如下圖所示：左邊是普通寄存器，右邊是可掃描寄存器，D端前面加一個(gè)二選一的MUX，選擇端是scan_enable，為1時(shí)選擇SI端，為0時(shí)選擇D端。
2023-09-15 10:10:37
9584 
隨著現(xiàn)代集成電路工藝的發(fā)展，芯片制成越來(lái)越來(lái)精密，出現(xiàn)缺陷的可能性也越來(lái)越高，有時(shí)候一個(gè)微不足道的影響就可能導(dǎo)致芯片報(bào)廢
2023-09-15 11:29:258013 
編寫(xiě)好的程序下載之后，在帶有仿真器的情況下是可以正確運(yùn)行的，但是將仿真器拔掉之后就無(wú)法啟動(dòng)了。我將程序下到controlCard上面，程序可以脫離仿真器運(yùn)行，但是到自己的板子上就不行了默認(rèn)的引導(dǎo)
2020-05-14 09:01:58
51單片機(jī)仿真器驅(qū)動(dòng)安裝失敗的原因是什么？如何解決？
2021-10-27 08:00:13
我在測(cè)試 MBIST 時(shí)觀察到 總線錯(cuò)誤 。為了測(cè)試所有SRAM，我使用 ECCMAP 寄存器觸發(fā)故障，但這導(dǎo)致了帶有陷阱4 和 2類(lèi)的 總線錯(cuò)誤 。我還觀察到，訪問(wèn)損壞的內(nèi)存時(shí)會(huì)報(bào)告 ALM7
2025-07-25 06:49:15
求助各位大佬，本人需要在手頭一個(gè)公司已做出來(lái)的m0內(nèi)核的mcu上移植freertos，但是一直有問(wèn)題。我進(jìn)行移植的時(shí)候（使用工具為keil mdk），先是有一個(gè)已經(jīng)成功的裸機(jī)程序，然后將內(nèi)核相關(guān)
2020-07-13 10:36:06
MBIST是測(cè)試嵌入式存儲(chǔ)器的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法。MBIST通過(guò)根據(jù)測(cè)試算法執(zhí)行對(duì)存儲(chǔ)器的讀取和寫(xiě)入序列來(lái)工作。存在許多行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試算法。MBIST控制器生成正確的讀取和寫(xiě)入序列。ARM L210 MBIST控制器用于與ARM L210一起執(zhí)行二級(jí)高速緩存RAM的內(nèi)存測(cè)試。
2023-08-02 08:07:10
執(zhí)行模式將嵌入式內(nèi)存內(nèi)容轉(zhuǎn)儲(chǔ)到調(diào)試器，使其適用于芯片啟動(dòng)和調(diào)查軟件故障，如高速緩存一致性錯(cuò)誤。
它允許快速測(cè)試內(nèi)存和內(nèi)存保護(hù)邏輯。
因此，MBIST事務(wù)是使用IP核時(shí)鐘連續(xù)執(zhí)行的，因此，可以通過(guò)以全功能
2023-08-17 07:10:53
MBIST是測(cè)試嵌入式存儲(chǔ)器的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法。MBIST通過(guò)根據(jù)測(cè)試算法執(zhí)行對(duì)存儲(chǔ)器的讀取和寫(xiě)入序列來(lái)工作。存在許多行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試算法。
MBIST控制器生成對(duì)RAM的所有位置的正確讀取和寫(xiě)入序列，以
2023-08-02 17:33:52
DAP仿真器 BURNER
2023-03-28 13:06:20
點(diǎn)擊紅色error status - scan顯示’scan pattern streaming error‘。用的scan config是hadamard 1, 通常掃描時(shí)間是1.3秒左右，發(fā)生錯(cuò)誤前是2.7秒。請(qǐng)問(wèn)如何解決？謝謝
2025-02-21 06:49:41
FPGA中進(jìn)行Test JTAG Chain時(shí)無(wú)法識(shí)別出芯片型號(hào)
2018-12-19 14:52:31
