SGMNQ17430:30V 功率單 N 溝道 MOSFET 的詳細(xì)解析
在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,MOSFET 是不可或缺的重要元件。今天,我們就來(lái)深入探討 SGMICRO 推出的 SGMNQ17430,一款 30V 功率單 N 溝道、PDFN 封裝的 MOSFET。
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一、產(chǎn)品特性
1. 低導(dǎo)通電阻與低損耗
SGMNQ17430 具有低導(dǎo)通電阻,能夠有效降低功率損耗。同時(shí),它的低 (Q_{G}) 和電容損耗,有助于提高開關(guān)效率,減少能量損失。這對(duì)于追求高效能的電子設(shè)備設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō),是非常關(guān)鍵的特性。
2. 小尺寸封裝
該 MOSFET 采用了 (5×6 mm^{2}) 的小尺寸封裝,這種緊湊的設(shè)計(jì)使得它在空間受限的應(yīng)用場(chǎng)景中具有很大的優(yōu)勢(shì),能夠滿足小型化設(shè)備的設(shè)計(jì)需求。
3. 環(huán)保合規(guī)
SGMNQ17430 符合無(wú)鹵和 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),這意味著它在生產(chǎn)和使用過(guò)程中對(duì)環(huán)境更加友好,也符合現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)環(huán)保的要求。
二、絕對(duì)最大額定值
| 參數(shù) | 符號(hào) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | (V_{DS}) | 30 | V |
| 柵源電壓 | (V_{GS}) | +20 | V |
| 漏極電流((T_{C}= +25°C)) | (I_{D}) | 164 | A |
| 漏極電流((T_{C}= +100°C)) | (I_{D}) | 103 | A |
| 漏極電流((T_{A}= +25°C)) | (I_{D}) | 33 | A |
| 漏極電流((T_{A}= +70°C)) | (I_{D}) | 26 | A |
| 脈沖漏極電流 | (I_{DM}) | 352 | A |
| 總功耗((T_{C}= +25°C)) | (P_{D}) | 78 | W |
| 總功耗((T_{C}= +100°C)) | (P_{D}) | 31 | W |
| 總功耗((T_{A}= +25°C)) | (P_{D}) | 2.5 | W |
| 總功耗((T_{A}= +70°C)) | (P_{D}) | 1.6 | W |
| 雪崩電流 | (I_{AS}) | 62.2 | A |
| 雪崩能量 | (E_{AS}) | 193.4 | mJ |
| 結(jié)溫 | (T_{J}) | +150 | °C |
| 存儲(chǔ)溫度范圍 | (T_{STG}) | -55 至 +150 | °C |
| 引腳溫度(焊接,10s) | +260 | °C |
需要注意的是,超過(guò)絕對(duì)最大額定值的應(yīng)力可能會(huì)對(duì)器件造成永久性損壞,長(zhǎng)時(shí)間暴露在絕對(duì)最大額定值條件下可能會(huì)影響可靠性。
三、產(chǎn)品概要
1. 導(dǎo)通電阻與電流
在 (V{GS} = 10V) 時(shí),典型導(dǎo)通電阻 (R{DS(ON)}) 為 1.4mΩ,最大導(dǎo)通電阻為 1.7mΩ。在 (T{C} = +25℃) 時(shí),最大漏極電流 (I{D(MAX)}) 可達(dá) 164A。這些參數(shù)表明該 MOSFET 在導(dǎo)通狀態(tài)下具有良好的性能,能夠承受較大的電流。
2. 引腳配置與等效電路
引腳配置為 PDFN - 5×6 - 8BL 封裝,其等效電路清晰地展示了漏極(D)、柵極(G)和源極(S)的連接方式,方便工程師進(jìn)行電路設(shè)計(jì)和布局。
