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JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測(cè)試儀

east001 ? 來(lái)源:east001 ? 作者:east001 ? 2025-12-03 09:20 ? 次閱讀
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(一)JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測(cè)試儀簡(jiǎn)介
JSD-100 型金屬材料電阻率(微電阻)測(cè)試儀為用于金屬材料的電阻可視化檢測(cè)設(shè)計(jì),由于銀、銅、金、鋁等具有較好導(dǎo)電性,這些金屬材料在日常使用體積范圍時(shí)其電阻值就已經(jīng)很低,通過(guò)下圖可對(duì)其有簡(jiǎn)單概念,當(dāng)金屬材料為長(zhǎng)度10c絲材時(shí),1m材料電阻值對(duì)應(yīng)的材料截面積(圖中數(shù)值為直徑,單位 mm示意圖:

wKgZO2kvjrKAIHY9AACllS8RKn8885.png

當(dāng)材料導(dǎo)電截面積更大時(shí)電阻值更低,測(cè)試儀主要針對(duì)這類低電阻測(cè)試進(jìn)行優(yōu)化,對(duì)純金屬及其合金材料的導(dǎo)電性(電阻/電阻率/電導(dǎo)率)、進(jìn)行高精度、連續(xù)監(jiān)測(cè),并在此基礎(chǔ)上對(duì)電阻溫度系數(shù)(電阻-溫度關(guān)系)、電阻應(yīng)變靈敏系數(shù)(電阻-力關(guān)系)、接觸壓力-接觸電阻關(guān)系等衍生出不同用途的測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)試系統(tǒng)由實(shí)驗(yàn)架臺(tái)(或夾具)、測(cè)試機(jī)箱、計(jì)算機(jī)、測(cè)控軟件等組成。

wKgZO2kvjuKAGd9TAAIObKUYAEI335.png

測(cè)試儀測(cè)量范圍能到I眾,也可用于部分半導(dǎo)體材料的測(cè)量。測(cè)量對(duì)象包括純金屬或合金的絲材、帶材、管材、片材等具有規(guī)則截面積的導(dǎo)體或半導(dǎo)體,樣品也包括厚膜及薄膜導(dǎo)電膜,及可使用四端點(diǎn)測(cè)試夾具的半導(dǎo)體塊體材料。
由于電阻率是材料的基本屬性,與材料純度有緊密關(guān)系,除用于導(dǎo)電性測(cè)量外,也可以做為材料純度的物理判定手段之一。是目前金屬材料研究的科研設(shè)備
配用夾具絲帶材檢測(cè)夾具:用于直徑 1mm 以下的細(xì)絲及窄薄帶材測(cè)量,夾頭鍍金,檢測(cè)長(zhǎng)度可調(diào),樣品快速裝夾絲帶材檢測(cè)夾具:用于直徑 1mm 以下的細(xì)絲及窄薄帶材測(cè)量,夾頭鍍金,檢測(cè)長(zhǎng)度可調(diào),樣品快速裝夾細(xì)絲檢測(cè)夾具:用于直徑 0.1mm 以下的超細(xì)絲測(cè)量,夾頭鍍金,檢測(cè)長(zhǎng)度固定,樣品快速裝夾
四探針檢測(cè)頭:單邊線四探針檢測(cè)探頭,間距1mm,用于薄膜、厚膜及半導(dǎo)體電阻率測(cè)量帶材檢測(cè)夾具:用于厚 1mm、寬 20m 以下的帶材測(cè)量,檢測(cè)長(zhǎng)度固定,夾頭鍍金,檢測(cè)長(zhǎng)度可調(diào),快速裝夾配用軟件
(二)參考標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 351-2019 金屬材料電阻率測(cè)量方法
GB/T 6146-2010 精密電阻合金電阻率測(cè)試方法GB/T 3048.2-2007 電線電纜電性能試驗(yàn)方法 第2部分:金屬材料電阻率試驗(yàn)
(三)主要特點(diǎn)
1.四線法電阻測(cè)試,消除接觸電阻和引線電阻誤差
2.軟件同步顯示檢測(cè)輸出時(shí)基曲線,測(cè)試效果一目了然
3.高精度恒流源,帶最大電流限制,避免自熱效應(yīng),保障測(cè)量精度4.軟件中可同時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理,結(jié)果可打印,數(shù)據(jù)可導(dǎo)出
(四) 主要技術(shù)指標(biāo)