自己畫(huà)焊接的FPGA板子（各個(gè)電源部分正確），芯片EP4CE6E22C8，用Quartus II 編寫(xiě)仿真好程序后，下載錯(cuò)誤FaiLED；（ Can't scan JTAG chain. Do
2020-06-12 21:12:01
() failed with LIBUSB_ERROR_NOT_SUPPORTED
Info : clock speed 1000 kHz
Error: JTAG scan chain interrogation
2023-08-16 06:35:44
MBIST是測(cè)試嵌入式存儲(chǔ)器的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法。MBIST通過(guò)根據(jù)測(cè)試算法執(zhí)行對(duì)存儲(chǔ)器的讀取和寫(xiě)入序列來(lái)工作。存在許多行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試算法。
MBIST控制器生成對(duì)RAM的所有位置的正確讀取和寫(xiě)入序列，以
2023-08-02 14:47:18
最近遇到RT1052芯片啟動(dòng)失敗問(wèn)題，10次里有5次啟動(dòng)失敗，但接上示波器觀察RT1052電源時(shí)序波形后，啟動(dòng)失敗問(wèn)題被修復(fù)，請(qǐng)問(wèn)根本問(wèn)題點(diǎn)是什么，如何解決
2025-03-27 07:00:45
kHz
Error: JTAG scan chain interrogation failed: all ones
Error: Check JTAG interface, timings
2024-01-10 06:04:07
STC燒錄程序失敗是為什么？如何解決？
2022-02-09 07:47:31
在使用STM32進(jìn)行軟件仿真時(shí)，可能會(huì)遇到很多問(wèn)題，最常見(jiàn)的當(dāng)然如標(biāo)題所示：STM32 軟件仿真失敗 ： “****no *‘read’ ，permission****“ 還有其他很多問(wèn)題比如
2015-10-16 18:32:43
of the boundary scan TAP.2. Then, for each IR shift, the scan chain contains 9 bits (=5+4) and the unused TAP
2018-08-31 12:38:45
USB Blaster仿真器 BURNER 5V
2023-03-28 13:06:20
一般，在添加好工程所需要的design sources和simulation sources之后，會(huì)進(jìn)行仿真來(lái)驗(yàn)證工程是否有達(dá)到預(yù)期的效果，但是在Run Simulation-&gt
2025-10-31 06:24:20
物聯(lián)網(wǎng)平臺(tái)OTA升級(jí)失敗，提示：Not digestSign key in json doc of OTA，如下圖 請(qǐng)問(wèn)如何解決呢？
2023-03-13 07:07:19
編譯失敗，如何解決
2022-01-11 07:29:19
你好 求助keil ch552 添加mcu到keil 釋放資源失敗。。
2022-07-19 06:24:30
寫(xiě)了一個(gè)VI 控制儀器，需要call一個(gè)廠商自己寫(xiě)的DLL，如果使用管理員權(quán)限打開(kāi)labview，call這個(gè)DLL可以成功，但如果把這個(gè)VI build 成exe之后即使是使用管理員權(quán)限打開(kāi)，call這個(gè)DLL依然失敗，報(bào)錯(cuò)
2018-07-12 01:14:09
rt-thread在初始化一個(gè)（物理網(wǎng)卡只有一個(gè)）網(wǎng)卡之后，還想要再次添加一張?zhí)摂M網(wǎng)卡，調(diào)用netif_add沒(méi)有效果，應(yīng)該如何解決添加虛擬網(wǎng)卡的問(wèn)題？求大神幫助
2024-07-10 08:18:46
利用USMART調(diào)試實(shí)驗(yàn)55網(wǎng)絡(luò)通信中485_send_data失敗(步驟應(yīng)該沒(méi)問(wèn)題，沿用的也是原子的485程序沒(méi)自己寫(xiě)），沒(méi)反應(yīng)也沒(méi)報(bào)錯(cuò)，同樣的在usmart中添加了一個(gè)蜂鳴器的調(diào)用函數(shù),可以調(diào)用起作用，想問(wèn)是不是在這個(gè)例程中485被占用了，如何解決？
