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航天原子鐘的電源管理與控制單元抗輻照可靠性評(píng)估

安芯 ? 來(lái)源:jf_29981791 ? 作者:jf_29981791 ? 2026-01-06 21:58 ? 次閱讀
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摘要

航天原子鐘作為導(dǎo)航、通信與科學(xué)探測(cè)任務(wù)的核心時(shí)頻基準(zhǔn),其電源管理與控制單元的抗輻照可靠性直接決定了全系統(tǒng)在空間輻射環(huán)境下的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行能力。本文系統(tǒng)綜述了面向宇航應(yīng)用的電源管理集成電路抗輻照設(shè)計(jì)技術(shù)、評(píng)估方法及在軌驗(yàn)證現(xiàn)狀,重點(diǎn)分析了國(guó)科安芯推出的ASP4644型四通道降壓穩(wěn)壓器在總劑量效應(yīng)、單粒子效應(yīng)及破壞性物理分析中的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù),并結(jié)合AS32S601型MCU控制單元的協(xié)同抗輻照性能評(píng)估,構(gòu)建了航天級(jí)原子鐘電源管理與控制單元的可靠性評(píng)價(jià)體系。

1. 引言

航天級(jí)原子鐘作為衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)、深空探測(cè)及基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵載荷,其秒級(jí)穩(wěn)定度與長(zhǎng)期漂移性能對(duì)系統(tǒng)整體指標(biāo)具有決定性影響??臻g輻射環(huán)境包含地球輻射帶質(zhì)子、銀河宇宙射線(xiàn)重離子及太陽(yáng)粒子事件產(chǎn)生的高能粒子,這些粒子與半導(dǎo)體器件相互作用可引發(fā)總劑量效應(yīng)、單粒子效應(yīng)、位移損傷效應(yīng)等多種輻射損傷,導(dǎo)致器件電參數(shù)退化、功能失效甚至永久性損壞。電源管理與控制單元作為原子鐘系統(tǒng)的"能量供給與調(diào)控中樞",其抗輻照可靠性直接關(guān)系到原子鐘物理系統(tǒng)、微波鏈路與溫控系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行,是整星任務(wù)成敗的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

傳統(tǒng)航天電源方案多采用國(guó)外宇航級(jí)分立器件或混合集成電路,存在供應(yīng)鏈風(fēng)險(xiǎn)與技術(shù)封鎖隱患。隨著我國(guó)商業(yè)航天與自主可控戰(zhàn)略推進(jìn),基于國(guó)產(chǎn)企業(yè)宇航級(jí)器件的集成化電源管理方案逐步成熟。ASP4644型四通道降壓穩(wěn)壓器作為典型代表,在BGA77緊湊封裝內(nèi)集成四路獨(dú)立DC-DC通道,單路輸出能力達(dá)4A(峰值5A),支持4V14V寬輸入范圍與0.6V5.5V精密輸出,已通過(guò)AEC-Q100 Grade 1車(chē)規(guī)認(rèn)證與企業(yè)宇航級(jí)抗輻照考核。

2. 航天級(jí)電源管理IC抗輻照技術(shù)現(xiàn)狀

2.1 總劑量效應(yīng)與器件退化機(jī)制

總劑量效應(yīng)源于電離輻射在氧化物中累積的陷阱電荷與界面態(tài),導(dǎo)致MOSFET閾值電壓漂移、漏電流增加及跨導(dǎo)退化。根據(jù)GJB 548C-2023與QJ 10004A-2018標(biāo)準(zhǔn),宇航器件需承受不低于100 krad(Si)的累計(jì)劑量,且退火后性能不得劣化。

ASP4644S2B型器件在北京大學(xué)技術(shù)物理系鈷60源平臺(tái)開(kāi)展的總劑量試驗(yàn)(劑量率25 rad(Si)/s)表明,其在150 krad(Si)累計(jì)劑量輻照后,關(guān)鍵參數(shù)如靜態(tài)電流、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率及輸出紋波均未超出規(guī)范限值。輻照前后12V輸入、1.5V輸出工況下輸入電流穩(wěn)定在72 mA,輸出電壓精度保持±2%以?xún)?nèi),證實(shí)其內(nèi)部LDO穩(wěn)壓器與帶隙基準(zhǔn)電路的抗TID設(shè)計(jì)有效性。試驗(yàn)后168小時(shí)高溫退火(125℃)驗(yàn)證,器件未出現(xiàn)遲滯性退化,滿(mǎn)足"退火后性能均合格"的宇航失效判據(jù)。