3. 應(yīng)用領(lǐng)域
SGMNQ17430 的應(yīng)用非常廣泛,包括 CPU 功率傳輸、DC/DC 轉(zhuǎn)換器、功率負(fù)載開關(guān)以及筆記本電池管理等領(lǐng)域。這些應(yīng)用場(chǎng)景都對(duì) MOSFET 的性能和可靠性有較高的要求,而 SGMNQ17430 能夠很好地滿足這些需求。
四、電氣特性
1. 靜態(tài)特性
- 漏源擊穿電壓:在 (V{GS} = 0V),(I{D} = 250μA) 時(shí),漏源擊穿電壓 (V_{BR(DSS)}) 為 30V,這保證了器件在正常工作時(shí)的耐壓能力。
- 零柵壓漏電流:(V{GS} = 0V),(V{DS} = 24V) 時(shí),零柵壓漏電流 (I_{DSS}) 僅為 1μA,說(shuō)明器件在截止?fàn)顟B(tài)下的漏電流非常小,能夠有效降低功耗。
- 柵源泄漏電流:(V{GS} = ±20V),(V{DS} = 0V) 時(shí),柵源泄漏電流 (I_{GSS}) 為 ±100nA,這一參數(shù)體現(xiàn)了柵極的絕緣性能。
2. 動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容、輸出電容和反向傳輸電容:在 (V{GS} = 0V),(V{DS} = 15V),(f = 1MHz) 條件下,輸入電容 (C{ISS}) 為 2044pF,輸出電容 (C{OSS}) 為 1824pF,反向傳輸電容 (C_{RSS}) 為 94pF。這些電容參數(shù)會(huì)影響 MOSFET 的開關(guān)速度和響應(yīng)時(shí)間。
- 總柵極電荷:在 (V{DS} = 15V),(I{D} = 30A) 時(shí),(V{GS} = 10V) 時(shí)總柵極電荷 (Q{G}) 為 38.6nC,(V_{GS} = 4.5V) 時(shí)為 19.2nC。柵極電荷的大小直接影響 MOSFET 的驅(qū)動(dòng)能力和開關(guān)損耗。
3. 開關(guān)特性
在 (V{GS} = 10V),(V{DS} = 15V),(I{D} = 30A),(R{G} = 3Ω) 的條件下,開啟延遲時(shí)間 (t{D(ON)}) 為 7.3ns,上升時(shí)間 (t{R}) 為 48.4ns,關(guān)斷延遲時(shí)間 (t{D(OFF)}) 為 33.9ns,下降時(shí)間 (t{F}) 為 50.7ns。這些開關(guān)時(shí)間參數(shù)對(duì)于高速開關(guān)應(yīng)用非常重要,能夠影響電路的整體性能。
五、典型性能特性
1. 導(dǎo)通電阻與電流、電壓的關(guān)系
從輸出特性曲線可以看出,導(dǎo)通電阻 (R{DS(ON)}) 與漏極電流和柵源電壓密切相關(guān)。在不同的柵源電壓下,隨著漏極電流的增加,導(dǎo)通電阻會(huì)發(fā)生變化。例如,在 (V{GS} = 10V) 時(shí),導(dǎo)通電阻相對(duì)較小且較為穩(wěn)定;而在較低的柵源電壓下,導(dǎo)通電阻會(huì)明顯增大。這就要求工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí),要根據(jù)實(shí)際的工作電流和電壓來(lái)選擇合適的柵源電壓,以確保 MOSFET 工作在最佳狀態(tài)。
2. 溫度特性
- 閾值電壓與結(jié)溫的關(guān)系:歸一化閾值電壓與結(jié)溫的曲線顯示,隨著結(jié)溫的升高,閾值電壓會(huì)發(fā)生變化。這可能會(huì)影響 MOSFET 的開啟和關(guān)閉特性,因此在設(shè)計(jì)時(shí)需要考慮溫度對(duì)閾值電壓的影響,以保證電路的穩(wěn)定性。
- 導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系:歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的曲線表明,導(dǎo)通電阻會(huì)隨著結(jié)溫的升高而增大。這意味著在高溫環(huán)境下,MOSFET 的功耗會(huì)增加,效率會(huì)降低。因此,在高溫應(yīng)用場(chǎng)景中,需要采取適當(dāng)?shù)纳岽胧﹣?lái)降低結(jié)溫,提高器件的性能和可靠性。