2019-10-30 04:35:31
通過(guò) 3 次測(cè)試注釋掉了 gang1 并且只運(yùn)行了 gang0 測(cè)試時(shí)，出現(xiàn)了一個(gè)問(wèn)題。通過(guò) WinIdea 調(diào)試發(fā)現(xiàn)，在 gang0 的 mbist 測(cè)試完成并啟用 dcache 之后，mcu 在恢復(fù)
2024-01-23 07:18:50
anyway...Error:jtag.c:1444 jtag_validate_chain(): Error validating JTAG scan chain, IR mismatch, scan
2019-10-27 22:26:47
MBIST概述MBIST的架構(gòu)
2020-12-10 07:00:27
向MCU下載程序的時(shí)候沒(méi)有找到相關(guān)MCU的FLASH文件，只要把正確的MCU的FLASH描述文件路徑加載給MDK即可解決問(wèn)題?，F(xiàn)在以HC32L136K8TA芯片為例來(lái)說(shuō)明如何解決。在HC...
2021-12-06 07:36:11
的狀態(tài)。這種非商用芯片專(zhuān)用于構(gòu)成在線仿真器，當(dāng)用戶(hù)程序在仿真器中調(diào)試完成后，編程到商用MCU芯片中，應(yīng)用到用戶(hù)系統(tǒng)。在商用MCU中，這些仿真接口信號(hào)不會(huì)出現(xiàn)在芯片封裝的管腳上。在Flash MCU沒(méi)有被
2012-03-29 16:09:50
的狀態(tài)。這種非商用芯片專(zhuān)用于構(gòu)成在線仿真器，當(dāng)用戶(hù)程序在仿真器中調(diào)試完成后，編程到商用MCU芯片中，應(yīng)用到用戶(hù)系統(tǒng)。在商用MCU中，這些仿真接口信號(hào)不會(huì)出現(xiàn)在芯片封裝的管腳上。在Flash MCU沒(méi)有被
2012-03-29 16:14:23
本帖最后由 yong_759 于 2017-9-13 22:59 編輯
如何解決仿真這個(gè)問(wèn)題
2017-09-13 22:56:47
如何解決PWM關(guān)閉之后電平不一的問(wèn)題？
2022-02-16 06:04:36
關(guān)閉時(shí)MCU能繼續(xù)完成相應(yīng)操作，而如果此時(shí)重新上電，卻經(jīng)常遇到系統(tǒng)無(wú)法啟動(dòng)的問(wèn)題。那么這到底是怎么回事呢?遇到這種情況又該如何處理呢? 一、上電失敗問(wèn)題分析 1. 上電緩慢引起的啟動(dòng)失敗 對(duì)于
2018-05-31 11:33:04
關(guān)閉時(shí)MCU能繼續(xù)完成相應(yīng)操作，而如果此時(shí)重新上電，卻經(jīng)常遇到系統(tǒng)無(wú)法啟動(dòng)的問(wèn)題。那么這到底是怎么回事呢?遇到這種情況又該如何處理呢? 一、上電失敗問(wèn)題分析 1.上電緩慢引起的啟動(dòng)失敗 對(duì)于需要進(jìn)行掉電
2018-11-21 15:56:36
。Scan stitching 是把上一步中得到的SDFF的Q和SI連接在一起形成scan chain。在芯片的頂層有全局的SE信號(hào)，以及scan chain的輸入輸出信號(hào)：SI 和 SO。通過(guò)scan
2016-06-14 14:20:20
\com.st.stm32cube.ide.mcu.externaltools.cubeprogrammer.win32_2.0.100.202110141430\tools\bin\ExternalLoader在調(diào)試配置中，選中 ExternalLodaer，然后按 Scan
2022-12-08 06:33:09
招聘三個(gè)人1、專(zhuān)做ic設(shè)計(jì)流程的高級(jí)工程師2、主要做pcie開(kāi)發(fā)的高級(jí)工程師3、dft負(fù)責(zé)人，全模塊都負(fù)責(zé)過(guò)的高級(jí)工程師（ATPG，MBIST，SCAN 等）招聘2-5年的數(shù)字ic設(shè)計(jì)工程師3人，主要是RTL代碼編寫(xiě)能力，再加上后期的仿真驗(yàn)證求推薦，***@qq.com
