一些常見失效切片分析如下：

1

電鍍銅延展性不佳或板材Z-CTE較大，造成孔中間的孔銅全周拉斷且斷口較大，如圖10所示：

2

金屬疲勞產(chǎn)生的微裂，呈45°斜向微裂，常沿著晶格出現(xiàn)，經(jīng)常裂在玻纖與樹脂交界處的銅壁，孔銅開裂附近之部份基材也有微裂，如圖11所示：

3

孔角斷裂，主要是應(yīng)力移往板面并出現(xiàn)杠桿式伸縮，金屬疲勞和應(yīng)力集中引起，如圖12所示：

4

孔壁和孔環(huán)的拉裂，拉裂的孔環(huán)呈Z方向的走位，其主要是多次焊接高溫或材料Z-CTE較大造成， 如圖13所示：

5

孔環(huán)銅箔的斷裂，鉆孔釘頭再結(jié)晶后銅箔弱化，在疲勞試驗(yàn)中被拉裂，如圖14所示：

6

盲孔與底墊分離，主要是底墊銅面出現(xiàn)鈍化膜，或熱應(yīng)力較大（回流曲線熱量較高、多次焊接、局部過熱）造成，如圖15所示：

7

盲孔根部斷裂，主要是電鍍藥水老化或雜質(zhì)較多，造成鍍銅質(zhì)量下降，低電流處結(jié)晶疏松造成，如圖16所示：

熱沖擊試驗(yàn)來(lái)源于IPC-6012C 3.10.8章節(jié)的要求，依照IPC-TM-650 測(cè)試方法2.6.7.2測(cè)試，一般常用FR4材料的PCB選用條件D，在經(jīng)過高低溫循環(huán)100次之后，第一次高溫電阻和最后一次高溫電阻的變化率不能超過10%，并且試驗(yàn)后做顯微剖切的鍍覆孔完整性合格。

TCT：參考標(biāo)準(zhǔn)JESD22-A104E，兩箱式Air to Air溫度循環(huán)試驗(yàn)(Temperature Cycling Test)，共有13種高低溫匹配與4種留置時(shí)間CycleTime(1、5、10、15分鐘)的級(jí)別對(duì)應(yīng)，以供用戶參考，如下圖2和圖3所示：

TST：參考標(biāo)準(zhǔn)JESD22-A106B，兩槽式Liquid to Liquid高低溫液體中之循環(huán)試驗(yàn)，特稱為Thermal ShockTest熱沖擊試驗(yàn)，試驗(yàn)條件如下圖4所示:

不管是TCT或是TST試驗(yàn)，其試驗(yàn)時(shí)間都是很長(zhǎng)的，而IST時(shí)間明顯小于TCT和TST，常見的溫度循環(huán)測(cè)試曲線如圖5所示，由圖可以看出，液冷式的TST試驗(yàn)，高低溫轉(zhuǎn)換速率是最大的，IST其次，TCT最小，而高低溫轉(zhuǎn)換速率越大，其對(duì)材料的沖擊也隨之增加，也就更容易失效：

IST試驗(yàn)雖然試驗(yàn)時(shí)間最短，但其也有不足之處，它的高低溫溫差是最小的，溫差決定了測(cè)試樣品的工作溫度范圍，溫差越大，代表樣品能工作在更高或更低的溫度，如圖6所示：

IST因?yàn)闇y(cè)試時(shí)間短，溫度轉(zhuǎn)換速率大，對(duì)測(cè)試樣品的疲勞老化影響也較大，故可以使試樣早早發(fā)生失效，比對(duì)圖7的IST失效數(shù)據(jù)和圖8的TCT失效數(shù)據(jù)，可見在相同的條件下，IST試驗(yàn)很早就發(fā)生的失效：

在PCB的各種溫度循環(huán)試驗(yàn)中，其主要失效機(jī)理是因?yàn)榘宀牡腪軸CTE遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于孔銅的CTE，在溫度劇烈變化的過程中，各種應(yīng)力集中處容易被Z軸膨脹拉斷，常見的失效模式見圖9所示：