值得注意的是,ASP4644采用SMIC 0.18μm BCD工藝,其柵氧厚度與場(chǎng)氧隔離結(jié)構(gòu)經(jīng)過(guò)抗輻照加固設(shè)計(jì),結(jié)合內(nèi)部3.3V LDO(VINTVCC)的獨(dú)立供電架構(gòu),有效隔離了功率MOSFET柵氧電荷陷阱對(duì)控制電路耦合干擾。這種"功率-控制分區(qū)供電"設(shè)計(jì)策略在總劑量試驗(yàn)中表現(xiàn)出優(yōu)良的魯棒性,輸入電流變化率<1%,顯著優(yōu)于傳統(tǒng)非加固商用器件10%~30%的退化水平。

2.2 單粒子效應(yīng)與瞬態(tài)擾動(dòng)抑制

單粒子效應(yīng)分為單粒子翻轉(zhuǎn)、單粒子鎖定、單粒子燒毀等功能性與破壞性失效。質(zhì)子單粒子試驗(yàn)在北京原子能科學(xué)研究院100 MeV回旋加速器上實(shí)施,注量率1×10? p/(cm2·s),總注量達(dá)1×101? p/cm2。ASP4644S2B在此極端條件下未觀(guān)測(cè)到輸出電壓瞬態(tài)跌落、PGOOD誤觸發(fā)或限流保護(hù)異常動(dòng)作,證實(shí)其電流模式控制架構(gòu)與快速瞬態(tài)響應(yīng)電路對(duì)單粒子電荷收集效應(yīng)的有效抑制。

重離子單粒子試驗(yàn)采用中國(guó)原子能科學(xué)研究院H-13串列加速器的74Ge離子(LET=37.4 MeV·cm2/mg),注量8.3×10? ion/cm2。試驗(yàn)中器件工作電流在輻照初期緩慢上升至300 mA限流值,但停束后電流回降至正常值,未發(fā)生不可逆的SEL或SEB。輸出電壓在輻照全程保持1.5V±0.5%穩(wěn)定,表明內(nèi)部過(guò)流保護(hù)模塊與熱關(guān)斷電路對(duì)單粒子誘導(dǎo)閂鎖的主動(dòng)防御能力。該結(jié)果與脈沖激光模擬試驗(yàn)中觀(guān)察到的"電流瞬增-停束恢復(fù)"特征一致,驗(yàn)證了其SEL閾值>37.4 MeV·cm2/mg的設(shè)計(jì)指標(biāo)。

從機(jī)理上分析,ASP4644在每個(gè)通道集成獨(dú)立的過(guò)溫保護(hù)與峰值電流限制(IOUTPK=8A),當(dāng)單粒子瞬態(tài)電流超過(guò)閾值時(shí),內(nèi)部比較器在40 ns最小導(dǎo)通時(shí)間內(nèi)快速關(guān)斷頂部MOSFET,并結(jié)合70 ns最小關(guān)斷時(shí)間實(shí)現(xiàn)電感能量泄放。這種"快速檢測(cè)-硬關(guān)斷"機(jī)制避免了傳統(tǒng)慢速保護(hù)電路在單粒子事件中的響應(yīng)滯后問(wèn)題,是其實(shí)現(xiàn)高SEL閾值的核心技術(shù)。

3. ASP4644電源管理方案的技術(shù)特性分析

3.1 多通道并聯(lián)與均流技術(shù)

航天級(jí)原子鐘通常需要多路隔離電源:物理系統(tǒng)加熱器(12V/5A)、微波鏈路(5V/3A)、溫控TEC(3.3V/8A)及數(shù)字控制電路(1.2V/2A)。ASP4644的四通道架構(gòu)支持靈活并聯(lián),通過(guò)COMP引腳連接實(shí)現(xiàn)多相均流,有效降低單通道電流應(yīng)力與輸出紋波。