2016-09-07 17:04:19
S32k342 的預(yù)期值？因?yàn)檫@意味著 LBIST_Test 是失敗的。
執(zhí)行函數(shù)后：Bist_GetExecStatus（） 在 Bist_Run（） 之后，我得到了值
2025-03-21 06:29:59
如果用JLINK下載程序，不小心點(diǎn)了一下secure chip之后，芯片就處于保護(hù)狀態(tài)下，不能連接到JLINK，也不能用jlink下載程序，擦程序也不行。請(qǐng)問(wèn)該如何解鎖芯片，才能再次下載程序
2024-01-11 07:24:21
用VCS仿真沒(méi)問(wèn)題，用vivado仿真時(shí)添加rtl時(shí)就出現(xiàn)錯(cuò)誤；
出錯(cuò)在rtl里斷言語(yǔ)法上（assert property），這會(huì)導(dǎo)致編譯不通過(guò)；該如何解決？
2023-08-16 07:47:06
的延長(zhǎng)，下電時(shí)由于電容放電緩慢，下電時(shí)間也會(huì)更長(zhǎng)。而上下電時(shí)間的延長(zhǎng)，對(duì)于MCU來(lái)說(shuō)，往往會(huì)帶來(lái)意外的致命缺點(diǎn)。比如某系列的MCU，就經(jīng)常能遇到客戶(hù)反饋說(shuō)系統(tǒng)在掉電后重新上電，系統(tǒng)啟動(dòng)失敗的問(wèn)題，一開(kāi)始
2019-05-23 08:30:00
新手請(qǐng)教：virtex5中有4條boundary scan chain(USER1,USER2,USER3,USER4)，創(chuàng)建chipscope ICON時(shí)只能使用一條chain。那么做了4條為什么只能用一條，4條chain有什么區(qū)別？ 若是我的理解有問(wèn)題，請(qǐng)大牛指點(diǎn)，非常感謝！
2014-02-13 09:21:58
5.5仿真器件：Wintech XDS560v2仿真工程：操作連接各自芯片GPIO引腳的LED燈小程序問(wèn)題描述：在ccxmlconfiguration配置文件中，按照上述芯片的順序建立仿真
2018-07-31 10:09:25
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-25 09:14 編輯
仿真中 MCU器件只有很少的幾個(gè)，其他的怎么添加，在哪里找？
2018-05-24 23:05:47
請(qǐng)問(wèn)如何解決AD程序下載失敗的問(wèn)題？
2021-10-13 09:15:57
高速DAP仿真器 BURNER
2023-03-28 13:06:20
泰芯TXLink調(diào)試器MCU單片機(jī)開(kāi)發(fā)工具仿真器 TXLink是珠海泰芯半導(dǎo)體有限公司基于Keil在8051開(kāi)發(fā)平臺(tái)的調(diào)試器，目前支持泰芯
2022-10-27 18:53:09
The SCAN921260 integrates six deserializer devices into asingle chip. The SCAN921260 can
2009-10-13 10:01:52
24 The SCAN921821 is a dual channel 18-bit serializer featuringsignal conditioning, boundary SCAN
2009-10-13 10:03:3010 The SCAN928028 integrates eight serializer devices into asingle chip. The SCAN928028 can
2009-10-13 10:07:1019 Abstract: This application note describes the JTAG hardware boundary scan chain for the DS26522
2009-04-18 11:45:521078 
Abstract: This application note describes the JTAG hardware boundary scan functions of the quad
