R&S?ZNA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以在真實(shí)工作條件下執(zhí)行大功率放大器測試。

外部大功率測試設(shè)置示例：使用 R&S?ZNA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的直接通道接入選件與信號源和接收機(jī)步進(jìn)衰減器。
您的任務(wù)
測量放大器的特性是一個(gè)復(fù)雜的難題，將測試設(shè)備的性能推向極限。全面評估放大器的性能涉及不同的測試參數(shù)和設(shè)置，要求測試設(shè)備要非常靈活耐用。挑戰(zhàn)來源于以下幾個(gè)方面：
處理大功率電平，支持外部大功率測試設(shè)置
確保功率電平穩(wěn)定并補(bǔ)償漂移
提供多個(gè)載波以進(jìn)行互調(diào)測試，包括 Hot S22 熱態(tài)測試
在脈沖條件下進(jìn)行測量
羅德與施瓦茨解決方案
R&S?ZNA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配有可靈活配置的硬件架構(gòu)、每端口信號源概念和各種軟件應(yīng)用，是適合大功率測試的功能強(qiáng)大的一體化解決方案：
配備直接通道接入選件與信號源和接收機(jī)步進(jìn)衰減器時(shí)，R&S?ZNA 支持單獨(dú)的外部大功率測試設(shè)置（通常帶有正向和反向外部前置放大器、大功率耦合器、固定衰減器和環(huán)行器）
基于自動(dòng)電平控制 (ALC) 的 100 dB 功率掃描范圍和高線性度接收機(jī)確保高精度測試
從測試設(shè)置獲取參考信號（通常在前置放大器之后或在被測設(shè)備輸出端），確保平坦的電平，并且可以在非常短的控制時(shí)間內(nèi)進(jìn)行調(diào)整。

R&S?ZNA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
特性和優(yōu)勢
多達(dá)四個(gè)可獨(dú)立配置的內(nèi)部直接數(shù)字合成 (DDS) 信號源和一個(gè)內(nèi)部合路器，能夠全速執(zhí)行互調(diào)測試（無需外部信號源），確保靈活配置，并在放大器工作條件下執(zhí)行 S22測量（“Hot S22”測試）
獨(dú)特的 100 dB 功率掃描范圍、衰減器和壓縮點(diǎn)功能，可以在寬功率范圍內(nèi)進(jìn)行壓縮評估，包括實(shí)時(shí)壓縮點(diǎn)評估
數(shù)字自動(dòng)電平控制 (ALC) 覆蓋完整的 100 dB 功率掃描范圍，支持任意參考信號接入（即使在外部升壓放大器之后），確保使用外部前置放大器時(shí)也能提供準(zhǔn)確穩(wěn)定的激勵(lì)功率
掃描模式組合，支持幅度和頻率偏移掃描測量，包括 AM/AM 和 AM/PM 測試
控制外部電源裝置，可以執(zhí)行功率附加效率 (PAE) 測試
四個(gè)集成式脈沖調(diào)制器和脈沖包絡(luò)測試選件，支持大功率脈內(nèi)點(diǎn)測試和脈沖包絡(luò)分析
擴(kuò)展
除了上述設(shè)置和測量參數(shù)外，還可以搭配合作伙伴的系統(tǒng)進(jìn)行擴(kuò)展，例如執(zhí)行晶圓上芯片特性測量、不匹配放大器的阻抗調(diào)諧、有源/混合諧波負(fù)載牽引測試和噪聲系數(shù)/噪聲參數(shù)測試。
總結(jié)
R&S?ZNA 采用可配置的硬件架構(gòu)，支持用戶量身設(shè)計(jì)的個(gè)性化大功率測試設(shè)置。分析儀提供基于 ALC 的 100 dB 電子功率掃描范圍和出色的線性度規(guī)格，確保結(jié)果高度精確和可靠。搭配 Focus Microwaves 和 Maury Microwave 等業(yè)內(nèi)頂尖合作伙伴的系統(tǒng)，可執(zhí)行晶圓上測試并擴(kuò)展更多功能。

審核編輯 黃宇