根據(jù)規(guī)格書(shū),四通道并聯(lián)模式下相位差設(shè)置為0°、90°、180°、270°,配合外部162kΩ頻率設(shè)定電阻(fOSC=0.84 MHz),可將等效開(kāi)關(guān)頻率提升至3.36 MHz,顯著減小輸出電容體積。試驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示,在12V輸入、1.2V/16A輸出工況下,僅需22μF陶瓷輸入電容與47μF×3陶瓷輸出電容即可實(shí)現(xiàn)145 mV動(dòng)態(tài)負(fù)載跳變峰值,滿(mǎn)足原子鐘微波鏈路的瞬態(tài)響應(yīng)要求。均流精度方面,內(nèi)部60.4kΩ精密反饋電阻網(wǎng)絡(luò)與電流模式控制的結(jié)合,使四通道間電流不平衡度<5%,避免因均流失控導(dǎo)致的局部過(guò)熱與可靠性降級(jí)。

具體工程應(yīng)用中,四通道可配置為多種工作模式。例如,通道1與通道2可并聯(lián)為加熱器提供12V/8A輸出,通道3獨(dú)立為微波鏈路提供5V/4A,通道4為數(shù)字電路提供1.2V/4A。這種分區(qū)供電策略實(shí)現(xiàn)了功率通路隔離,避免了加熱器大電流開(kāi)關(guān)噪聲對(duì)微波鏈路的耦合干擾。直流電阻僅1.0 mΩ,飽和電流達(dá)15A,在-55℃至+125℃寬溫范圍內(nèi)電感量波動(dòng)<5%,確保了極端環(huán)境下均流穩(wěn)定性。

3.2 軟啟動(dòng)與電壓跟蹤的精密控制

原子鐘物理系統(tǒng)的啟動(dòng)時(shí)序要求嚴(yán)格:加熱器電源需緩慢爬升以避免熱沖擊,微波源電壓需與溫控系統(tǒng)同步建立。ASP4644的TRACK/SS引腳提供2.5μA恒流源,外部電容CSS可編程軟啟動(dòng)時(shí)間tSS=0.6·CSS/2.5μA。當(dāng)CSS=0.1μF時(shí),tSS=24 ms,與典型原子鐘加熱器啟動(dòng)曲線(xiàn)匹配。軟啟動(dòng)過(guò)程中,輸出電壓按指數(shù)規(guī)律單調(diào)上升,避免了傳統(tǒng)開(kāi)關(guān)電源啟動(dòng)時(shí)的過(guò)沖與振蕩,保護(hù)原子鐘物理腔體免受電壓應(yīng)力損傷。

電壓跟蹤功能允許多路輸出按比例或重合跟蹤主電源。在TY29衛(wèi)星的實(shí)際應(yīng)用中,3.3V主電源(VOUT1)與2.5V、1.8V、1.2V從電源(VOUT2~4)采用比例跟蹤,通過(guò)RTR(TOP)/RTR(BOT)分壓網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)擺率匹配,確保各模組同步上電,避免了因時(shí)序錯(cuò)亂導(dǎo)致的原子鐘微波頻率跳變。試驗(yàn)測(cè)得跟蹤精度±2%,優(yōu)于傳統(tǒng)分立方案±5%的分散性。跟蹤誤差主要來(lái)源于TRACK/SS引腳2.5μA電流源的溫度系數(shù)(典型值±10%),可通過(guò)選用NP0/C0G溫度補(bǔ)償電容進(jìn)行優(yōu)化,將全溫區(qū)跟蹤精度提升至±1%以?xún)?nèi)。

對(duì)于冷原子鐘系統(tǒng),軟啟動(dòng)時(shí)間需延長(zhǎng)至100 ms以上以匹配磁光阱(MOT)的物理過(guò)程。此時(shí)可選用1μF陶瓷電容,tSS達(dá)240 ms,同時(shí)需考慮漏電流對(duì)啟動(dòng)時(shí)序的影響。規(guī)格書(shū)明確建議采用X7R或X5R介質(zhì)電容,其絕緣電阻>10 GΩ,漏電流<2.5 nA,引入的時(shí)序誤差<0.1%,滿(mǎn)足精密控制要求。

3.3 故障診斷與健康管理

PGOOD開(kāi)漏輸出與RUN使能引腳構(gòu)成完善的故障診斷鏈。當(dāng)任一通道輸出電壓偏離±10%窗口,PGOOD拉低并觸發(fā)中斷;RUN引腳閾值1.2V(典型值)支持外部監(jiān)控電路快速關(guān)斷故障通道。在軌應(yīng)用表明,該機(jī)制可在100μs內(nèi)響應(yīng)電源異常,為原子鐘系統(tǒng)提供"故障-安全"保障。PGOOD消隱延遲設(shè)計(jì)避免了動(dòng)態(tài)負(fù)載跳變期間的誤觸發(fā),其內(nèi)部濾波時(shí)間常數(shù)約5 ms,在保證故障檢測(cè)靈敏度的同時(shí)抑制了暫態(tài)干擾。

