在醫(yī)療成像、工業(yè)CT無損檢測(cè)、工業(yè)精密儀器測(cè)量中，ADC都必不可少。它能將連續(xù)變化的模擬信號(hào)，轉(zhuǎn)化為芯片可讀懂的數(shù)字代碼。

而在一眾ADC架構(gòu)中，SAR ADC是工程師們?cè)谥械筒蓸勇蕡?chǎng)景中的優(yōu)選產(chǎn)品：它架構(gòu)簡(jiǎn)潔、功耗低、采樣率適配多數(shù)工業(yè)與消費(fèi)場(chǎng)景，還能以高性價(jià)比實(shí)現(xiàn)不錯(cuò)的轉(zhuǎn)換精度。

不過，在實(shí)際項(xiàng)目中，SAR ADC的性能上限往往會(huì)卡在模擬前端電路設(shè)計(jì)上：

采樣保持電路的充電不充分會(huì)引發(fā)采樣誤差；

采樣與保持階段切換時(shí)的kick back電壓會(huì)干擾信號(hào)；

運(yùn)放帶寬與噪聲的選型失誤會(huì)拉低整體性能；

這些前端難題一旦沒解決，SAR ADC的固有優(yōu)勢(shì)就會(huì)大打折扣。

針對(duì)上述設(shè)計(jì)痛點(diǎn)，深耕ADC領(lǐng)域多年的 MPS，系統(tǒng)性地打磨出一套完整解決方案，并在近日的專題直播中與廣大工程師進(jìn)行了深度分享。

直播介紹

本次直播不僅深入解析了 SAR ADC 的核心技術(shù)，更直擊采樣誤差的產(chǎn)生機(jī)制，同時(shí)展示了 MPS 多款A(yù)DC芯片的專屬設(shè)計(jì)方案。

從SAR ADC模擬前端的巧思設(shè)計(jì)，到覆蓋多場(chǎng)景的產(chǎn)品矩陣，不僅解決了實(shí)際應(yīng)用中的技術(shù)難題，還適配從儀表控制到傳感測(cè)量的多樣需求。

無論您專注于工業(yè)測(cè)控、醫(yī)療設(shè)備、安防成像還是新能源領(lǐng)域，這場(chǎng)直播都將為您帶來切實(shí)可用的設(shè)計(jì)洞見與產(chǎn)品方案。