下,若未將無源探頭的補償電容調(diào)整到合適值,測量得到的方波可能會出現(xiàn)頂部或底部的圓角,或者出現(xiàn)明顯的振鈴現(xiàn)象。

差分探頭在使用時,兩根測量線的布線方式也會影響測量結(jié)果。如果兩根測量線未進行雙絞,在測量高壓、高速信號時,它們會像天線一樣接收外界的磁場信號,尤其是在測量SiC MOSFET 等開關速度快、電流變化速率大的器件時,測量線周圍的磁場變化會在測量線中感應出干擾信號,影響測量波形的準確性。將差分探頭的兩根測量線進行雙絞后,驅(qū)動電壓波形的震蕩幅度明顯降低,測量結(jié)果更加接近真實值。

五、總結(jié)

差分探頭和無源探頭測量波形不一致是由多種因素共同作用的結(jié)果。工程師在實際測量過程中,需要充分了解兩種探頭的特性,根據(jù)測量需求和環(huán)境選擇合適的探頭,并正確使用和設置探頭參數(shù)。必要時還需對測量結(jié)果進行綜合分析和驗證,以確保獲取到準確可靠的信號波形,為電路設計和分析提供有力支持。

審核編輯 黃宇

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