RUN引腳的雙閾值設(shè)計(jì)(0.7V開(kāi)啟內(nèi)部基準(zhǔn),1.2V啟動(dòng)功率級(jí))支持智能待機(jī)模式。在原子鐘長(zhǎng)期守時(shí)階段,可將非關(guān)鍵通道(如加熱器)置于待機(jī)狀態(tài),靜態(tài)電流從5 mA降至220 μA,整星功耗降低3W以上。重啟時(shí),內(nèi)部基準(zhǔn)建立時(shí)間約30 μs,功率級(jí)軟啟動(dòng)24 ms,總恢復(fù)時(shí)間<25 ms,不影響原子鐘重新鎖定時(shí)間。

4. 控制單元的抗輻照協(xié)同設(shè)計(jì)

4.1 AS32S601 MCU的輻射加固特性

原子鐘控制單元需實(shí)現(xiàn)溫度PID調(diào)節(jié)、微波頻率鎖定、健康狀態(tài)遙測(cè)等功能,其MCU的抗輻照性能同樣關(guān)鍵。AS32S601型32位RISC-V MCU基于UMC 55nm工藝,配備ECC保護(hù)SRAM寄存器文件,在150 krad(Si)總劑量與100 MeV質(zhì)子輻照下未出現(xiàn)功能中斷。其電源管理模塊內(nèi)置多路LDO,為內(nèi)核(1.2V)、外設(shè)(2.5V)與I/O(3.3V)獨(dú)立供電,與ASP4644的供電架構(gòu)形成"二級(jí)穩(wěn)壓"級(jí)聯(lián),有效抑制電源軌上的單粒子瞬態(tài)噪聲。

功耗測(cè)試顯示,180 MHz全速運(yùn)行時(shí)電流為165 mA,深度睡眠模式降至0.3 mA,支持原子鐘長(zhǎng)壽命、低功耗在軌運(yùn)行需求。內(nèi)核電壓1.2V由PMB模塊內(nèi)部LDO提供,負(fù)載調(diào)整率80 mV/A,線(xiàn)性調(diào)整率15 mV/V,與ASP4644的負(fù)載調(diào)整率0.4%形成互補(bǔ),確保在輸入母線(xiàn)波動(dòng)時(shí)原子鐘控制算法的穩(wěn)定性。

在軟件層面,MCU采用三模冗余(TMR)與看門(mén)狗定時(shí)器(WDT)相結(jié)合的加固策略。關(guān)鍵控制環(huán)路(如溫度PID)的運(yùn)算結(jié)果在三個(gè)寄存器組中同步執(zhí)行,每1 ms進(jìn)行一次多數(shù)表決,單粒子翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致的軟錯(cuò)誤可在10 ms內(nèi)被糾正,不發(fā)送至執(zhí)行器。WDT超時(shí)時(shí)間設(shè)置為50 ms,當(dāng)單粒子鎖定導(dǎo)致程序跑飛時(shí),強(qiáng)制復(fù)位并重新加載FLASH中的備份參數(shù)。

4.2 系統(tǒng)級(jí)電磁兼容與熱設(shè)計(jì)

PCB布局方面,ASP4644規(guī)格書(shū)明確建議:采用大面積銅箔連接VIN、GND、VOUT引腳,輸入/輸出陶瓷電容就近放置,SGND與GND單點(diǎn)連接。這些措施可降低功率回路寄生電感至2 nH以下,抑制單粒子瞬態(tài)感應(yīng)電壓。建議采用6層板設(shè)計(jì),其中2層為完整接地平面,2層為電源平面,布局時(shí)ASP4644下方禁止走線(xiàn),確保散熱路徑暢通。

熱分析表明,在自然對(duì)流條件下θJA=16.5℃/W,四通道滿(mǎn)載(4×4A)時(shí)功耗約3.2W,結(jié)溫升約53℃,滿(mǎn)足125℃工作上限。在真空環(huán)境下,熱傳導(dǎo)路徑主要依賴(lài)PCB銅箔,建議增加散熱過(guò)孔陣列(直徑0.3 mm,間距1 mm),將結(jié)至板熱阻θJB從4.3℃/W降至2.5℃/W,確保在100℃基板溫度下結(jié)溫<115℃。

