探索 onsemi NVBG150N65S3F MOSFET:高性能與可靠性的完美結(jié)合
在電子工程領(lǐng)域,功率MOSFET一直是電力系統(tǒng)設(shè)計(jì)中不可或缺的關(guān)鍵組件。今天,我們將深入探討 onsemi 的 NVBG150N65S3F 這款 N 溝道、D2PAK - 7L 封裝的 650V 功率 MOSFET,看看它如何在眾多產(chǎn)品中脫穎而出。
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一、SUPERFET? III 技術(shù)亮點(diǎn)
SUPERFET? III MOSFET 是 onsemi 全新的高壓超結(jié)(SJ)MOSFET 系列,它采用了電荷平衡技術(shù),具有出色的低導(dǎo)通電阻和低柵極電荷性能。這種先進(jìn)技術(shù)旨在最大程度地減少傳導(dǎo)損耗,提供卓越的開(kāi)關(guān)性能,并能承受極高的 dv/dt 速率。因此,它非常適合各種需要小型化和高效率的電力系統(tǒng)。
此外,SUPERFET III FRFET? MOSFET 的體二極管優(yōu)化了反向恢復(fù)性能,這意味著可以去除額外的組件,從而提高系統(tǒng)的可靠性。而 D2PAK 7 引腳封裝提供了 Kelvin 檢測(cè)功能,這不僅允許更高的開(kāi)關(guān)速度,還使設(shè)計(jì)師能夠減小整體應(yīng)用的占用空間。
二、關(guān)鍵特性剖析
1. 電氣性能
- 耐壓與電流能力:在 (T{J}=150^{circ}C) 時(shí),可承受 700V 的電壓;典型導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)} = 114 mOmega);連續(xù)漏極電流在 (T{C}=25^{circ}C) 時(shí)為 24A,在 (T{C}=100^{circ}C) 時(shí)為 15.2A,脈沖漏極電流可達(dá) 60A。
- 低柵極電荷與輸出電容:超低的柵極電荷(典型 (Q{g}=45 nC))和低有效輸出電容(典型 (C{oss(eff.)}=409 pF)),有助于降低開(kāi)關(guān)損耗,提高開(kāi)關(guān)速度。
- 雪崩測(cè)試與認(rèn)證:經(jīng)過(guò) 100% 雪崩測(cè)試,并且符合 AEC - Q101 標(biāo)準(zhǔn),具備 PPAP 能力,同時(shí)這些器件無(wú)鉛且符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn)。
2. 熱性能
- 熱阻參數(shù):結(jié)到外殼的最大熱阻 (R{JC}=0.65^{circ}C/W),結(jié)到環(huán)境的最大熱阻 (R{JA}=40^{circ}C/W)。良好的熱性能確保了器件在工作過(guò)程中能夠有效地散熱,維持穩(wěn)定的性能。
三、典型應(yīng)用場(chǎng)景
NVBG150N65S3F 適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景,特別是在汽車領(lǐng)域,如汽車車載充電器和電動(dòng)汽車的直流 - 直流轉(zhuǎn)換器。在這些應(yīng)用中,對(duì)功率器件的性能和可靠性要求極高,而該 MOSFET 的高性能特性正好滿足了這些需求。
四、絕對(duì)最大額定值與電氣特性
1. 絕對(duì)最大額定值
| 符號(hào) | 參數(shù) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源電壓 | 650 ± 30 | V |
| (V_{GS}) | 柵源電壓(直流) | - | - |
| (V_{GS}) | 柵源電壓(交流,f > 1Hz) | ± 30 | V |
| (I_{D}) | 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | 24 | A |
| (I_{D}) | 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) | 15.2 | A |
| (I_{DM}) | 脈沖漏極電流 | 60 | A |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 275 | mJ |
| (I_{AS}) | 雪崩電流 | 3.2 | A |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量 | 1.92 | mJ |
| (dv/dt) | MOSFET dv/dt | 100 | V/ns |
| 峰值二極管恢復(fù) dv/dt | 50 | V/ns | |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 192 | W |
| (P_{D}) | 25°C 以上降額 | 1.54 | W/°C |
| (T{J}, T{stg}) | 工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 | -55 至 150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接時(shí)引腳最大溫度(距外殼 1/8″,5 秒) | 300 | °C |
2. 電氣特性
- 關(guān)斷特性:漏源擊穿電壓 (B{VDS}) 在不同測(cè)試條件下有不同的值,如 (V{GS}=0V),(I{D}=1mA),(T{J}=25^{circ}C) 時(shí)為 650V;(V{GS}=0V),(I{D}=10mA),(T_{J}=150^{circ}C) 時(shí)為 700V。
- 導(dǎo)通特性:如 (V_{GS(th)}) 等參數(shù)也有相應(yīng)的測(cè)試條件和取值。
- 動(dòng)態(tài)特性:包括輸出電容 (C{oss})、柵極總電荷 (Q{g(total)}) 等。
- 開(kāi)關(guān)特性:在 (V{GS}=10V),(V{DD}=400V),(I_{D}=12A) 等條件下,有相應(yīng)的開(kāi)關(guān)時(shí)間參數(shù)。
- 源 - 漏二極管特性:最大連續(xù)源 - 漏二極管正向電流為 24A,最大脈沖源 - 漏二極管正向電流為 60A 等。
五、典型特性圖表分析
文檔中提供了多個(gè)典型特性圖表,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流與外殼溫度的關(guān)系、(E_{oss}) 與漏源電壓的關(guān)系以及瞬態(tài)熱響應(yīng)等。通過(guò)這些圖表,我們可以更直觀地了解該 MOSFET 在不同條件下的性能表現(xiàn)。
六、封裝與訂購(gòu)信息
該器件采用 D2PAK - 7L 封裝,每卷 800 個(gè),采用帶盤包裝。對(duì)于帶盤規(guī)格的詳細(xì)信息,可參考 Tape and Reel Packaging Specifications Brochure, BRD8011/D。
在實(shí)際設(shè)計(jì)中,電子工程師們需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮該 MOSFET 的各項(xiàng)特性,合理選擇和使用。你在使用類似 MOSFET 時(shí)遇到過(guò)哪些挑戰(zhàn)呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)。
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