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電子發(fā)燒友網(wǎng)>EMC/EMI設(shè)計(jì)>EMC測(cè)試案例:金屬外殼為何導(dǎo)致輻射發(fā)射失???

EMC測(cè)試案例:金屬外殼為何導(dǎo)致輻射發(fā)射失???

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在直流模塊與金屬外殼之間通過(guò)什么方式或者元器件可以相連?

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2020-12-15 01:17:57

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本文主要討論一些關(guān)于輻射發(fā)射測(cè)試的場(chǎng)地設(shè)計(jì)問(wèn)題。開(kāi)闊場(chǎng)為優(yōu)選的測(cè)試場(chǎng)地。然而,由于日益嚴(yán)重的電磁“污染”和開(kāi)闊場(chǎng)對(duì)氣候的依賴性,半電波暗室已成為經(jīng)濟(jì)適用的替代品。本文結(jié)合民用EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),對(duì)用于輻射發(fā)射測(cè)試SAC的設(shè)計(jì)和建造問(wèn)題作一些介紹。
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塑料外殼連接器對(duì)ESD會(huì)有什么樣的影響

對(duì)某一采用金屬外殼的多媒體產(chǎn)品進(jìn)行ESD測(cè)試過(guò)程中,對(duì)音頻接口進(jìn)行2 kV的靜電測(cè)試時(shí),很容易使監(jiān)視器上出現(xiàn)馬賽克和圖像凝固現(xiàn)象,測(cè)試失敗。
2019-10-13 10:18:001989

塑料外殼金屬外殼連接器對(duì)ESD的影響分析

對(duì)某一采用金屬外殼的多媒體產(chǎn)品進(jìn)行ESD測(cè)試過(guò)程中,對(duì)音頻接口進(jìn)行2 kV的靜電測(cè)試時(shí),很容易使監(jiān)視器上出現(xiàn)馬賽克和圖像凝固現(xiàn)象,測(cè)試失敗。
2020-01-28 09:14:005549

高通發(fā)布最新的金屬外殼無(wú)線充電技術(shù)

不插電就能充電——這一直是高通(Qualcomm) WiPower的口號(hào),如今WiPower達(dá)到了一個(gè)里程碑:即使移動(dòng)設(shè)備有金屬外殼,也不插電就能充電。
2020-01-15 14:23:073345

LED燈具emc測(cè)試經(jīng)驗(yàn)分享

LED燈具EMC測(cè)試的電源電路,用于標(biāo)準(zhǔn)例如LED照明設(shè)備,利用傳統(tǒng)的電源組件示于圖1。這種結(jié)構(gòu)會(huì)導(dǎo)致過(guò)量的輻射,解決方案之一是屏蔽整個(gè)外殼。屏蔽外殼增加了機(jī)箱和PCB與任何EMC測(cè)量設(shè)備的參考地之間的寄生電容。
2020-05-13 09:57:416566

電磁兼容EMC設(shè)計(jì)的堆疊方式

電磁兼容EMC設(shè)計(jì)最適合4層PCB,從EMS的角度來(lái)看,局部敏感電路的金屬外殼金屬外殼屏蔽能夠解決干擾問(wèn)題,從EMI的角度來(lái)看,有時(shí)4層板不能滿足輻射發(fā)射限制的要求,并且應(yīng)該增加層數(shù),因?yàn)槎鄬影?/div>
2020-05-18 10:12:201042

分析塑料外殼連接器和金屬外殼連接器對(duì)ESD測(cè)試的影響

對(duì)某一采用金屬外殼的多媒體產(chǎn)品進(jìn)行ESD測(cè)試過(guò)程中,對(duì)音頻接口進(jìn)行2 kV的靜電測(cè)試時(shí),很容易使監(jiān)視器上出現(xiàn)馬賽克和圖像凝固現(xiàn)象,測(cè)試失敗。
2020-07-30 15:42:363135

EMC輻射發(fā)射測(cè)試的配置和步驟

電子產(chǎn)品為什么要做EMC電磁兼容測(cè)試,EMC測(cè)試要怎么做,自始至終是硬件、PCB工程師做電子設(shè)計(jì)必不可少的重要環(huán)節(jié)。
2020-10-23 15:08:485795

