Onsemi NTMFS6H801N MOSFET:高性能單通道N溝道功率器件解析
在電子工程師的設(shè)計(jì)工作中,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)是一種極為常見(jiàn)且關(guān)鍵的功率器件。今天我們就來(lái)詳細(xì)探討一下Onsemi公司的NTMFS6H801N MOSFET,它是一款單通道N溝道功率MOSFET,具備諸多出色的特性,適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景。
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產(chǎn)品特性
緊湊設(shè)計(jì)
NTMFS6H801N采用了5x6 mm的小尺寸封裝,這對(duì)于追求緊湊設(shè)計(jì)的電子產(chǎn)品來(lái)說(shuō)非常友好。在如今電子產(chǎn)品不斷向小型化、集成化發(fā)展的趨勢(shì)下,這種小尺寸封裝能夠有效節(jié)省電路板空間,為設(shè)計(jì)帶來(lái)更大的靈活性。
低損耗特性
- 低導(dǎo)通電阻:其低 $R_{DS(on)}$ 特性能夠最大程度地減少導(dǎo)通損耗,提高功率轉(zhuǎn)換效率。這意味著在電路中使用該MOSFET時(shí),能夠降低能量損耗,減少發(fā)熱,提高整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
- 低柵極電荷和電容:低 $Q_{G}$ 和電容特性可以最大程度地減少驅(qū)動(dòng)損耗,降低對(duì)驅(qū)動(dòng)電路的要求,同時(shí)提高開(kāi)關(guān)速度,使電路能夠更高效地工作。
環(huán)保合規(guī)
該器件為無(wú)鉛產(chǎn)品,并且符合RoHS(有害物質(zhì)限制)標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求,符合現(xiàn)代電子產(chǎn)品對(duì)環(huán)保的趨勢(shì)。
主要參數(shù)
最大額定值
| 參數(shù) | 數(shù)值 |
|---|---|
| 漏源擊穿電壓 $V_{DSS}$ | 80 V |
| 連續(xù)漏極電流($T_{C}=100^{circ}C$) | 111 A |
| 連續(xù)漏極電流($T_{A}=25^{circ}C$) | 16 A |
| 源極電流(體二極管) | 138 A |
需要注意的是,應(yīng)力超過(guò)最大額定值表中列出的數(shù)值可能會(huì)損壞器件。如果超過(guò)這些限制,不能保證器件的功能正常,可能會(huì)導(dǎo)致器件損壞并影響可靠性。
熱阻參數(shù)
| 參數(shù) | 數(shù)值 |
|---|---|
| $R_{θJC}$ | 0.9 $^{circ}C$/W |
| $R_{θJA}$ | 39 $^{circ}C$/W |
整個(gè)應(yīng)用環(huán)境會(huì)影響所示的熱阻值,它們不是常數(shù),僅在特定條件下有效。該器件采用表面貼裝在FR4板上,使用 $650 mm^{2}$、2 oz. 的銅焊盤。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓 $V_{(BR)DSS}$:在 $V{GS}=0 V$,$I{D}=250 mu A$ 時(shí),為80 V。
- 零柵壓漏極電流 $I_{DSS}$:在 $V{GS}=0 V$,$V{DS}=80 V$ 時(shí),有相應(yīng)的數(shù)值。
- 漏源擊穿電壓溫度系數(shù):$V{(BR)DSS}/Delta T{J}$ 為 $mV/^{circ}C$。
- 柵源泄漏電流 $I_{GSS}$:在 $V{DS}=0 V$,$V{GS}=20 V$ 時(shí),為100 nA。
導(dǎo)通特性
- 閾值電壓 $V_{GS(TH)}$:典型值為4.0 V。
- 正向跨導(dǎo):在 $V{DS}=15 V$,$I{D}=50 A$ 時(shí),有相應(yīng)的數(shù)值。
電荷、電容和柵極電阻
- 輸入電容 $C_{ISS}$:4120 pF。
- 輸出電容 $C_{OSS}$:586 pF。
- 反向傳輸電容 $C_{RSS}$:22 pF。
- 輸出電荷 $Q_{OSS}$:87 nC。
- 總柵極電荷 $Q_{G(TOT)}$:64 nC。
- 閾值柵極電荷 $Q_{G(TH)}$:11 nC。
- 柵源電荷 $Q_{GS}$:19 nC。
- 柵漏電荷 $Q_{GD}$:13 nC。
- 平臺(tái)電壓 $V_{GP}$:5.0 V。
開(kāi)關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時(shí)間 $t_{d(ON)}$:25 ns。