電磁兼容設(shè)計(jì)需重點(diǎn)關(guān)注開(kāi)關(guān)噪聲輻射。ASP4644四通道180°交錯(cuò)工作模式將輸入電流紋波頻率提升至1.68 MHz,幅值降低60 dB,簡(jiǎn)化EMI濾波器設(shè)計(jì)。建議在輸入側(cè)增加共模扼流圈(100 μH)與X2Y電容(10 nF),將CE102傳導(dǎo)發(fā)射抑制在GJB 151B限值以下15 dB。輸出側(cè)磁珠(600 Ω@100 MHz)與陶瓷電容(100 nF)組合,可將原子鐘微波鏈路的電源噪聲本底降低至-160 dBc/Hz@1 kHz偏移,滿(mǎn)足銣原子鐘短期穩(wěn)定度要求。

5. 在軌驗(yàn)證與可靠性數(shù)據(jù)積累

5.1 天儀衛(wèi)星的在軌實(shí)證

ASP4644S2B于2025年5月搭載TY29高光譜地質(zhì)遙感衛(wèi)星與TY35光學(xué)遙感衛(wèi)星入軌,至今運(yùn)行正常。在軌遙測(cè)數(shù)據(jù)顯示,其414V輸入范圍完美適配衛(wèi)星平臺(tái)6.58.5V母線(xiàn)波動(dòng),四路并聯(lián)輸出16A為原子鐘溫控系統(tǒng)與微波鏈路供電,輸出電壓穩(wěn)定度±0.5%,紋波<5 mV,SEU/SEL指標(biāo)≥75 MeV·cm2/mg,達(dá)到企業(yè)宇航級(jí)預(yù)期。

特別地,在2025年7月的一次太陽(yáng)風(fēng)暴期間(質(zhì)子通量增強(qiáng)約兩個(gè)數(shù)量級(jí)),ASP4644輸出電壓未出現(xiàn)可觀(guān)測(cè)擾動(dòng),證實(shí)了其抗太陽(yáng)粒子事件能力。這一在軌事件與地面試驗(yàn)中100 MeV質(zhì)子注量1×101? p/cm2的考核結(jié)果形成閉環(huán)驗(yàn)證,建立了"地面試驗(yàn)-在軌考核"的可靠性評(píng)估鏈條。在軌數(shù)據(jù)還顯示,器件工作電流與溫度呈現(xiàn)周期性變化,與衛(wèi)星進(jìn)出地影區(qū)一致,但電流波動(dòng)幅度<5%,表明內(nèi)部補(bǔ)償電路有效抑制了溫漂。

5.2 失效模式與壽命預(yù)測(cè)

基于退化物理模型,ASP4644內(nèi)部功率MOSFET的柵氧電荷陷阱密度隨總劑量的增長(zhǎng)符合冪律關(guān)系:ΔVth∝D^0.6,其中D為累計(jì)劑量。在300 krad(Si)的設(shè)計(jì)裕度下,20年GEO軌道任務(wù)(總劑量約50 krad(Si))的閾值漂移<50 mV,對(duì)輸出電壓精度的影響可忽略。電感磁芯的損耗在125℃下運(yùn)行20年,磁導(dǎo)率下降<3%,引起的效率降低在可接受范圍內(nèi)。

焊點(diǎn)可靠性采用Coffin-Manson模型評(píng)估,在-40℃至+125℃熱循環(huán)(ΔT=165℃)下,SAC305焊點(diǎn)的熱疲勞壽命約為12,000次循環(huán)。原子鐘系統(tǒng)在軌每日4次熱循環(huán),20年累計(jì)29,200次,超過(guò)焊點(diǎn)壽命。實(shí)際應(yīng)用中需將ASP4644置于整星溫控艙內(nèi),維持溫度波動(dòng)<40℃,可將熱應(yīng)力降低至安全范圍。

6. 面向原子鐘應(yīng)用的工程化設(shè)計(jì)考量

6.1 多物理場(chǎng)耦合分析

原子鐘物理腔體的溫度穩(wěn)定度要求±0.1℃,對(duì)應(yīng)加熱器功率調(diào)節(jié)分辨率需達(dá)到50 mW。ASP4644的PWM調(diào)制分辨率受限于振蕩器頻率0.84 MHz與最小導(dǎo)通時(shí)間40 ns,理論分辨率約3.4%。實(shí)際工程中需采用外部補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò),在COMP引腳注入小幅抖動(dòng)信號(hào),通過(guò)Σ-Δ調(diào)制將等效分辨率提升至0.1%,滿(mǎn)足精密溫控要求。該方案已在TY29衛(wèi)星驗(yàn)證,溫度控制殘差<0.05℃。

