近日，被譽為“設(shè)計界奧斯卡”的德國紅點獎（Red Dot Award）2025年度評選結(jié)果正式揭曉。

優(yōu)可測ATOMETRICS再添榮譽 —— 旗下白光干涉儀 AM-8000憑借前沿的設(shè)計理念，成功斬獲紅點設(shè)計理念獎（Red Dot Award: Design Concept）。

優(yōu)可測AM8000紅點獎證書

|精密儀器也能有好設(shè)計

紅點獎成立于1955年，與德國“iF獎”、美國“IDEA獎”并稱為世界三大設(shè)計獎。

優(yōu)可測 AM-8000 白光干涉儀在全球眾多參賽作品中脫穎而出，嶄露頭角，打破了傳統(tǒng)精密儀器 “輕設(shè)計” 的固有認(rèn)知，將精密測量儀器與人性化設(shè)計理念完美融合。

紅點獎官網(wǎng)截圖

|實力，不止于設(shè)計

作為優(yōu)可測ATOMETRICS的旗艦產(chǎn)品，AM-8000的獲獎并非偶然，而是技術(shù)沉淀與創(chuàng)新設(shè)計的結(jié)果。

亞納米級精度，定義國產(chǎn)白光新高度：搭載大量程高速納米壓電陶瓷，最高RMS重復(fù)性可達0.002nm，在任何放大倍數(shù)下實現(xiàn)小于1nm的測量準(zhǔn)確性；搭載了4自由度直驅(qū)電控平臺，平臺的XY行程最大可達300mm，負(fù)載能力提升2.5倍，移動拼接速度提升30%，定位精度提升3倍。

人機友好設(shè)計，精簡測量操作：摒棄傳統(tǒng)手動調(diào)平和對焦，融入一鍵調(diào)平+一鍵對焦，效率提升8倍，讓白光干涉儀的操作門檻顯著降低，不再需要繁瑣復(fù)雜的操作步驟，不再擔(dān)心找不到干涉條紋。并且支持多點位編程、自由測量等批量測量操作和適配多種鏡頭、鏡頭行程自適應(yīng)等大工件測量操作。

全場景適配，賦能多行業(yè)研發(fā)創(chuàng)新：憑借亞納米級精度與高效測量流程，AM-8000廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、5G通訊、微納加工、精密光學(xué)、新能源、液晶顯示等領(lǐng)域，為1000+家高校研究院和企業(yè)提供精密測量解決方案。

|堅守品質(zhì)，賦能中國智造

自2017年板石智能成立以來，旗下品牌優(yōu)可測ATOMETRICS一直專注于為全球客戶提供精密測量儀器與半導(dǎo)體檢測設(shè)備，從技術(shù)研發(fā)到產(chǎn)品設(shè)計，從用戶需求到行業(yè)痛點，每一步都凝聚著對創(chuàng)新的執(zhí)著與對品質(zhì)的堅守。

“以精密測量探索人類未來”為使命，以“成為精密測量引領(lǐng)者”為愿景，未來，優(yōu)可測將繼續(xù)以技術(shù)創(chuàng)新為核心，以設(shè)計美學(xué)為賦能，在精密測量、半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域不斷革新，為全球客戶提供更先進的三維形貌測量解決方案，以一流產(chǎn)品技術(shù)重新定義“中國智造”內(nèi)涵。