2009-04-20 09:12:39804 本文通過(guò)圖文講解protel99se在win7下安裝無(wú)法添加原理圖庫(kù)和元件庫(kù)如何解決，經(jīng)過(guò)小編測(cè)試，此解決方法是很有效的。
2013-05-03 23:25:0056907 
通常如果你的設(shè)計(jì)在較低時(shí)鐘頻率時(shí)通過(guò)了仿真，但是在較高時(shí)鐘頻率時(shí)卻失敗了，你的第一個(gè)問(wèn)題應(yīng)該是你的設(shè)計(jì)在某個(gè)較高時(shí)鐘頻率時(shí)是否達(dá)到了時(shí)序約束的要求。
2017-01-04 13:08:123126 
Cortex-A9 MBIST ControllerTechnical Reference
2017-10-26 08:59:468 1 讀入沒(méi)有插入scan的網(wǎng)表
2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC （on chipclocking）模塊，同時(shí)插入mux， fix DRC
3
2017-10-26 16:01:3640148 
耗時(shí)19個(gè)月，總金額高達(dá)380億美元的高通并購(gòu)恩智浦大案宣告失敗，兩家芯片豪門(mén)并未如愿攜手共進(jìn)，合巹之歡如夢(mèng)幻泡影。一方面，高通平靜地接受現(xiàn)實(shí)；另一方面，恩智浦繼續(xù)前行。
2018-09-07 09:13:155304 Proteus 因其強(qiáng)大的仿真能力，在單片機(jī)項(xiàng)目數(shù)學(xué)中得到了廣泛的使用。然而即使Proteus 仿真電路模型完全正確，也會(huì)引起仿真的失敗。本文通過(guò)兩個(gè)仿真失敗實(shí)例進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)解決方法。
2019-10-17 16:56:2622 ADIsimRF Signal Chain Calculator
2021-01-28 14:39:2728 大家有碰到這種情況請(qǐng)不要著急，此篇文章靈動(dòng)微總代理英尚微電子專(zhuān)門(mén)來(lái)講解如何解決燒寫(xiě)失敗的情況及有可能出現(xiàn)該類(lèi)問(wèn)題的原因。MM32無(wú)法進(jìn)行燒寫(xiě)原因有多種情況，我們從硬件和軟件兩個(gè)方面分析：硬件原因：1、使用的調(diào)試器不支持調(diào)試下載MM32 MCU，IAR/KEIL上仿真器選擇/配置不正確，MM32 MCU已經(jīng)獲
2021-10-26 12:06:0714 【MCU】MDK錯(cuò)誤：error in include chain (cmsis_armcc.h):expected identifier or ‘(‘
2021-11-30 19:51:0618 今天這篇文章專(zhuān)門(mén)來(lái)講解如何解決燒寫(xiě)失敗的情況及有可能出現(xiàn)該類(lèi)問(wèn)題的原因。
2022-02-10 10:30:226 gitee-J2Chain.zip
2022-04-22 09:30:522 arp-scan.zip
2022-05-05 09:51:258 接著上文，MCU芯片設(shè)計(jì)了mbist、scan chain之后，功能仿真失敗？
2023-02-20 09:35:152351 今天這期小編將繼續(xù)與大家一起學(xué)習(xí)DFT的相關(guān)知識(shí)和流程代碼，在開(kāi)始之前，先解決一下上期DFT學(xué)習(xí)的章節(jié)最后留下的問(wèn)題—DFT工程師在收斂時(shí)序timing的時(shí)候經(jīng)常遇到的hold的問(wèn)題，即不同時(shí)鐘域的兩個(gè)SDFF(掃描單元的SI端hold違例問(wèn)題。
2023-04-16 11:34:5910040 當(dāng)然最顯而易見(jiàn)的辦法就是vclp檢查哪兒需要補(bǔ)插isolation cell，那么是否需要補(bǔ)插scan chain的isolation cell, 怎么插呢？