金屬外殼與電路板的接地問(wèn)題

前言電子產(chǎn)品接地問(wèn)題是一個(gè)老生常談的話題,本文單講其中一小部分,主要內(nèi)容是金屬外殼與電路板的接地問(wèn)題。我們經(jīng)常會(huì)看到一些系統(tǒng)設(shè)計(jì)中將PCB板的地(GND)與金屬外殼(EGND)之間通常使用一個(gè)高壓電
2021-01-12 11:53:3221464

蘋果新專利:防指紋涂層,暗示未來(lái)或推出鈦金屬外殼設(shè)備

據(jù)外媒報(bào)道,蘋果公司正在研究如何減少產(chǎn)品鈦金屬表面的指紋和污漬。根據(jù)蘋果公司新申請(qǐng)的專利,蘋果將在未來(lái)的設(shè)備中使用鈦金屬外殼,并在鈦金屬外殼上使用新的氧化物涂層。 蘋果公司向美國(guó)專利商標(biāo)局提交的專利
2021-02-24 14:21:102580

PCB設(shè)計(jì)之有效地EMC整改措施

PCB上的地與金屬外殼連接可以有效降低PCB中的高頻信號(hào)傳遞到外部線束而產(chǎn)生的輻射,PCB與金屬外殼因?yàn)殡妱?shì)差產(chǎn)生的共模電流本來(lái)是會(huì)在PCB板上通過(guò)的改變成從外接金屬地通過(guò),從而降低產(chǎn)品PCB內(nèi)部產(chǎn)生的共模噪聲從線束發(fā)射出去。
2022-11-08 20:52:181540

電路板的地直接與金屬外殼相連的設(shè)計(jì)問(wèn)題解答

電子產(chǎn)品接地問(wèn)題是一個(gè)老生常談的話題,本文單講其中一小部分,主要內(nèi)容是金屬外殼與電路板的接地問(wèn)題。我們經(jīng)常會(huì)看到一些系統(tǒng)設(shè)計(jì)中將PCB板的地(GND)與金屬外殼(EGND)之間通常使用一個(gè)高壓電容C1(1~100nF/2KV)并聯(lián)一個(gè)大電阻R1(1M)連接。那么為什么這么設(shè)計(jì)呢?
2022-11-09 16:55:363029

導(dǎo)致電磁輻射發(fā)射的原因有哪些

有時(shí)工程師在進(jìn)行電磁兼容的輻射發(fā)射RE試驗(yàn)時(shí),我們發(fā)現(xiàn)超標(biāo)頻率通常是時(shí)鐘的頻率,或者時(shí)鐘頻率的整倍數(shù)。因此,很多人認(rèn)為時(shí)鐘發(fā)生器是導(dǎo)致電磁輻射發(fā)射的主要原因??蓪?shí)際情況呢?
2023-01-26 09:04:003545

什么是輻射發(fā)射測(cè)試?

輻射發(fā)射(Radiated Emission)測(cè)試,是測(cè)量EUT通過(guò)空間傳播的輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng)??梢苑譃榇艌?chǎng)輻射、電場(chǎng)輻射,前者針對(duì)燈具和電磁爐,后者則應(yīng)用普遍。另外,對(duì)于工作頻率小于30MHz的家電
2023-05-17 11:40:172914

朝鮮宣布衛(wèi)星發(fā)射失敗

朝鮮宣布衛(wèi)星發(fā)射失敗 31日朝鮮發(fā)射一顆衛(wèi)星,但是后來(lái)朝鮮宣布衛(wèi)星發(fā)射失敗。而這也是朝鮮時(shí)隔7年再次發(fā)射衛(wèi)星。而且因?yàn)槌r發(fā)射“衛(wèi)星” 韓國(guó)清晨響起警報(bào)。這個(gè)誤報(bào)也導(dǎo)致了很多韓國(guó)民眾的不滿。 當(dāng)然,朝鮮發(fā)射的衛(wèi)星已經(jīng)明確是軍事偵察衛(wèi)星。 綜合自 韓聯(lián)社 朝中社 NHK 央視新聞
2023-05-31 11:07:143097

EMC測(cè)試實(shí)質(zhì)之輻射發(fā)射

輻射發(fā)射測(cè)試的實(shí)質(zhì):就是測(cè)試產(chǎn)品中兩種等效天線所產(chǎn)生的輻射信號(hào)。
2023-06-13 16:20:453057

PCB板子的地和產(chǎn)品金屬外殼的如何連接?

