ADP1822評估板:設(shè)計、測試與應(yīng)用全解析
引言
在電子設(shè)計領(lǐng)域,電源管理是至關(guān)重要的一環(huán)。ADP1822評估板作為一款用于PWM、降壓型DC - DC控制器的評估工具,具有廣泛的應(yīng)用前景。本文將深入探討ADP1822評估板的設(shè)計、操作、測試以及關(guān)鍵組件的選擇,為電子工程師們提供全面的參考。
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ADP1822概述
ADP1822是一款多功能且經(jīng)濟實惠的同步降壓PWM控制器。其轉(zhuǎn)換器電源輸入電壓范圍為1V至24V,而控制器的工作電壓范圍為3.0V至5.5V。它的自由運行頻率可通過邏輯選擇為300kHz或600kHz,也能與300kHz至1.2MHz之間的外部時鐘同步。內(nèi)部柵極驅(qū)動器控制全N溝道功率級,可調(diào)節(jié)低至0.6V的轉(zhuǎn)換器輸出電壓,最大負載電流可達20A。此外,它還具備輸出電壓跟蹤、動態(tài)調(diào)整、軟啟動、限流和短路保護以及電源良好邏輯輸出等功能,適用于電信、醫(yī)療成像、高性能服務(wù)器和工業(yè)應(yīng)用等眾多領(lǐng)域。
評估板規(guī)格
| 描述 | 參數(shù) |
|---|---|
| V IN | 12 V |
| V OUT | 1.8 V |
| 頻率 | 300 kHz |
| 最大I OUT | 10 A |
| 電流限制 | 15 A |
| 高低電壓裕量 | 5% |
測試說明
測試步驟
- 確保跳線2處于斷開狀態(tài),給評估板上電,此時輸出電壓應(yīng)為1.8V。
- 若跳線1短路,需更換電感器以適應(yīng)600kHz的操作。
- 當跳線3短路時,輸出高裕量為1.89V;當跳線4斷開時,輸出低裕量為1.71V。
- 連接外部發(fā)生器到TRKN點,驗證輸出電壓跟蹤功能。
- 使用PWGD點監(jiān)測操作行為。
跳線和連接器說明
| 名稱 | 描述 | 默認狀態(tài) |
|---|---|---|
| M1 | VIN | |
| M2 | GND In | |
| M3 | VIN | |
| M4 | GND Out | |
| 跳線1 | 斷開:300 kHz;短路:600 kHz | 斷開 |
| 跳線2 | 斷開:啟用評估板;短路:禁用評估板 | 斷開 |
| 跳線3 | 斷開:輸出電壓正常模式;短路:激活電壓裕量 | 斷開 |
| 跳線4 | 斷開:高裕量;短路:低裕量 | 斷開 |
組件選擇
輸入電容
在連續(xù)模式下,高端MOSFET的源電流是占空比為VOUT/VIN的方波。為防止大的電壓瞬變,應(yīng)使用低ESR的輸入電容,并根據(jù)最大均方根電流進行選型。最大均方根電容電流為IL√D(1 - D)。
輸出電感
在高開關(guān)頻率應(yīng)用中,電感大小對性能有重要影響。電感過大,dI/dt過低,無法快速響應(yīng)負載變化;電感過小,輸出紋波會過高。因此,若需要良好的瞬態(tài)響應(yīng),在電容允許的最大紋波電流和磁芯最大耗散(磁芯溫度)的約束下,選擇較小的電感和較大的電容更為合適。輸出電感可根據(jù)公式[L=frac{V{OUT }}{I{OUT } K{CR } f{SW}}(1-D)]選擇,其中KCR一般選擇在20% - 40%之間。
輸出電容
輸出電容的選擇由ESR和電容值決定。輸出電壓紋波可近似表示為[Delta V{OUT }=Delta I{L}left(ESR+frac{1}{8 f{S W} C{OUT }}right)]。一般來說,電容或ESR引起的電壓紋波取決于所選電容。由于MLCC電容具有低ESR的特點,因此推薦使用。在輸出負載瞬變時,所需的電容量由電感中存儲的最大能量決定。電容必須足夠大,以吸收從高電流到低電流過渡時電感電流的變化,并在從低電流到高電流過渡時為負載供電。可根據(jù)公式[C{OUT, minl }=frac{Delta I{OUT }^{2} L}{2 V{OUT } Delta V{up }}]和[C{OUT, min 2}=frac{Delta I{OUT }^{2} L}{2left(V{IN }-V{OUT }right) Delta V{down }}]計算最小電容值,并選擇大于兩者的輸出電容。同時,要確保輸出電容的紋波電流額定值大于(I{COUT }=sqrt{frac{Delta I_{L}^{2}}{12}})。