2023-05-10 09:18:002456 
[摘要] T-Scan系統(tǒng)能精確記錄咬合接觸的時(shí)間、 力量、 面積和動(dòng)態(tài)分析咬合接觸情況， 自問(wèn)世以來(lái)通過(guò)產(chǎn)品的
不斷更新與發(fā)展， 使其更好地運(yùn)用于口腔臨床和科研工作中。 本文就 T-Scan 系統(tǒng)的特點(diǎn)和臨床應(yīng)用作一綜述。
[關(guān)鍵詞] T-Scan 系統(tǒng)； 咬合接觸； 咬合分析； 臨床應(yīng)用
2022-04-01 15:59:514799 
J-Link連接MCU失敗解決辦法
2023-10-18 17:43:002414 
Scan stitching 是把上一步中得到的Scan DFF的Q和SI連接在一起形成scan chain。在芯片的頂層有全局的SE信號(hào)，以及scan chain的輸入輸出信號(hào)：SI 和 SO。通過(guò)scan chain的連續(xù)動(dòng)作，就可以把問(wèn)題從對(duì)復(fù)雜時(shí)序電路的測(cè)試轉(zhuǎn)化成測(cè)試組合電路。
2023-10-09 16:53:176474 
當(dāng)PR工具導(dǎo)入scan chain的scandef，用于reorder，但是報(bào)錯(cuò)說(shuō)scan chain里面的cell在db數(shù)據(jù)庫(kù)里面沒(méi)有？難道是scandef和網(wǎng)表版本對(duì)不上?
2023-10-10 15:53:203744 
汽車(chē)芯片荒何解
2023-01-13 09:07:273 模擬到數(shù)字的信號(hào)不可控，需要和數(shù)字registered outputs mux一下提高test coverage。關(guān)鍵詞是registered output！ 這個(gè)技巧俗稱(chēng)scan loopback。
2023-12-08 11:24:403620 
玩過(guò)GD32的小伙伴們都知道，GD32 MCU支持ISP，即在系統(tǒng)編程，前面的常見(jiàn)問(wèn)題也給大家講過(guò)什么是ISP，什么是IAP？那有沒(méi)有小伙伴遇到過(guò)ISP失敗的情況，失敗的原因是什么呢？
2024-02-28 09:23:522526 
MBIST是Memory Build-In-Self Test的簡(jiǎn)稱(chēng)，意為存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試。
2024-05-19 09:14:263006 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《C2000 F28004x系列MCU PLL鎖相失敗問(wèn)題解決方案.pdf》資料免費(fèi)下載
2024-09-27 11:24:590 INNOVUS/ICC2吐出的netlist經(jīng)過(guò)Formal/LEC驗(yàn)證后，Star-RC/QRC抽取RC寄生參數(shù)文件并讀入到Tempus/PT分別做func/mbist/scan時(shí)序
2024-10-23 09:50:542887 
最近和某行業(yè)大佬聊天的時(shí)候聊到芯片流片失敗這件事，我覺(jué)得這是一個(gè)蠻有意思的話(huà)題，遂在網(wǎng)上搜集了一些芯片流片失敗的原因，放在這里和大家一起分享。1.Design的版本拿錯(cuò)，這個(gè)問(wèn)題比較要命，如果ROM
2025-03-28 10:03:381751 
本周的新品ChainEncoder&ChainAngle均為Chain系列設(shè)備。二者均集成STM32G031G8U6核心主控，采用UART串口級(jí)聯(lián)通信協(xié)議，通過(guò)兩個(gè)HY2.0-4P拓展接口
2025-12-19 17:54:41336 
）的SCAN921025H和SCAN921226H這對(duì)高性能的10位串行器和解串器芯片組，看看它們?nèi)绾卧诟鞣N應(yīng)用場(chǎng)景中大放異彩。 文件下載： scan921025h.pdf 產(chǎn)品概述 SCAN
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