金屬外殼接大地(GND_EARTH),與系統(tǒng)的GND保持的間隙gap至少為2mm;
2023-06-29 14:26:034400

高效解決由分地導(dǎo)致輻射問(wèn)題!|深圳比創(chuàng)達(dá)EMC(上)

高效解決由分地導(dǎo)致輻射問(wèn)題!|深圳比創(chuàng)達(dá)EMC(上)
2023-07-24 10:23:11925

工科醫(yī)EMC輻射測(cè)試

radiation 能量以電磁波形式由源發(fā)射到空間的現(xiàn)象; 能量以電磁波形式在空間傳播。 EMC電磁輻射測(cè)試 符合標(biāo)準(zhǔn):GB 4824/EN 5015 測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法按第6章、第7章、第8章規(guī)定。采用帶準(zhǔn)峰值檢波器的測(cè)量?jī)x器時(shí)受試設(shè)備應(yīng)滿足本限值。低于30MHz頻段的限值是指電磁輻射騷擾
2023-07-26 09:00:261011

什么是輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射?輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試方案

電磁干擾EMI可以大致分為“傳導(dǎo)發(fā)射”和“輻射發(fā)射”兩種類型。
2023-08-23 10:51:4210697

金屬外殼的工業(yè)連接器在性能上有哪些獨(dú)特之處?

CNLINKO凌科電氣連接器知識(shí)分享金屬是工業(yè)連接器外殼的常用材質(zhì)之一,通常有鋁合金、鋅合金、不銹鋼等金屬材質(zhì)。金屬外殼在保障工業(yè)連接器正常運(yùn)行中起到了獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)。今天就來(lái)講講金屬外殼的工業(yè)
2023-08-19 08:15:342221

EMC案例分析——連接器金屬外殼搭接不良對(duì)靜電放電抗擾度的影響

如前面所述,在測(cè)試中發(fā)現(xiàn)DB連接器的金屬外殼和產(chǎn)品外殼之間有很明顯的縫隙,從電路的角度來(lái)看,這個(gè)縫隙就等效為一個(gè)阻抗,在DB外殼上的靜電放電電流(如圖中虛線所示)的作用下,就會(huì)產(chǎn)生較高的壓降ΔU
2023-10-16 17:23:373435

iPhone 16 Pro電池原型曝光:銀色金屬外殼,容量?jī)H增長(zhǎng)81mAh

這款電池依舊為德賽電池制造,額定容量為3355mah,比前一代(3274mah)增加了81mah,背面貼有粘膠。隨著“iphone15 pro”此前因發(fā)熱問(wèn)題受到部分用戶的指責(zé),有推測(cè)稱,“iphone16”系列中可能會(huì)使用露出電池的金屬外殼來(lái)輔助發(fā)熱。
2023-11-23 10:32:041901

EMC測(cè)試輻射發(fā)射與傳導(dǎo)發(fā)射

不知道大家有沒(méi)有一個(gè)疑問(wèn),RE和CE都是騷擾發(fā)射,但是,何為輻射發(fā)射?何為傳導(dǎo)發(fā)射?EMC不僅本身有點(diǎn)玄學(xué),命名也都很玄。 按照電磁干擾的原理,電磁干擾的作用途徑主要可以分為兩大類,既輻射干擾和傳導(dǎo)性干擾。
2023-12-13 09:13:569972

EMC輻射發(fā)射RE整改方法

EMC輻射發(fā)射RE整改方法
2023-12-14 10:09:172902

開(kāi)關(guān)電源EMC測(cè)試中常見(jiàn)的問(wèn)題有哪些

不滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。本文將詳細(xì)介紹開(kāi)關(guān)電源EMC測(cè)試中常見(jiàn)的問(wèn)題及相應(yīng)的解決方法。 一、輻射發(fā)射超標(biāo)原因分析:輻射發(fā)射超標(biāo)可能是由于開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部電路設(shè)計(jì)不合理、濾波器性能不佳、屏蔽效果差等原因導(dǎo)致的。 解決方法:針
2023-12-30 16:24:002929

emc測(cè)試是什么 emc測(cè)試設(shè)備有哪些

或危害。傳導(dǎo)測(cè)試則是評(píng)估設(shè)備是否能夠在電磁環(huán)境中正常工作,而不會(huì)受到其他設(shè)備電磁干擾的影響。 EMC測(cè)試設(shè)備主要包括發(fā)射測(cè)試設(shè)備和接收測(cè)試設(shè)備。發(fā)射測(cè)試設(shè)備用于測(cè)試電子設(shè)備是否符合電磁輻射的規(guī)定,主要包括以下幾個(gè)常
2024-01-25 15:59:555984