3. 安全工作區(qū)與轉(zhuǎn)移特性
安全工作區(qū)曲線展示了 MOSFET 在不同的漏源電壓和漏極電流下能夠安全工作的范圍。工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí),必須確保 MOSFET 的工作點(diǎn)始終在安全工作區(qū)內(nèi),以避免器件損壞。轉(zhuǎn)移特性曲線則反映了柵源電壓與漏極電流之間的關(guān)系,通過(guò)該曲線可以確定 MOSFET 的放大倍數(shù)和工作狀態(tài)。
4. 漏極電流與結(jié)溫、功率耗散與結(jié)溫的關(guān)系
漏極電流與結(jié)溫的曲線顯示,隨著結(jié)溫的升高,漏極電流會(huì)逐漸減小。這是因?yàn)楦邷貢?huì)導(dǎo)致器件的性能下降,為了保證器件的安全,需要降低電流。功率耗散與結(jié)溫的曲線表明,隨著結(jié)溫的升高,功率耗散會(huì)逐漸增加。這就要求在設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)時(shí),要充分考慮結(jié)溫對(duì)功率耗散的影響,確保器件在允許的溫度范圍內(nèi)工作。
六、封裝與訂購(gòu)信息
1. 封裝信息
SGMNQ17430 采用 PDFN - 5×6 - 8BL 封裝,詳細(xì)的封裝外形尺寸和推薦焊盤尺寸都有明確的規(guī)定。工程師在進(jìn)行 PCB 設(shè)計(jì)時(shí),需要嚴(yán)格按照這些尺寸要求進(jìn)行布局,以確保器件的焊接質(zhì)量和電氣性能。
2. 訂購(gòu)信息
該器件的訂購(gòu)型號(hào)為 SGMNQ17430TPDA8G/TR,包裝形式為卷帶包裝,每卷 4000 個(gè)。同時(shí),器件的標(biāo)記信息包含日期代碼、追溯代碼和供應(yīng)商代碼,方便進(jìn)行產(chǎn)品追溯和管理。
七、熱阻特性
1. 結(jié)到殼熱阻和結(jié)到環(huán)境熱阻
結(jié)到殼熱阻 (R{θJC}) 典型值為 1.6℃/W,結(jié)到環(huán)境熱阻 (R{θJA}) 為 49℃/W(在器件安裝在一平方英寸的銅焊盤上,F(xiàn)R4 板上 2oz 銅的條件下)。熱阻是衡量器件散熱性能的重要指標(biāo),工程師在設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)時(shí),需要根據(jù)熱阻參數(shù)來(lái)計(jì)算和選擇合適的散熱方式和散熱器件,以確保器件在工作過(guò)程中能夠有效地散熱,避免因過(guò)熱而損壞。
八、總結(jié)
SGMNQ17430 是一款性能優(yōu)異的 30V 功率單 N 溝道 MOSFET,具有低導(dǎo)通電阻、低損耗、小尺寸封裝等優(yōu)點(diǎn)。其豐富的電氣特性和典型性能特性為工程師在不同的應(yīng)用場(chǎng)景中提供了廣闊的設(shè)計(jì)空間。在使用該器件時(shí),工程師需要充分了解其各項(xiàng)參數(shù)和特性,結(jié)合實(shí)際的應(yīng)用需求進(jìn)行合理的設(shè)計(jì)和布局,同時(shí)要注意散熱和可靠性等方面的問(wèn)題。希望通過(guò)本文的介紹,能夠幫助電子工程師更好地了解和應(yīng)用 SGMNQ17430 這款 MOSFET。
大家在使用 SGMNQ17430 或者其他 MOSFET 時(shí),有沒有遇到過(guò)一些特殊的問(wèn)題或者有什么獨(dú)特的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)?zāi)兀繗g迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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