12位A/D轉換器AD1671的技術解析與應用指南
在電子設計領域,A/D轉換器是連接模擬世界和數(shù)字世界的關鍵橋梁。今天,我們將深入探討Analog Devices公司的12位A/D轉換器AD1671,詳細解析其規(guī)格、性能參數(shù)以及測試要求。
文件下載:AD1671S.pdf
一、產(chǎn)品概述
AD1671是一款空間級的12位A/D轉換器,本規(guī)格書詳細記錄了基于Analog Devices公司QML認證生產(chǎn)線制造的空間合格產(chǎn)品的詳細要求,除本文另有修改外,均符合MIL - PRF - 38535 Level V標準。該產(chǎn)品的商業(yè)級版本在www.analog.com/AD1671上有更詳細的操作說明和完整的數(shù)據(jù)手冊。
二、產(chǎn)品型號與封裝
2.1 型號
AD1671有不同的型號,如AD1671 - 703D、AD1671 - 703F和AD1671 - 713F,均為12位A/D轉換器,其中AD1671 - 713F經(jīng)過輻射測試。
2.2 封裝
- D封裝:CDIP2 - T28,28引腳側邊釬焊雙列直插封裝(.6")。
- F封裝:CDFP3 - F28,28引腳底部釬焊扁平封裝。
三、絕對最大額定值與熱特性
3.1 絕對最大額定值
在環(huán)境溫度(T_{A}=25^{circ}C)(除非另有說明)的條件下,AD1671的各項絕對最大額定值如下:
- 電源電壓:VCC到ACOM為 - 0.5V至 + 6.5V;VEE到ACOM為 - 6.5V至 + 0.5V;VLOGIC到DCOM為 - 0.5V至 + 6.5V等。
- 輸入電壓:AIN到ACOM為 - 11V至 + 11V。
- 功耗:最大1000mW。
- 溫度范圍:工作溫度范圍為 - 55°C至 + 125°C;存儲溫度范圍為 - 65°C至 + 150°C;引腳焊接溫度(60秒)為 + 300°C;結溫(TJ)為 + 150°C。
3.2 熱特性
- D封裝:結到殼熱阻(Theta{JC}=28^{circ}C/W) Max,結到環(huán)境熱阻(Theta{JA}=60^{circ}C/W) Max。
- F封裝:結到殼熱阻(Theta{JC}=22^{circ}C/W) Max,結到環(huán)境熱阻(Theta{JA}=60^{circ}C/W) Max。
四、電氣參數(shù)
4.1 主要電氣參數(shù)
| 參數(shù) | 符號 | 條件 | 子組 | 最小值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 分辨率 | RES | 1, 2, 3 | 12 | Bits | - | - |
| 積分非線性 | INL | 所有代碼直方圖,2, 3 | - 3 | 3 | LSB | |
| 差分非線性 | + DNL - DNL | 所有代碼直方圖,1, 2, 3 | 0 | - 1 | 2 | LSB |
| 單極性偏移誤差 | VOSE | 2.5V, 5V量程,1 | - 9 | 9 | LSB | |
| 單極性偏移漂移 | TCVOS | 2.5V, 5V量程,(T_{A} = - 55^{circ}C, + 125^{circ}C),2,3 | ±20 | ppm/°C | - | |
| 增益誤差 | AE | 單極性和雙極性,1 | 0.37 | %FSR | - | |
| 增益漂移 | TCA | 單極性和雙極性,(T_{A} = - 55^{circ}C, + 125^{circ}C),2,3 | ±40 | ppm/°C | - | |
| 雙極性零誤差 | BPOE | 2.5V, 5V量程,1 | - 10 | 10 | LSB | |
| 雙極性零漂移 | TCBPO | 2.5V, 5V量程,(T_{A} = - 55^{circ}C, + 125^{circ}C),2,3 | ±30 | ppm/°C | - | |
| 模擬輸入范圍 | VIN | 單極性,(R_{in}=10MΩ),3/ 1,2,3 | 2.5 | V | - | |
| 參考電壓 | VRO | 單極性和雙極性,2/ | 2.475 | 2.525 | V | |