如何使用EMC測(cè)試軟件執(zhí)行輻射抗擾度測(cè)試?(一)測(cè)試方法

一、前言 輻射抗擾度測(cè)試是對(duì)對(duì)講機(jī)、移動(dòng)電話、便攜式電話和廣播發(fā)射機(jī)等強(qiáng)發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的射頻場(chǎng)的模擬。 二、測(cè)試方法 在輻射抗擾度測(cè)試期間,測(cè)試電波暗室中會(huì)產(chǎn)生射頻場(chǎng)。不同的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)使用不
2024-03-11 15:03:063103

如何使用EMC測(cè)試軟件執(zhí)行輻射抗擾度測(cè)試?(二)測(cè)試、校準(zhǔn)方法及調(diào)制

? ? 一、前言 上一篇文章為大家介紹了使用EMC測(cè)試軟件執(zhí)行輻射抗擾度測(cè)試測(cè)試方法。本章將介紹頻率變化模式測(cè)試方法、校準(zhǔn)方法及調(diào)制。 如何使用EMC測(cè)試軟件執(zhí)行輻射抗擾度測(cè)試?(一)測(cè)試方法 二
2024-03-14 17:33:343002

M12 17芯母頭使用金屬外殼的原因

德索工程師說(shuō)道金屬外殼提供了額外的機(jī)械強(qiáng)度,使得M12 17芯母頭能夠承受更加嚴(yán)苛的工作環(huán)境,如振動(dòng)、沖擊和壓力。金屬材質(zhì)的耐久性意味著連接器可以在長(zhǎng)時(shí)間的使用中保持其形狀和功能,減少因機(jī)械損傷導(dǎo)致的故障。
2024-03-26 14:51:37863

電氣設(shè)備的金屬外殼接地是什么接地

電氣設(shè)備的金屬外殼接地是一種安全措施,用于保護(hù)人身安全和設(shè)備的正常運(yùn)行。在這篇文章中,我們將詳細(xì)討論金屬外殼接地的概念、重要性、原理、實(shí)施方法以及注意事項(xiàng)。 一、金屬外殼接地的概念 金屬外殼接地
2024-06-06 09:08:5813104

電氣設(shè)備的金屬外殼必須與什么連接

電氣設(shè)備的金屬外殼必須與地線(接地)連接。接地是一種電氣安全措施,可以有效地保護(hù)人身安全和設(shè)備安全。本文將詳細(xì)介紹接地的概念、重要性、接地方式、接地電阻以及接地系統(tǒng)的維護(hù)和檢測(cè)等方面的內(nèi)容。 一
2024-06-06 09:10:559676

NMEA2000轉(zhuǎn)接頭使用金屬外殼的主要原因

德索工程師說(shuō)道在當(dāng)今的海洋電子設(shè)備領(lǐng)域,NMEA2000連接器以其卓越的性能和高度的可靠性,已成為船用電子系統(tǒng)的首選連接方式。這些連接器之所以能夠在惡劣的海洋環(huán)境中穩(wěn)定工作,很大程度上歸功于其使用的金屬外殼。
2024-06-27 15:14:29727

7針M16母頭使用金屬外殼的原因

  德索工程師說(shuō)道7針M16母頭使用金屬外殼的原因主要基于其優(yōu)異的物理性能、電氣性能、環(huán)境適應(yīng)性以及長(zhǎng)期使用的可靠性。以下是對(duì)這些原因的詳細(xì)分析:   強(qiáng)度與耐用性:金屬外殼具有較高的機(jī)械強(qiáng)度
2024-07-20 09:27:10700

開(kāi)關(guān)電源金屬外殼觸摸手麻原因分析

當(dāng)用手去觸摸電控系統(tǒng)的金屬外殼時(shí),比如開(kāi)關(guān)電源的金屬外殼,經(jīng)常會(huì)有手被麻一下的感覺(jué)。
2024-08-14 15:21:112061

emc輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試區(qū)別 emc傳導(dǎo)測(cè)試過(guò)不了的原因

在電磁兼容性(EMC測(cè)試中,輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射是兩種重要的測(cè)試方法,它們分別用于評(píng)估電子設(shè)備在工作時(shí)對(duì)外界電磁環(huán)境的影響和其本身對(duì)外界電磁環(huán)境的耐受能力。 一、EMC輻射發(fā)射與傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的區(qū)別
2024-10-06 15:41:007492

