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探索 onsemi NVMJS1D6N06CL N 溝道 MOSFET 的卓越性能

lhl545545 ? 2026-04-03 10:45 ? 次閱讀
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探索 onsemi NVMJS1D6N06CL N 溝道 MOSFET 的卓越性能

電子工程師的日常設(shè)計工作中,MOSFET 是不可或缺的關(guān)鍵元件。今天,我們就來深入探討 onsemi 推出的 NVMJS1D6N06CL N 溝道 MOSFET,看看它有哪些獨特之處,能為我們的設(shè)計帶來怎樣的優(yōu)勢。

文件下載:NVMJS1D6N06CL-D.PDF

產(chǎn)品概述

NVMJS1D6N06CL 是一款耐壓 60V、導(dǎo)通電阻低至 1.36mΩ、最大電流可達 250A 的 N 溝道功率 MOSFET。它采用了 LFPAK8 封裝,尺寸僅為 5x6mm,非常適合緊湊設(shè)計的應(yīng)用場景。該產(chǎn)品不僅符合 AEC - Q101 標準,具備 PPAP 能力,還采用無鉛工藝,符合 RoHS 標準,為環(huán)保設(shè)計提供了保障。

關(guān)鍵特性

小尺寸與低損耗

  • 緊湊設(shè)計:5x6mm 的小尺寸封裝,為設(shè)計人員在空間受限的應(yīng)用中提供了更多的靈活性。
  • 低導(dǎo)通電阻:低 (R_{DS(on)}) 特性有效降低了導(dǎo)通損耗,提高了系統(tǒng)的效率。
  • 低柵極電荷和電容:低 (Q_{G}) 和電容特性,可減少驅(qū)動損耗,進一步提升系統(tǒng)性能。

行業(yè)標準封裝與質(zhì)量認證

  • LFPAK8 封裝:作為行業(yè)標準封裝,便于與現(xiàn)有設(shè)計兼容,降低了設(shè)計成本和風(fēng)險。
  • AEC - Q101 認證:經(jīng)過嚴格的汽車級認證,確保了產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。

電氣特性

最大額定值

在 (T_{J}=25^{circ}C) 的條件下,該 MOSFET 的最大額定值如下: 參數(shù) 條件 符號 單位
漏源擊穿電壓 (V{GS}=0V),(I{D}=250A) (V_{(BR)DSS}) 60 V
連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) (I_{D}) A
連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) (I_{D}) A
功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) (P_{D}) 83 W
連續(xù)漏極電流((T_{A}=25^{circ}C)) (I_{D}) 38 A
功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) (P_{D}) 3.8 W
脈沖電流 (I_{DM}) 900 A
工作結(jié)溫和存儲溫度 (T{J}),(T{stg}) +175 °C

電氣參數(shù)

參數(shù) 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
漏源擊穿電壓 (V{GS}=0V),(I{D}=250A) 60 V
零柵壓漏極電流((T_{J}=25^{circ}C)) (V{GS}=0V),(V{DS}=60V) 10 μA
零柵壓漏極電流((T_{J}=125^{circ}C)) (V{GS}=0V),(V{DS}=60V) 250 μA
柵源泄漏電流 (V{DS}=0V),(V{GS}=±16V) ±100 nA
柵極閾值電壓 (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250A) 1.2 2.0 V
漏源導(dǎo)通電阻((V{GS}=10V),(I{D}=50A)) 1.13 1.36
漏源導(dǎo)通電阻((V{GS}=4.5V),(I{D}=50A)) 1.65 2.30
正向跨導(dǎo) (V{DS}=15V),(I{D}=50A) 151 S
輸入電容 (V{GS}=0V),(f = 1MHz),(V{DS}=25V) 6660 pF
輸出電容 (V{GS}=0V),(f = 1MHz),(V{DS}=25V) 2953 pF
反向傳輸電容 (V{GS}=0V),(f = 1MHz),(V{DS}=25V) 45 pF
總柵極電荷((V{GS}=4.5V),(V{DS}=30V),(I_{D}=50A)) 41 nC
總柵極電荷((V{GS}=10V),(V{DS}=30V),(I_{D}=50A)) 91 nC
閾值柵極電荷 5 nC
柵源電荷 (V{GS}=4.5V),(V{DS}=30V),(I_{D}=50A) 17.1 nC
柵漏電荷 (V{GS}=4.5V),(V{DS}=30V),(I_{D}=50A) 10.9 nC
平臺電壓 2.9 V
開啟延遲時間 (V{GS}=4.5V),(V{DS}=30V),(I{D}=50A),(R{G}=1Ω) 19 ns
上升時間 (V{GS}=4.5V),(V{DS}=30V),(I{D}=50A),(R{G}=1Ω) 51 ns
關(guān)斷延遲時間 (V{GS}=4.5V),(V{DS}=30V),(I{D}=50A),(R{G}=1Ω) 47 ns
下降時間 (V{GS}=4.5V),(V{DS}=30V),(I{D}=50A),(R{G}=1Ω) 18 ns
正向二極管電壓((T_{J}=25^{circ}C)) (V{GS}=0V),(I{S}=50A) 0.78 1.2 V
正向二極管電壓((T_{J}=125^{circ}C)) (V{GS}=0V),(I{S}=50A) 0.66 V
反向恢復(fù)時間 (V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/μs),(I_{S}=50A) 78 ns
充電時間 (V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/μs),(I_{S}=50A) 36 ns
放電時間 (V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/μs),(I_{S}=50A) 42 ns
反向恢復(fù)電荷 (V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/μs),(I_{S}=50A) 105 nC

