動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2026-03-03 10:57

  【產(chǎn)品選型】從研發(fā)到預(yù)認(rèn)證，EMI測試設(shè)備該怎么選？

  

  NO.1在產(chǎn)品開發(fā)的賽道上，最令人崩潰的瞬間莫過于：樣機已經(jīng)定型，卻在最后的EMC認(rèn)證環(huán)節(jié)遭遇“紅燈”。那一刻，意味著高昂的整改費用和錯失的市場窗口。越早在研發(fā)階段引入EMI測試，修復(fù)問題的成本就越低。但面對市面上琳瑯滿目的頻譜儀、示波器和接收機，工程師到底該如何根據(jù)自己的產(chǎn)品特性，挑選一把最趁手的“排雷”利器？EMI預(yù)認(rèn)證解決方案指南選擇最適合的EMI調(diào)試

  EMI電磁 接收機 測試設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2026-02-28 11:51

  碳化硅MOS管測試技術(shù)及儀器應(yīng)用（上）

  

  碳化硅（SiC）MOS管作為寬禁帶半導(dǎo)體的核心器件，憑借高耐壓、高頻化、低損耗及耐高溫特性，在新能源汽車、光伏逆變、工業(yè)電源等領(lǐng)域逐步替代傳統(tǒng)硅基IGBT器件。精準(zhǔn)的測試技術(shù)是挖掘其性能潛力、保障系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵，而示波器作為信號捕獲與分析的核心儀器，在動態(tài)特性表征中發(fā)揮著不可替代的作用。本文將系統(tǒng)闡述碳化硅MOS管的核心測試項目、技術(shù)要點，重點解析示波器及

  MOS 半導(dǎo)體 參數(shù)分析儀 碳化硅

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• 發(fā)布了文章 2026-02-11 11:22

  羅德與施瓦茨以全新44 GHz FPL頻譜分析儀及40 MHz實時分析功能重塑中端市場格局

  

  羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S”）通過推出FPL1044頻譜分析儀及適用于全系FPL系列的全新40MHz實時頻譜分析（RTSA）選件，進一步拓展其中端儀器產(chǎn)品組合。R&SFPL1044在實現(xiàn)高達44GHz高頻性能的同時，追求卓越性價比。通用的RTSA選件則為FPL用戶賦予強大的實時分析能力。圖：搭載新RTSA選件的R&SFPL1044可實現(xiàn)高達44GHz的4

  儀器 羅德與施瓦茨 頻譜分析儀

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• 發(fā)布了文章 2026-02-05 17:19

  當(dāng)電子測試測量遇上電磁干擾：儀器觸控“罷工”與波形“跳脫”的真相

  

  無處不在的電磁干擾在工業(yè)生產(chǎn)線、射頻實驗室、電力檢測現(xiàn)場等復(fù)雜場景中，數(shù)字示波器作為“信號偵察兵”的角色至關(guān)重要。但不少工程師遇到過棘手的狀況：屏幕觸控響應(yīng)遲滯、頻繁誤觸，精心調(diào)試的波形出現(xiàn)無規(guī)律抖動，高頻毛刺疊加或基線漂移，嚴(yán)重時測量數(shù)據(jù)完全失真，給故障排查與產(chǎn)品研發(fā)帶來巨大阻礙。這些問題的罪魁禍?zhǔn)?，正是無處不在的電磁干擾(EMI)。電磁干擾對示波器的影響

  儀器 泰克 示波器

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• 發(fā)布了文章 2026-02-02 14:37

  “隱身”電機的轉(zhuǎn)速測量，用這招“聽”見答案

  

  親愛的品質(zhì)工程師、研發(fā)同仁，您是否也常為這些轉(zhuǎn)速問題所困擾？為了測量轉(zhuǎn)速，耗費時間在安裝檢測齒輪或者貼反光片等準(zhǔn)備工作；為一個轉(zhuǎn)速數(shù)據(jù)，不得不破壞樣品，耗時耗力，卻無法用于批量質(zhì)檢；生產(chǎn)線上，想檢測電吹風(fēng)、電動牙刷、剃須刀等“隱身”電機的轉(zhuǎn)速，卻苦于電機完全封裝，旋轉(zhuǎn)軸不外露，無法安裝傳感器；01小野測器FT-2500高級轉(zhuǎn)速表小野測器FT-2500高級轉(zhuǎn)速

  測量 電機 轉(zhuǎn)速表

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• 發(fā)布了文章 2026-01-21 09:22