EMC測(cè)試的常見(jiàn)問(wèn)題

多個(gè)方面。 一、EMC測(cè)試概述 EMC測(cè)試主要包括電磁輻射發(fā)射(EMI)測(cè)試和電磁耐受性(EMS)測(cè)試。EMI測(cè)試評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)產(chǎn)生的電磁輻射是否超出規(guī)定的限值,而EMS測(cè)試則評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)在受到外部電磁干擾時(shí)的性能穩(wěn)定性。 二、EMC測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)
2024-10-24 14:47:373123

壓接式N頭使用金屬外殼的主要原因

 壓接式N頭使用金屬外殼的主要原因可以從多個(gè)方面進(jìn)行詳細(xì)分析,包括電磁屏蔽、機(jī)械保護(hù)、接地功能、散熱性能和標(biāo)準(zhǔn)化兼容性等。以下是對(duì)這些原因的詳細(xì)闡述:  電磁干擾(EMI)防護(hù):在現(xiàn)代電子設(shè)備中
2024-10-29 10:34:32783

開(kāi)關(guān)電源的EMI/EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

開(kāi)關(guān)電源的EMI(電磁干擾)和EMC(電磁兼容)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是確保開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)品符合電磁兼容性要求的重要依據(jù)。以下是一些常見(jiàn)的開(kāi)關(guān)電源EMI/EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn): 一、EMI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試測(cè)試
2024-11-20 10:43:155986

濾波器金屬外殼接地點(diǎn)數(shù)量與位置對(duì)高頻輻射抑制效果的影響

濾波器金屬外殼接地點(diǎn)數(shù)量與位置影響高頻輻射抑制。低頻用單點(diǎn),高頻用多點(diǎn)接地。接地點(diǎn)位置要合適、近干擾源、避共模干擾。優(yōu)化接地設(shè)計(jì),確保濾波器性能最佳。
2025-02-25 15:23:54666

知識(shí)分享 I 輻射發(fā)射測(cè)試

2.1.2輻射發(fā)射測(cè)試1.輻射發(fā)射測(cè)試目的輻射發(fā)射測(cè)試的目的是測(cè)試電子、電氣和機(jī)電產(chǎn)品及其部件所產(chǎn)生的輻射發(fā)射,包括來(lái)自殼體、所有部件、電纜及連接線上的輻射發(fā)射,用來(lái)鑒定其輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求
2025-08-11 16:57:294533

鋁電解電容的 “封裝藝術(shù)”:金屬外殼與塑料套管,哪種更適合極端環(huán)境?

在電子元器件的世界里,鋁電解電容因其優(yōu)異的性能和經(jīng)濟(jì)性而廣泛應(yīng)用于各類電子設(shè)備中。然而,當(dāng)面對(duì)極端環(huán)境條件時(shí),鋁電解電容的封裝形式——金屬外殼與塑料套管的選擇,往往成為工程師們需要慎重考慮的關(guān)鍵問(wèn)題
2025-08-19 17:21:001203

EMC電磁輻射干擾整改:6G時(shí)代新挑戰(zhàn),從失敗到1次通過(guò)

南柯電子|EMC電磁輻射干擾整改:6G時(shí)代新挑戰(zhàn),從失敗到1次通過(guò)
2025-09-24 15:21:57500

迅為iTOP-RK3576開(kāi)發(fā)板再升級(jí)全新金屬外殼

迅為iTOP-RK3576開(kāi)發(fā)板再升級(jí)全新金屬外殼
2025-10-22 15:48:591081

EMC技術(shù)案例】SPI模塊搭接機(jī)殼導(dǎo)致輻射超標(biāo)問(wèn)題案例

EMC技術(shù)案例】SPI模塊搭接機(jī)殼導(dǎo)致輻射超標(biāo)問(wèn)題案例
2025-11-11 17:26:38485

從開(kāi)發(fā)板到工業(yè)核心:迅為RK3576的金屬外殼,為何是行業(yè)應(yīng)用的“點(diǎn)睛之筆”?

從開(kāi)發(fā)板到工業(yè)核心:迅為RK3576的金屬外殼,為何是行業(yè)應(yīng)用的“點(diǎn)睛之筆”?
2025-11-26 13:45:46680

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