熱-電耦合方面,功率MOSFET導(dǎo)通電阻Ron的溫度系數(shù)約4000 ppm/℃,在125℃時(shí)Ron較25℃增加33%,導(dǎo)致效率下降2%。為補(bǔ)償此效應(yīng),ASP4644內(nèi)部集成溫度傳感器,通過(guò)正溫度系數(shù)電流源調(diào)整驅(qū)動(dòng)電壓,使Ron隨溫度的變化率降低至±5%以?xún)?nèi),確保全溫區(qū)效率>85%。

6.2 冗余架構(gòu)與故障重構(gòu)

對(duì)于長(zhǎng)壽命原子鐘系統(tǒng),建議采用"主備ASP4644+固態(tài)繼電器切換"架構(gòu)。主備器件通過(guò)ORing二極管并聯(lián),當(dāng)主份PGOOD持續(xù)低電平超過(guò)10 ms時(shí),MCU通過(guò)GPIO驅(qū)動(dòng)光耦切換至備份通道。切換過(guò)程中輸出電壓跌落<100 mV,持續(xù)時(shí)間<1 ms,原子鐘可保持鎖定狀態(tài)。該架構(gòu)在地面熱真空試驗(yàn)中通過(guò)500次切換考核,切換成功率100%。

系統(tǒng)級(jí)冗余還需考慮通信冗余。AS32S601的4路CAN FD接口可配置為兩路交叉冗余,分別連接主備ASP4644的實(shí)時(shí)狀態(tài)(輸出電壓、電流、溫度),并通過(guò)第三路CAN上報(bào)整鐘健康狀態(tài)。當(dāng)兩路監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)差異>5%時(shí),判定為單粒子翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致的寄存器錯(cuò)誤,啟動(dòng)TMR表決與EDAC糾錯(cuò),確保控制指令正確性。

6.3 健康管理與壽命預(yù)測(cè)

結(jié)合AS32S601的12位ADC與DSU加密模塊,可構(gòu)建ASP4644的在線(xiàn)健康監(jiān)測(cè)體系。采樣率設(shè)為1 Hz,監(jiān)測(cè)量包括四路輸出電壓、VINTVCC、TEMP引腳電壓及PGOOD狀態(tài)。數(shù)據(jù)經(jīng)AES-256加密后存儲(chǔ)于帶ECC的Flash中,防止單粒子翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)污染。監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)地面站定期下傳,建立壽命預(yù)測(cè)模型。

基于退化物理模型,ASP4644內(nèi)部功率MOSFET的柵氧電荷陷阱密度隨總劑量的增長(zhǎng)符合冪律關(guān)系。在300 krad(Si)的設(shè)計(jì)裕度下,20年GEO軌道任務(wù)(總劑量約50 krad(Si))的閾值漂移小于50 mV,對(duì)輸出電壓精度的影響可忽略。健康管理算法采用粒子濾波器融合總劑量監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)(通過(guò)星載輻射劑量計(jì))與電參數(shù)退化趨勢(shì),提前6個(gè)月預(yù)測(cè)潛在失效,為在軌維護(hù)提供決策依據(jù)。

7. 結(jié)論

本文通過(guò)系統(tǒng)梳理ASP4644型四通道降壓穩(wěn)壓器的抗輻照試驗(yàn)數(shù)據(jù)與在軌驗(yàn)證結(jié)果,構(gòu)建了面向航天級(jí)原子鐘電源管理與控制單元的可靠性評(píng)估體系?;?50 krad(Si)總劑量、100 MeV質(zhì)子及37.4 MeV·cm2/mg重離子的完整考核,結(jié)合TY29/35衛(wèi)星在軌飛行數(shù)據(jù),證實(shí)該器件滿(mǎn)足企業(yè)宇航級(jí)原子鐘的電源管理需求。其與AS32S601 MCU的協(xié)同設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)級(jí)抗輻照加固,并通過(guò)健康管理與冗余架構(gòu)可將任務(wù)可靠性提升至0.9999以上。

審核編輯 黃宇

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