- 上升時(shí)間 $t_{r}$:74 ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間 $t_{d(OFF)}$:70 ns。
- 下降時(shí)間 $t_{f}$:19 ns。
漏源二極管特性
- 正向二極管電壓 $V_{SD}$:在 $T{J}=25^{circ}C$,$V{GS}=0 V$,$I{S}=50 A$ 時(shí),為0.8 - 1.2 V;在 $T{J}=125^{circ}C$ 時(shí),為0.7 V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間 $t_{RR}$:64 ns。
- 充電時(shí)間 $t_{a}$:36 ns。
- 放電時(shí)間 $t_$:28 ns。
- 反向恢復(fù)電荷 $Q_{RR}$:98 nC。
典型特性曲線
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,這些曲線能夠幫助工程師更好地了解該MOSFET在不同條件下的性能表現(xiàn)。
- 導(dǎo)通區(qū)域特性曲線:展示了不同 $V{GS}$ 下,漏極電流 $I{D}$ 與漏源電壓 $V_{DS}$ 的關(guān)系。
- 傳輸特性曲線:體現(xiàn)了不同結(jié)溫 $T{J}$ 下,漏極電流 $I{D}$ 與柵源電壓 $V_{GS}$ 的關(guān)系。
- 導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系曲線:可以看到導(dǎo)通電阻 $R{DS(on)}$ 隨柵源電壓 $V{GS}$ 的變化情況。
- 導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵壓關(guān)系曲線:反映了導(dǎo)通電阻 $R{DS(on)}$ 與漏極電流 $I{D}$ 和柵壓的關(guān)系。
- 導(dǎo)通電阻隨溫度變化曲線:顯示了導(dǎo)通電阻 $R{DS(on)}$ 隨結(jié)溫 $T{J}$ 的變化趨勢(shì)。
- 漏源泄漏電流與電壓關(guān)系曲線:展示了漏源泄漏電流 $I{DSS}$ 與漏源電壓 $V{DS}$ 的關(guān)系。
- 電容變化曲線:體現(xiàn)了輸入電容 $C{ISS}$、輸出電容 $C{OSS}$ 和反向傳輸電容 $C{RSS}$ 隨漏源電壓 $V{DS}$ 的變化情況。
- 柵源與總電荷關(guān)系曲線:給出了柵源電荷 $Q{GS}$ 和柵漏電荷 $Q{GD}$ 與總柵極電荷 $Q_{G}$ 的關(guān)系。
- 電阻性開(kāi)關(guān)時(shí)間隨柵極電阻變化曲線:顯示了開(kāi)關(guān)時(shí)間隨柵極電阻 $R_{G}$ 的變化情況。
- 二極管正向電壓與電流關(guān)系曲線:展示了二極管正向電壓 $V{SD}$ 與源極電流 $I{S}$ 的關(guān)系。
- 最大額定正向偏置安全工作區(qū)曲線:幫助工程師確定器件在不同條件下的安全工作范圍。
- 雪崩電流與時(shí)間關(guān)系曲線:體現(xiàn)了雪崩電流 $I_{PEAK}$ 與雪崩時(shí)間的關(guān)系。
- 熱響應(yīng)曲線:包括瞬態(tài)熱阻抗 $R{θJA}(t)$ 和 $R{θJC}(t)$ 隨矩形脈沖持續(xù)時(shí)間 $t$ 的變化情況。
封裝與訂購(gòu)信息
封裝
該器件采用DFN5(SO - 8FL)封裝,文檔中給出了詳細(xì)的機(jī)械尺寸圖和封裝尺寸參數(shù),方便工程師進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)。
訂購(gòu)信息
具體的器件型號(hào)為NTMFS6H801NT1G,標(biāo)記為6H801N,采用DFN5(無(wú)鉛)封裝,以1500個(gè)/卷帶和卷軸的方式發(fā)貨。
總結(jié)
Onsemi的NTMFS6H801N MOSFET憑借其緊湊的設(shè)計(jì)、低損耗特性和出色的電氣性能,在功率電子領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí),可以根據(jù)其參數(shù)和典型特性曲線,合理選擇和使用該器件,以滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求。同時(shí),在使用過(guò)程中,一定要注意不要超過(guò)其最大額定值,以確保器件的正常工作和可靠性。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過(guò)類似MOSFET的選型和使用問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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MOSFET
+關(guān)注
關(guān)注
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