SN74ABT18652：18位收發(fā)器與寄存器掃描測(cè)試設(shè)備的深度解析

在當(dāng)今復(fù)雜的電子電路設(shè)計(jì)中，對(duì)測(cè)試設(shè)備的要求越來(lái)越高，尤其是對(duì)于那些需要進(jìn)行邊界掃描測(cè)試的電路板組件。德州儀器（Texas Instruments）的SN74ABT18652掃描測(cè)試設(shè)備，憑借其獨(dú)特的功能和出色的性能，成為了電子工程師們的得力助手。今天，我們就來(lái)深入了解一下這款設(shè)備。

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產(chǎn)品概述

SN74ABT18652是德州儀器SCOPE?可測(cè)試性集成電路家族的一員，它集成了18位總線收發(fā)器和寄存器，并且與IEEE Std 1149.1 - 1990（JTAG）測(cè)試訪問(wèn)端口和邊界掃描架構(gòu)兼容。這使得它能夠方便地對(duì)復(fù)雜的電路板組件進(jìn)行測(cè)試，大大提高了測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。

核心特性

• 豐富的指令集：支持IEEE Std 1149.1 - 1990所需的指令，還包括可選的INTEST、P1149.1A CLAMP和HIGHZ指令。此外，它還具備并行簽名分析、偽隨機(jī)模式生成、采樣輸入/切換輸出、二進(jìn)制計(jì)數(shù)以及設(shè)備識(shí)別等功能，為測(cè)試提供了更多的靈活性和可能性。
• 雙邊界掃描單元：每個(gè)I/O端口配備兩個(gè)邊界掃描單元（BSCs），可以獨(dú)立捕獲和控制A或B總線上的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)一步增強(qiáng)了測(cè)試的靈活性。

工作模式

正常模式

在正常模式下，SN74ABT18652就像一個(gè)靈活的18位總線收發(fā)器和寄存器。它既可以作為兩個(gè)9位收發(fā)器使用，也可以作為一個(gè)18位收發(fā)器使用，能夠?qū)崿F(xiàn)數(shù)據(jù)從輸入總線或內(nèi)部寄存器的多路復(fù)用傳輸。

數(shù)據(jù)的流向由時(shí)鐘（CLKAB和CLKBA）、選擇（SAB和SBA）和輸出使能（OEAB和OEBA）輸入控制。例如，在A到B的數(shù)據(jù)傳輸中，當(dāng)CLKAB從低到高轉(zhuǎn)換時(shí)，A總線上的數(shù)據(jù)會(huì)被時(shí)鐘信號(hào)鎖存到相關(guān)寄存器中。當(dāng)SAB為低電平時(shí)，實(shí)時(shí)的A數(shù)據(jù)會(huì)被選中并傳輸?shù)紹總線（透明模式）；當(dāng)SAB為高電平時(shí)，存儲(chǔ)的A數(shù)據(jù)會(huì)被選中并傳輸?shù)紹總線（寄存器模式）。當(dāng)OEAB為高電平時(shí)，B輸出有效；當(dāng)OEAB為低電平時(shí)，B輸出處于高阻抗?fàn)顟B(tài)。B到A的數(shù)據(jù)傳輸控制類似，只是使用CLKBA、SBA和OEBA輸入。

測(cè)試模式

當(dāng)進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，SCOPE總線收發(fā)器和寄存器的正常操作會(huì)被禁止，測(cè)試電路被啟用，用于觀察和控制設(shè)備的I/O邊界。此時(shí)，測(cè)試電路可以根據(jù)IEEE Std 1149.1 - 1990協(xié)議執(zhí)行邊界掃描測(cè)試操作。

四個(gè)專用測(cè)試引腳（測(cè)試數(shù)據(jù)輸入TDI、測(cè)試數(shù)據(jù)輸出TDO、測(cè)試模式選擇TMS和測(cè)試時(shí)鐘TCK）用于觀察和控制測(cè)試電路的操作。此外，測(cè)試電路還可以對(duì)數(shù)據(jù)輸入進(jìn)行并行簽名分析，從數(shù)據(jù)輸出生成偽隨機(jī)模式。所有的測(cè)試和掃描操作都與測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP）接口同步。

電氣特性與參數(shù)

絕對(duì)最大額定值

了解設(shè)備的絕對(duì)最大額定值對(duì)于確保設(shè)備的安全和可靠性至關(guān)重要。SN74ABT18652的絕對(duì)最大額定值包括：

• 電源電壓范圍：在特定條件下有明確的限制，一般要注意輸入電壓范圍，除I/O端口外和I/O端口的電壓范圍有所不同，分別有相應(yīng)的規(guī)定。
• 輸出電壓和電流：輸出在高電平或斷電狀態(tài)下的電壓范圍，以及低電平狀態(tài)下的電流都有明確的限制。
• 其他參數(shù)：如輸入鉗位電流、輸出鉗位電流、封裝熱阻、存儲(chǔ)溫度范圍等也都有相應(yīng)的規(guī)定。需要注意的是，超過(guò)這些絕對(duì)最大額定值可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備永久性損壞。

推薦工作條件

為了使設(shè)備能夠穩(wěn)定、可靠地工作，需要遵循推薦的工作條件。這些條件包括電源電壓、輸入電壓、時(shí)鐘頻率、脈沖持續(xù)時(shí)間、建立時(shí)間、保持時(shí)間等。例如，正常模式下時(shí)鐘頻率（CLKAB或CLKBA）的最小值為100MHz，測(cè)試模式下測(cè)試時(shí)鐘（TCK）的最大值為50MHz。

電氣特性

在推薦的工作條件下，SN74ABT18652的電氣特性表現(xiàn)出色。例如，輸入電流、輸出電壓、輸出電流等參數(shù)都有明確的規(guī)范。這些參數(shù)對(duì)于電路設(shè)計(jì)和性能評(píng)估非常重要，工程師們?cè)谠O(shè)計(jì)電路時(shí)需要根據(jù)這些參數(shù)進(jìn)行合理的選擇和調(diào)整。

封裝與訂購(gòu)信息

SN74ABT18652提供LQFP - PM封裝，采用托盤包裝。訂購(gòu)時(shí)，對(duì)應(yīng)的型號(hào)為SN74ABT18652PM，頂部標(biāo)記為ABT18652。此外，關(guān)于封裝圖紙、標(biāo)準(zhǔn)包裝數(shù)量、熱數(shù)據(jù)、符號(hào)表示和PCB設(shè)計(jì)指南等信息，可以在德州儀器的官方網(wǎng)站（www.ti.com/sc/package）上獲取。

總結(jié)

SN74ABT18652掃描測(cè)試設(shè)備以其豐富的功能、靈活的工作模式和出色的電氣特性，為電子工程師們提供了一個(gè)強(qiáng)大的測(cè)試解決方案。無(wú)論是在復(fù)雜電路板的測(cè)試中，還是在對(duì)數(shù)據(jù)傳輸和控制有較高要求的應(yīng)用中，它都能夠發(fā)揮重要的作用。作為電子工程師，我們?cè)谑褂眠@款設(shè)備時(shí)，需要充分了解其特性和參數(shù)，合理設(shè)計(jì)電路，以確保設(shè)備能夠穩(wěn)定、可靠地工作。大家在實(shí)際應(yīng)用中有沒(méi)有遇到過(guò)類似設(shè)備的使用問(wèn)題呢？歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。