MOSFET選擇
MOSFET的選擇直接影響DC - DC轉(zhuǎn)換器的性能。MOSFET應(yīng)具有低導通電阻(RDSON)以降低傳導損耗,以及低柵極電荷以降低開關(guān)損耗。對于低端(同步)MOSFET,主要損耗為傳導損耗,可通過公式[P{C, low }=(1-D)left(I{OUT }^{2}+frac{Delta I{L}^{2}}{12}right) R{DSON }]計算。柵極電荷損耗可近似表示為[P{G}=V{G} Q{G} f{S W}]。高端(開關(guān))MOSFET需要處理傳導損耗和開關(guān)損耗,開關(guān)損耗可近似為[P{T}=frac{V{I N} I{L}left(t{R}+t{F}right) f{S W}}{2}],其中tR和tF可通過相關(guān)公式計算。高端MOSFET的傳導損耗可通過公式[P{C, high }=Dleft(I{OUT }^{2}+frac{Delta I{L}^{2}}{12}right) R{D S O N}]計算。
輸出電壓
FB引腳的調(diào)節(jié)閾值為0.6V,最大輸入偏置電流為100nA。為獲得最佳精度,底部電阻R2應(yīng)不高于50kΩ,但過低的R2值會消耗過多功率,建議選擇1kΩ至10kΩ的1%電阻。上部分壓電阻R1可通過公式[R 1=R 2 frac{V_{OUT }-0.6}{0.6}]設(shè)置。
電流限制設(shè)置電阻
CSL引腳的電壓可通過公式[V{CSL}=I{CSL}left(R{CSL}+R{DSONlow }right)-left(I{L}+frac{Delta I{L}}{2}right) R{DSONlow }]計算。電阻RCSL可通過公式[R{CSL }=frac{left(I{limit }+frac{Delta I{L}}{2}right) R_{DSONlow }}{I{CSL }}]計算。
軟啟動設(shè)置
軟啟動特性由連接在SS和GND之間的電容決定。ADP1822通過內(nèi)部電阻將Css充電至0.8V,當VCSS = 0.6V時達到軟啟動周期(tss),電容值可通過公式[C{SS}=frac{t{SS}}{-ln left(1-frac{0.6}{0.8}right) × 100 k Omega}]計算。
輸出電壓跟蹤
ADP1822具有內(nèi)部比較器,可在啟動時使輸出電壓跟蹤外部電壓,防止輸出電壓超過跟蹤電壓。當正跟蹤(TRKP)輸入電壓超過負跟蹤(TRKN)輸入電壓時,比較器會關(guān)閉高端開關(guān)。將TRKP連接到輸出電壓,用要跟蹤的電壓驅(qū)動TRKN。若TRKN處的電壓低于調(diào)節(jié)電壓,輸出電壓將被限制在TRKN處的電壓;若TRKN處的電壓高于調(diào)節(jié)電壓,輸出電壓將調(diào)節(jié)到分壓器設(shè)定的期望電壓。
輸出電壓裕量
ADP1822具有輸出電壓裕量功能。MSEL是裕量選擇輸入,將MSEL驅(qū)動為高電平可激活電壓裕量功能,驅(qū)動為低電平可將輸出電壓調(diào)節(jié)到標稱值。若不使用,將MSEL連接到GND。MAR是裕量控制輸入,與MSEL配合使用以控制輸出電壓裕量。當MSEL驅(qū)動為高電平時,MAR可選擇高電壓或低電壓裕量。若不使用,將MAR連接到GND。
控制環(huán)路設(shè)計與方程
功率級傳遞函數(shù)
ADP1822的功率級傳遞函數(shù)為[G{V D}(s)=frac{V{OUT }(s)}{D(s)}=frac{V{I N}}{1+frac{R{L}}{R}} × frac{1+R{C} × C × s}{1+frac{s}{Q omega{O}}+frac{s^{2}}{omega{O}^{2}}}],其中(omega{0}=frac{sqrt{frac{R{L}+R}{R{C}+R}}}{sqrt{L C}}),(Q=frac{frac{R{L}}{R}+1}{frac{L}{R}+left(R{L}+R{C}right) × C+frac{R{C} R{L} C}{R}} cdot frac{1}{omega{O}}),RC為輸出電容的ESR,Rl為輸出電感的串聯(lián)電阻。
控制電路與傳遞函數(shù)