  紋波測量 | 下篇：自動化、高精度、快速度，頻選測量法的技術(shù)內(nèi)核與價值實現(xiàn)

  

  在上篇中，我們討論了無效紋波測量的原因，揭示了寬帶測量法在紋波測試中的缺陷——無法區(qū)分“固有紋波”與“注入紋波”，導(dǎo)致測試結(jié)果失真。而頻選（窄帶）測量方法只鎖定目標(biāo)頻率的信號，因此可以從根本上解決這一難題。本篇中，我們將深入頻選測量的技術(shù)內(nèi)核，探討其性能權(quán)衡，并了解像RippleNX這樣的自動化解決方案，是如何通過硬件與固件的協(xié)同優(yōu)化，兼顧濾波精度與測試速度

  測試 測量 自動化

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• 發(fā)布了文章 2026-01-19 10:25

  AI服務(wù)器量產(chǎn)關(guān)鍵：高效安規(guī)測試方案解決多點測試挑戰(zhàn)

  

  全球AI應(yīng)用浪潮正推動服務(wù)器架構(gòu)演進，其高功耗與高密度的特點對電氣安全與生產(chǎn)效率提出了更嚴(yán)苛的要求。而當(dāng)產(chǎn)品進入量產(chǎn)階段，安規(guī)測試不僅是合規(guī)必需，更直接關(guān)系到產(chǎn)線效率與交付周期。隨著AI服務(wù)器技術(shù)持續(xù)升級，制造商普遍面臨以下三大安規(guī)測試痛點：1.多點測試流程復(fù)雜2.人工操作依賴度高，易產(chǎn)生誤差與風(fēng)險3.測試數(shù)據(jù)管理困難那么，制造商如何在全球市場量產(chǎn)壓力下，兼

  AI 安規(guī)測試 服務(wù)器

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• 發(fā)布了文章 2026-01-14 09:02

  【解讀NTN④】從測試角度透視相控陣天線測試（上）

  

  PART-01前言相控陣天線已廣泛應(yīng)用于移動通信和衛(wèi)星通信，在OTA暗室中使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行校準(zhǔn)、無源和有源測試已經(jīng)較為成熟。但對于內(nèi)置本振的相控陣由于輸入輸出頻率不一致且本振無法接入，常規(guī)測試方法無法進行穩(wěn)定的幅相測試。本期將介紹一種新穎的測試方法，該方法巧妙使用R&SZNA矢網(wǎng)輸出雙音信號對內(nèi)置本振的相控陣天線進行近場測試。相控天線陣面的集成度越來越

  天線 天線測試 相控陣 羅德與施瓦茨

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• 發(fā)布了文章 2026-01-13 11:38

  普通服務(wù)器電源與AI服務(wù)器電源的區(qū)別（下）

  

  負(fù)載調(diào)整率方面的區(qū)別負(fù)載調(diào)整率反映了電源在負(fù)載變化時輸出電壓的穩(wěn)定能力。普通服務(wù)器在實際運行過程中，負(fù)載會隨著工作任務(wù)的變化而有所改變，但變化幅度相對較為平穩(wěn)。良好的負(fù)載調(diào)整率能夠確保電源在不同負(fù)載下都能提供穩(wěn)定的電壓輸出，一般要求普通服務(wù)器電源的負(fù)載調(diào)整率不超過±0.5%。例如，當(dāng)電源從最小負(fù)載切換到最大負(fù)載時，輸出電壓的變化不應(yīng)超過額定電壓的0.5%。A

  AI 服務(wù)器 電源

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• 發(fā)布了文章 2026-01-12 09:31

  普通服務(wù)器電源與AI服務(wù)器電源的區(qū)別（上）

  

  引言服務(wù)器是數(shù)據(jù)中心的核心設(shè)備，其穩(wěn)定運行依賴可靠的電源供應(yīng)。隨著AI技術(shù)的飛速發(fā)展，AI服務(wù)器大量涌現(xiàn)，與普通服務(wù)器在應(yīng)用場景等方面存在顯著差異，這也使得兩者的電源存在諸多不同。本研究報告旨在探討普通服務(wù)器電源與AI服務(wù)器電源的區(qū)別，為相關(guān)測試及應(yīng)用工作提供參考。輸出電壓精度方面的區(qū)別輸出電壓精度是服務(wù)器電源的關(guān)鍵指標(biāo)之一。普通服務(wù)器內(nèi)的各種電子元件對電壓

  AI 服務(wù)器 電源

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