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通用運(yùn)放測(cè)試儀的制作,Operational Amplifier Testing

454398 ? 2018-09-20 19:17 ? 次閱讀
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通用運(yùn)放測(cè)試儀的制作,Operational Amplifier Testing

關(guān)鍵字:通用運(yùn)放測(cè)試儀的制作

利用運(yùn)算放大器輸入的比較特性設(shè)計(jì),制作運(yùn)算放大器測(cè)試儀能夠進(jìn)行快速、準(zhǔn)確地判測(cè)所測(cè)運(yùn)放的好壞,在元器件選擇中十分有用。筆者在指導(dǎo)學(xué)生實(shí)訓(xùn)過(guò)程中。用此小儀器去挑選購(gòu)買(mǎi)的運(yùn)算放大器{包括部分拆機(jī)品}效果非常好。

電路原理
測(cè)試儀基本設(shè)計(jì)思路是將待測(cè)運(yùn)算放大器(圖中IC1,IC2,IC3,IC4)接成比較器結(jié)構(gòu).當(dāng)V+>V-時(shí),Vout為正電源狀態(tài).接近Vcc,發(fā)光二極管Vd1發(fā)光。當(dāng)V+V+.Vd2發(fā)光。電阻R5、R6、C1、C2構(gòu)成電源分裂電路。將9V電源分成2*4.5V。使Ve=0v即Vdd=+4.5v,Vee=-4.5v.滿足運(yùn)算放大器雙電源應(yīng)用的要求。
電路中R7-R14為輸入端串聯(lián)電阻,目的是當(dāng)測(cè)試多運(yùn)算放大器時(shí)。其中某一運(yùn)算放大器輸入端損壞后不影響其他運(yùn)算放大器的測(cè)試,電路設(shè)計(jì)中用二個(gè)8腳,一個(gè)14腳DIP插座.從而滿足通用型單,雙,四運(yùn)放的測(cè)試。測(cè)試儀原理見(jiàn)下圖。
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運(yùn)放測(cè)試儀的調(diào)試
測(cè)試儀有二個(gè)八腳一個(gè)十四腳集成電路DIP插座,結(jié)合發(fā)光二極管和電源構(gòu)成。插座1用于測(cè)量單運(yùn)放,7腳接電源正.4腳接電源負(fù),2腳輸入負(fù).3腳輸入正6腳輸出。插座2測(cè)量雙運(yùn)放,8腳為電源正,4腳為電源負(fù),2,6腳輸入負(fù)。3,5腳輸入正.1,7腳為輸出。插座3測(cè)量四運(yùn)放,4腳為電源正,11腳為電源負(fù),2、6、9、13腳輸入負(fù)3、5、10、12腳輸入正1、7、8、14腳為輸出。電路圖中IC1、IC2、IC3是作為原理給于說(shuō)明。實(shí)際上插座1,插座2,插座3的接線應(yīng)按以上進(jìn)行連接,只要接線正確,幾乎不用調(diào)試。R5、R6應(yīng)盡可能相等.確保為虛地。R5、R6由于是電源裂變電阻又是發(fā)光二極管的限流電阻。可在200—510歐間選擇。阻值小,發(fā)光亮,耗電大。阻值大,發(fā)光弱,不易觀察。R1、R2、R3、R4應(yīng)盡可能相等.保證偏置為“地”。阻值在10k—100k中間選擇Rp為同數(shù)量級(jí)的線性電位器,在中間做一個(gè)刻度線,以便調(diào)節(jié)。(電路圖上所標(biāo)電阻的數(shù)值僅供參考,制作時(shí)可根據(jù)手中已有的電阻去做選擇)VD1-VD8選擇異色發(fā)光二極管便于區(qū)分。測(cè)量前關(guān)掉電源,將插入待測(cè)集成電路,單運(yùn)放,雙運(yùn)放,四運(yùn)放要分別插入對(duì)應(yīng)的插座中,注意管腳位置不能插反,然后閉合K調(diào)節(jié)Rp觀察,根據(jù)發(fā)光管狀態(tài)判其好壞,測(cè)試完后斷電,取下集成電路。注意不能帶電插拔集成電路,以免造成集成電路的損壞。

運(yùn)放測(cè)試儀使用方法
將被測(cè)單運(yùn)放(IC1)插入插座DIP1中,接通電源向下調(diào)節(jié)Rp,Vd1發(fā)光:向上調(diào)節(jié)Rp,Vd2發(fā)光,當(dāng)RP處在中間位置時(shí)。輸出為零,Vd1、Vd2發(fā)微光。在進(jìn)行雙運(yùn)放測(cè)試時(shí),把被測(cè)雙運(yùn)放(IC1.IC2)插入插座DIP2中,向下調(diào)節(jié)Rp,Vd1、Vd3亮。向上調(diào)節(jié)Rp,Vd2、Vd4發(fā)光;在對(duì)四運(yùn)放(IC1,IC2,IC3,IC3)進(jìn)行測(cè)試時(shí)。被測(cè)運(yùn)放插入插座DIP3中,向下調(diào)節(jié)Rp。Vd1、Vd3、Vd5、Vd7發(fā)光;向上調(diào)節(jié)Rp.Vd2、Vd4、Vd6、Vd8發(fā)光。測(cè)試中不必去尋找中點(diǎn),只要觀察發(fā)光管的變化狀態(tài),就能判斷其比較特性的優(yōu)劣。對(duì)于多運(yùn)放的測(cè)試。應(yīng)當(dāng)慢慢調(diào)節(jié)Rp.以便觀察發(fā)光二極管的發(fā)光亮度及亮滅時(shí)間差異來(lái)判斷其多運(yùn)放的一致特性。如果在測(cè)試中調(diào)節(jié)RP時(shí)只有一種狀態(tài),而不變化,說(shuō)明該運(yùn)放已失去比較特性而損壞,不能使用。

小結(jié)
筆者用此小儀器對(duì)單運(yùn)放LM741.CA3140,CA3130,NE5534。雙運(yùn)放LM358,MC1458,TL062.TL082.四運(yùn)放LM324,TL084,LM747進(jìn)行了測(cè)試。效果理想.特別是對(duì)拆機(jī)元件進(jìn)行篩選,非常有用。

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