技術(shù)指標(biāo) 技術(shù)參數(shù)
測(cè)試通道數(shù): 1
測(cè)量模式: 四端點(diǎn)測(cè)量/恒流源
電阻量程: 2MΩ-2mΩ(十倍率),400uΩ
電阻分辨率: 0.001uΩ (@400uΩ)
測(cè)試精度: ±0.1%
最高輸出電壓: 9V DC
供電電源: 220V ±10%/50Hz
最大功耗: 60W

(四)金屬導(dǎo)電性
金屬材料由于品格間具有可自由移動(dòng)的電子,均具有良好的導(dǎo)電性能,按照導(dǎo)電性能排序,一些常用材料的參數(shù)如下表:

材料名稱 符號(hào) 電阻率(μΩ.cm 電阻溫度系數(shù)(1/℃ 熔點(diǎn)(℃) 沸點(diǎn)(℃) 密度(g/cm3)
Ag 1.59 0.0038 961 2210 10.49
Cu 1.67 0.0039 1083 2959 8.96
Au 2.35 0.0032 1063 2970 19.32
Al 2.65 0.0043 660 2450 2.7
Zn 5.92 0.0042 420 906 7.13
Fe 9.71 0.0065 1537 3000 7.87
Pt 10.6 0.0039 1769 4530 21.45
Sn 11.0 0.0047 232 2270 7.3
Ti 42.0 0.0041 1668 3260 4.51
錳銅 Cu85Mn12Ni2 48.2 0.000002 - - -
康銅 Cu55Ni45 49 0.00003 - - -
鎳鉻 Fe45Ni35Cr20 100 0.0004 - - -
金鈀鐵鋁 AuPdFeAl 216 -0.000014 - - -
碳(高純) C 3500 -0.0005 3727 4830 2.25
鍺(高純) Ge 0.6Ω.m -0.048 937 2830 5.323
硅(高純) Si 2300Ω.m -0.075 1410 4830 2.25

主要數(shù)據(jù)來(lái)源《二元合金狀態(tài)圖集》《貴金屬》等,環(huán)境溫度為 20℃
電阻率計(jì)算
電阻率為材料的固有特性之一,絲材或截面積均勻的金屬可以利用下面的公式計(jì)算電阻/電阻率:

wKgZO2kvj5qAPVKmAAA6_Qm5scs821.pngwKgZPGkvj7mASmj_AAGUewUaf8o994.png

(五)相關(guān)資料
四端法電阻測(cè)量
四端法也稱為四線法或開(kāi)爾文法,指的是用一對(duì)導(dǎo)線連接一電流源,另一對(duì)導(dǎo)線將被測(cè)電阻的電壓引入數(shù)字多用表進(jìn)行測(cè)量,其測(cè)試原理如下圖所示:

wKgZPGkvj-2AbAmxAACnYzD_5Bg328.png

Ux為對(duì)應(yīng)測(cè)試點(diǎn)得到的電壓信號(hào), R1、R3、R4、R6 分別為四段測(cè)量導(dǎo)線的電阻值及與樣品的接觸電阻,R2、R5為電源(I+/I-)導(dǎo)線端與測(cè)量(U+/U-)導(dǎo)線端間的樣品電阻, 由于測(cè)量端放大器輸入阻抗遠(yuǎn)大于被測(cè)電阻 Rx,而 R3、R4較小,測(cè)量導(dǎo)線上的壓降可以忽略不計(jì),R1、R2、R5、R6 雖然在測(cè)試電流回路中,但測(cè)量?jī)H以測(cè)量端為準(zhǔn)其壓降不會(huì)出現(xiàn)在測(cè)量結(jié)果中。 因而,四端法測(cè)電阻能夠消除接觸電阻和引線電阻的影響。

審核編輯 黃宇

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