德思特測試測量文章

• 技術(shù) | ADC/DAC芯片測試研討會筆記請查收！2025-06-24 14:39

  

  6月19日，《ADC/DAC芯片測試前沿：德思特ATX系統(tǒng)高效方案與實戰(zhàn)攻略》線上研討會圓滿結(jié)束。在直播間收到一些觀眾的技術(shù)問題，我們匯總了熱點問題并請講師詳細解答，在此整理分享給大家，請查收！

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• 技術(shù)干貨 | 深度解讀GB/T 45086.1-2024 EMC部分關(guān)鍵項2025-06-23 10:49

  

  國標GB/T 45086.1-2024嚴控車載衛(wèi)星定位系統(tǒng)電磁兼容性（EMC），尤其輻射抗擾度測試。德思特提供精準解決方案：BCI測試與電波暗室方案，覆蓋20MHz-2000MHz全頻段，提升測試效率，助您輕松滿足新標要求！

  EMC測試 標準解讀 車載 4353瀏覽量

• 技術(shù)干貨 | DAC靜態(tài)參數(shù)計算全解析：從偏移誤差到總未調(diào)整誤差2025-06-20 11:49

  

  上一期我們詳解了DAC的核心術(shù)語，本期繼續(xù)深入探討DAC靜態(tài)參數(shù)計算！從偏移誤差、增益誤差到INL/DNL，再到未調(diào)整總誤差（TUE），一文掌握D/A轉(zhuǎn)換器的關(guān)鍵性能指標！

  半導(dǎo)體測試 2055瀏覽量

• 技術(shù)干貨 | 從偏移誤差到電源抑制比，DAC核心術(shù)語全解析2025-06-19 10:38

  

  偏移誤差、增益誤差、INL/DNL、轉(zhuǎn)換時間……這些關(guān)鍵指標如何定義？如何影響DAC性能？本文DAC核心術(shù)語全解析帶您一文掌握關(guān)鍵參數(shù)！

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• 直播 | GB/T 45086與ISO11451標準深度解讀研討會筆記請查收！2025-06-18 11:06

  

  6月12日，《德思特GB/T 45086與ISO11451標準深度解讀》線上研討會圓滿結(jié)束。感謝大家的觀看與支持！在直播間收到一些觀眾的技術(shù)問題，我們匯總了熱點問題并請講師詳細解答，在此整理分享給大家，請查收！

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• 技術(shù)干貨 | GB/T 45086.1-2024車載定位新國標實施，自動駕駛安全再強化！2025-06-12 16:03

  

  GB/T 45086.1-2024《車載定位系統(tǒng)技術(shù)要求》全面支持北斗三代技術(shù)，新增87項測試規(guī)范，覆蓋定位精度、抗干擾等關(guān)鍵指標，為自動駕駛安全保駕護航。車企如何快速達標？德思特GNSS模擬器為您提供高效、全面的測試方案！

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