熱阻特性

該 MOSFET 的熱阻特性如下: 參數(shù) 符號 單位
結(jié)到殼穩(wěn)態(tài)熱阻 (R_{JC}) 0.9 °C/W
結(jié)到環(huán)境穩(wěn)態(tài)熱阻(注 2) (R_{JA}) 36 °C/W

需要注意的是,整個應(yīng)用環(huán)境會影響熱阻值,這些值并非恒定不變,僅在特定條件下有效。

典型特性曲線

文檔中還提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、漏源泄漏電流與電壓關(guān)系、電容變化、柵源和漏源電壓與總電荷關(guān)系、電阻性開關(guān)時間隨柵極電阻變化、二極管正向電壓與電流關(guān)系、安全工作區(qū)、雪崩峰值電流與時間關(guān)系以及熱特性等。這些曲線有助于工程師更深入地了解該 MOSFET 在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。

封裝與訂購信息

封裝尺寸

NVMJS1D6N06CL 采用 LFPAK8 封裝,其具體尺寸如下: 尺寸 最小值 標稱值 最大值
A 1.10 1.20 1.30
A1 0.00 0.08 0.15
A2 1.10 1.15 1.20
A3 0.25 BSC
b 0.40 0.45 0.50
b4 0.45 0.55 0.65
C 0.19 0.22 0.25
c2 0.19 0.22 0.25
D 4.70 4.80 4.90
D1 3.80 4.00 4.20
D2 2.98 3.08 3.18
D3 0.30 0.40 0.50
D4 0.55 0.65 0.75
E 4.80 4.90 5.00
E1 5.05 5.15 5.25
E2 3.91 3.96 4.01
e 1.27 BSC
e/2 0.635 BSC
H 6.00 6.15 6.30
L 0.50 0.70 0.90
L1 0.15 0.25 0.35
L2 1.10 REF
e 0 4

訂購信息

該產(chǎn)品的訂購型號為 NVMJS1D6N06CLTWG,采用 3000 個/卷帶包裝。關(guān)于卷帶規(guī)格的詳細信息,可參考 Tape and Reel Packaging Specifications Brochure, BRD8011/D。

總結(jié)

onsemi 的 NVMJS1D6N06CL N 溝道 MOSFET 以其小尺寸、低損耗、行業(yè)標準封裝和嚴格的質(zhì)量認證等優(yōu)勢,為電子工程師在設(shè)計高性能、緊湊化的電源管理和功率轉(zhuǎn)換系統(tǒng)時提供了一個優(yōu)秀的選擇。在實際應(yīng)用中,工程師們可以根據(jù)具體的設(shè)計需求,結(jié)合該 MOSFET 的電氣特性和熱阻特性,合理選擇工作條件,以充分發(fā)揮其性能優(yōu)勢。同時,通過參考典型特性曲線,還能更好地優(yōu)化電路設(shè)計,提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。大家在使用這款 MOSFET 時,有沒有遇到過什么特別的問題或者有什么獨特的應(yīng)用經(jīng)驗?zāi)??歡迎在評論區(qū)分享交流。

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