| 參考漂移 | TCVRO | 單極性和雙極性,(T_{A} = - 55^{circ}C, + 125^{circ}C),2,3 | ±30 | ppm/°C | - | |
| 參考電流 | IREF | 單極性模式,2/ | 2.5 | mA | - | |
| 功耗 | PD | (V{S} = ±5.25V),(V{LOGIC} = + 5.5V),1,2,3 | 750 | mW | - | |
| 電源電流 | ICC | 靜態(tài)條件下測試,1,2,3 | 75 | mA | - | |
| 信號與噪聲加失真比 | SINAD | (f{IN} = 100KHz),(f{S} = 1MHz), - 0.5dB輸入,4,5,6 | 68 | dB | - | |
| 有效位數(shù) | ENOB | - | 4,5,6 | 11 | Bits | - |
| 總諧波失真 | THD | - | 4,5,6 | - 73 | dB | - |
| 峰值雜散分量 | PS | - | 4,5,6 | - 75 | - | - |
| 互調(diào)失真 | Σ2nd | 2階產(chǎn)物,4,5,6 | - 75 | - | - | |
| 采樣率轉換時間 | TCONV | - | 9,10,11 | 800 | ns | - |
4.2 參考電壓說明
AD1671內(nèi)置 + 2.5V參考電壓。參考輸入引腳(REF IN)可連接到參考輸出引腳(REF OUT),也可選擇標準外部 + 2.5V參考電壓以滿足特定系統(tǒng)要求。為防止AD1671的內(nèi)置參考在未連接到REF IN時振蕩,REF OUT必須連接到 + 5V。
五、時序參數(shù)
5.1 編碼脈沖
- 編碼高電平寬度(短編碼):(t_{ENC}),20 - 50ns。
- 編碼低電平寬度(長編碼):(t_{ENCL}),20ns。
5.2 數(shù)據(jù)有效脈沖
- DAV脈沖寬度:(t_{DAV}),150 - 300ns。
5.3 延遲參數(shù)
- 編碼下降沿延遲:(t_{F}),0ns。
- 開始新轉換延遲:(t_{R}),0ns。
- DAV下降沿數(shù)據(jù)和QTR延遲:(t_{DD}),20ns。
- DAV上升沿數(shù)據(jù)和OTR延遲:(t_{SS}),20ns。
六、電氣測試要求
6.1 測試要求分組
根據(jù)MILPRF - 38535的表III,測試要求分為不同的子組,包括臨時電氣參數(shù)、最終電氣參數(shù)等,不同的測試組對應不同的參數(shù)測試。
6.2 壽命測試/老化測試增量限制
| 測試項目 | 老化測試端點 | 壽命測試端點 | 增量 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| ICC | 75 | 75 | ±7.5 | mA max |
| VOH | 2.4 | 2.4 | ±0.24 | V min |
| VOL | 0.4 | 0.4 | ±0.1 | V max |
七、壽命測試/老化測試電路
- HTRB不適用于本產(chǎn)品。
- 老化測試按照MIL - STD - 883方法1015,測試條件B進行。
- 穩(wěn)態(tài)壽命測試按照MIL - STD - 883方法1005,測試條件B進行。
八、規(guī)格書修訂歷史
規(guī)格書有多次修訂,每次修訂都對產(chǎn)品的參數(shù)、測試要求或說明進行了更新,如更改參數(shù)的子組、添加新的參數(shù)說明等。
在實際設計中,工程師需要根據(jù)具體的應用場景,綜合考慮AD1671的各項參數(shù),如分辨率、線性度、功耗等,以確保設計的系統(tǒng)能夠滿足性能要求。同時,嚴格按照測試要求進行測試,保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。大家在使用AD1671的過程中,有沒有遇到過一些特殊的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。
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