FDB024N08BL7 N溝道PowerTrench? MOSFET:特性、參數(shù)與應(yīng)用解析
飛兆半導(dǎo)體(Fairchild)如今已成為安森美半導(dǎo)體(ON Semiconductor)的一部分。在半導(dǎo)體整合過程中,部分飛兆可訂購的零件編號需進(jìn)行更改,以滿足安森美半導(dǎo)體的系統(tǒng)要求,例如飛兆零件編號中的下劃線(_)將改為短橫線(-)。今天,我們就來詳細(xì)了解一款飛兆的產(chǎn)品——FDB024N08BL7 N溝道PowerTrench? MOSFET。
文件下載:FDB024N08BL7CN-D.pdf
一、產(chǎn)品概述
FDB024N08BL7是一款采用飛兆半導(dǎo)體先進(jìn)的PowerTrench?工藝生產(chǎn)的N溝道MOSFET。該工藝專為最大限度地降低導(dǎo)通電阻并保持卓越開關(guān)性能而定制。它具有80V的漏極 - 源極電壓,連續(xù)漏極電流在不同條件下有不同表現(xiàn),如在TC = 25°C(硅限制)時為229A,在TC = 100°C(硅限制)時為162A ,在TC = 25°C(封裝限制)時為120A 。
二、最大額定值與熱性能
1. 最大額定值
| 符號 | 參數(shù) | FDB024N08BL7 | 單位 |
|---|---|---|---|
| VDSS | 漏極 - 源極電壓 | 80 | V |
| VGSS | 柵極 - 源極電壓 | ±20 | V |
| ID(連續(xù),TC = 25°C,硅限制) | 漏極電流 | 229* | A |
| ID(連續(xù),TC = 100°C,硅限制) | 漏極電流 | 162* | A |
| ID(連續(xù),TC = 25°C,封裝限制) | 漏極電流 | 120 | A |
| IDM | 漏極電流 - 脈沖(注1) | 916 | A |
| EAS | 單脈沖雪崩能量(注2) | 917 | mJ |
| dv/dt | 二極管恢復(fù)dv/dt峰值(注3) | 6.0 | V/ns |
| PD(TC = 25°C) | 功耗 | 246 | W |
| PD(高于25°C的功耗系數(shù)) | 功耗 | 1.64 | W/°C |
| TJ, TSTG | 工作和存儲溫度范圍 | -55至 +175 | °C |
| TL | 用于焊接的最高引腳溫度(距離外殼1/8”,持續(xù)5秒) | 300 | °C |
注:連續(xù)電流是基于最高可允許的結(jié)溫計算所得,封裝限制電流為120A。
2. 熱性能
| 符號 | 參數(shù) | FDB024N08BL7 | 單位 |
|---|---|---|---|
| RθJC | 結(jié)至外殼熱阻最大值 | 0.61 | °C/W |
| RθJA | 結(jié)至環(huán)境熱阻最大值 | 62.5 | - |
熱性能對于MOSFET的穩(wěn)定工作至關(guān)重要,工程師在設(shè)計電路時,需要根據(jù)這些熱阻參數(shù)來考慮散熱方案,以確保MOSFET在合適的溫度范圍內(nèi)工作。
三、特性亮點
- 低導(dǎo)通電阻:RDS(on) = 1.7 m?(典型值)@ VGS = 10 V,ID = 100 A ,低導(dǎo)通電阻可以有效降低功率損耗,提高電路效率。
- *低FOM RDS(on) QG**:這一特性有助于減少開關(guān)損耗,提升整體性能。
- 低反向恢復(fù)電荷:Qrr = 112 nC,軟反向恢復(fù)體二極管,可實現(xiàn)高效同步整流。
- 快速開關(guān)速度:能夠滿足高速開關(guān)應(yīng)用的需求。
- 符合環(huán)保標(biāo)準(zhǔn):符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),并且通過JEDEC JESD22 - A113F和IPC/JEDEC J - STD - 020D.1認(rèn)證。
四、應(yīng)用領(lǐng)域
- 同步整流:用于ATX/服務(wù)器/電信PSU的同步整流,可提高電源的效率和性能。
- 電池保護(hù)電路:在電池保護(hù)電路中發(fā)揮重要作用,保障電池的安全使用。
- 電機(jī)驅(qū)動和不間斷電源:為電機(jī)驅(qū)動和不間斷電源提供穩(wěn)定可靠的開關(guān)控制。
五、電氣特性
1. 關(guān)斷特性
包括漏極 - 源極擊穿電壓BVDSS、擊穿電壓溫度系數(shù)?BVDSS/?TJ、零柵極電壓漏極電流IDSS、柵極 - 體漏電流IGSS等參數(shù)。這些參數(shù)反映了MOSFET在關(guān)斷狀態(tài)下的性能,對于電路的可靠性設(shè)計非常重要。
2. 導(dǎo)通特性
如柵極閾值電壓VGS(th)、漏極至源極靜態(tài)導(dǎo)通電阻RDS(on)、正向跨導(dǎo)gFS等。這些參數(shù)決定了MOSFET在導(dǎo)通狀態(tài)下的性能,工程師需要根據(jù)具體應(yīng)用需求來選擇合適的參數(shù)。
3. 動態(tài)特性
包括輸入電容Ciss、輸出電容Coss、反向傳輸電容Crss等。這些電容參數(shù)會影響MOSFET的開關(guān)速度和動態(tài)性能。
4. 開關(guān)特性
如導(dǎo)通延遲時間td(on)、導(dǎo)通上升時間tr、關(guān)斷延遲時間td(off)、關(guān)斷下降時間tf等。這些時間參數(shù)直接影響MOSFET的開關(guān)速度和效率。
5. 漏極 - 源極二極管特性
包括漏極 - 源極二極管最大正向連續(xù)電流IS、最大正向脈沖電流ISM、正向電壓VSD、反向恢復(fù)時間trr、反向恢復(fù)電荷Qrr等。這些參數(shù)對于二極管的性能和應(yīng)用至關(guān)重要。
六、典型性能特征
文檔中給出了多個典型性能特征圖,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻變化與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、體二極管正向電壓變化與源極電流和溫度的關(guān)系等。這些圖表直觀地展示了MOSFET在不同條件下的性能表現(xiàn),工程師可以根據(jù)這些圖表來評估MOSFET在實際應(yīng)用中的性能。
七、機(jī)械尺寸與封裝
該MOSFET采用TO - 263 (D2PAK),模塑,7引腳,表面貼裝封裝。封裝圖紙可能會在沒有任何通知的情況下做出改動,如有疑問,可聯(lián)系飛兆半導(dǎo)體代表核實或獲得最新版本。
八、注意事項
安森美半導(dǎo)體保留對產(chǎn)品進(jìn)行更改的權(quán)利,并且不承擔(dān)因產(chǎn)品應(yīng)用或使用而產(chǎn)生的任何責(zé)任。同時,該產(chǎn)品不適合用于生命支持系統(tǒng)或FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備等關(guān)鍵應(yīng)用。如果購買或使用該產(chǎn)品用于非預(yù)期或未經(jīng)授權(quán)的應(yīng)用,買家需承擔(dān)相應(yīng)的責(zé)任。
在實際設(shè)計中,工程師們需要根據(jù)具體的應(yīng)用場景和需求,綜合考慮FDB024N08BL7的各項參數(shù)和特性,以確保電路的性能和可靠性。大家在使用這款MOSFET的過程中,有沒有遇到過什么問題或者有什么獨特的應(yīng)用經(jīng)驗?zāi)??歡迎在評論區(qū)分享。
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MOSFET
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