補償傳遞函數(shù)的方程為[G{E A}(s)=k frac{left(1+frac{s}{2 pi f{Z 1}}right)left(1+frac{s}{2 pi f{Z 2}}right)}{left(1+frac{s}{2 pi f{P 1}}right)left(1+frac{s}{2 pi f{P 2}}right)}],其中(k=-frac{R 3}{R l}),(f{z 1}=frac{1}{2 pi R 3 Cl 7}),(f{Z 2}=frac{1}{2 pi(R 1+R 2) C 18}),(f{p 1}=frac{1}{2 pi R 3 frac{C 17 cdot C 19}{C l 7+C 19}}),(f_{P 2}=frac{1}{2 pi R 4 C 18})。開關(guān)頻率為300kHz,為獲得最佳性能,建議將交叉頻率設(shè)置為開關(guān)頻率的1/10,即約60kHz。較低的交叉頻率會導致動態(tài)響應(yīng)不佳,而較高的交叉頻率可能導致不穩(wěn)定。通常,最佳性能來自于允許足夠增益和相位裕度的最高可能交叉頻率,建議相位裕度在40°至60°之間。
整體環(huán)路增益
整體控制環(huán)路的傳遞函數(shù)為[T(s)=frac{G{V D}(s) × G{E A}(s)}{V_{R A M P}}],其中VRAMP為ADP1822控制器的PWM峰值斜坡電壓(通常為1.25V)。選擇補償組件時,可遵循以下準則:
- 設(shè)置環(huán)路增益交叉頻率fC,將交叉頻率fC設(shè)置在fsw / 10可實現(xiàn)快速響應(yīng)。
- 用補償器極點fP1抵消ESR零點fZ。
- 放置高頻極點fP2以實現(xiàn)開關(guān)紋波和高頻噪聲的最大衰減。
- 在功率級諧振頻率f0附近放置兩個補償器零點,通常將fZ1放置在f0以下,將fZ2放置在f0和fC之間。
- 檢查相位裕度以確保良好的調(diào)節(jié)性能。
測試結(jié)果與主要波形
通過實際測試,我們得到了輸出電壓紋波、效率與負載電流關(guān)系、輸出跟蹤、負載瞬態(tài)響應(yīng)、輸出電壓裕量等波形,這些波形直觀地展示了ADP1822評估板的性能。例如,在不同負載下的輸出電壓紋波情況,以及效率隨負載電流的變化趨勢等,為工程師們評估和優(yōu)化設(shè)計提供了重要依據(jù)。
PCB布局指南
接地平面
使用單獨的模擬和電源接地平面,將模擬電路連接到模擬地,將功率電路連接到電源地。
走線要求
從高端MOSFET和低端MOSFET到ADP1822的DH和DL引腳的走線應(yīng)相對短而寬,以降低電感。
元件布局
將Q1的源極和Q2的漏極放置得非??拷?,以最小化電感,使用寬銅走線進行連接,但要注意避免過多銅面積增加電容耦合共模噪聲。將陶瓷輸入去耦電容(C2、C3和C4)靠近Q1的漏極和Q2的源極放置,將C13和C14靠近IC的VIN引腳放置,補償組件應(yīng)盡可能靠近FB引腳放置,連接R7的走線應(yīng)直接連接到Q2的漏極以確保理想的開爾文連接。
評估板原理圖與布局
ADP1822評估板的原理圖展示了各個組件的連接關(guān)系,包括MOSFET、電感、電容、電阻等。布局圖則呈現(xiàn)了元件在PCB上的具體位置,為工程師們進行實際設(shè)計和調(diào)試提供了清晰的參考。
訂購信息與物料清單
訂購信息
可根據(jù)需求向相關(guān)供應(yīng)商訂購ADP1822評估板。
物料清單
詳細列出了ADP1822典型應(yīng)用電路所需的元件,包括電容、電感、MOSFET、電阻、二極管等,以及它們的制造商、型號、設(shè)計標識和數(shù)量,方便工程師們進行采購和組裝。
注意事項
ADP1822評估板是靜電放電(ESD)敏感設(shè)備,在操作過程中應(yīng)采取適當?shù)腅SD預防措施,以避免性能下降或功能喪失。同時,使用評估板需遵守相關(guān)的法律條款和條件,包括授權(quán)使用范圍、保密要求、限制使用行為等。
總之,ADP1822評估板為電子工程師們提供了一個全面的電源管理解決方案。通過深入了解其設(shè)計、操作、測試和組件選擇等方面的知識,工程師們可以更好地利用該評估板進行電源設(shè)計和優(yōu)化,滿足不同應(yīng)用場景的需求。你在使用ADP1822評估板的過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享。
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