1 通用測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)

通用化自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（ATS）主要三個(gè)部分組成：主控計(jì)算機(jī)、總線儀器測(cè)控組合、信號(hào)調(diào)理與轉(zhuǎn)接裝置。其中“主控計(jì)算機(jī)”中的軟件主要包括操作系統(tǒng)、編譯器、測(cè)試執(zhí)行程序（TP）?！翱偩€儀器測(cè)控組合”中主要包括模塊化測(cè)試測(cè)量儀器、各類控制開(kāi)關(guān)、通訊總線等?！靶盘?hào)調(diào)理與轉(zhuǎn)接裝置”主要包括各類測(cè)量與激勵(lì)控制信號(hào)的轉(zhuǎn)接與適配。

主控計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件提供TP的開(kāi)發(fā)與運(yùn)行環(huán)境，并通過(guò)控制總線控制測(cè)試測(cè)量?jī)x器完成TP的執(zhí)行、取回測(cè)試數(shù)據(jù)，生成測(cè)試報(bào)表。

值得一提的是，作為通用化的測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)該具有一個(gè)開(kāi)放式的結(jié)構(gòu)，系統(tǒng)軟、硬件各組成部分均進(jìn)行模塊化分割，各模塊之間應(yīng)該是通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)接口（或協(xié)議）相互聯(lián)系。為了保證系統(tǒng)的靈活性，同時(shí)充分發(fā)揮設(shè)計(jì)人員的創(chuàng)造力，只需從接口上對(duì)開(kāi)放式系統(tǒng)進(jìn)行定義，而不需要定義各模塊的內(nèi)部具體實(shí)現(xiàn)，同時(shí)還要考慮到系統(tǒng)功能的可擴(kuò)充性和技術(shù)的可升級(jí)性。因此，作為通用測(cè)試系統(tǒng)兩大重要組成部分的硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)均需要具備靈活、開(kāi)放的體系結(jié)構(gòu)與接口設(shè)計(jì)。

2 通用測(cè)試系統(tǒng)硬件架構(gòu)

通用測(cè)試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)的關(guān)鍵在于UUT接口的標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)，UUT接口標(biāo)準(zhǔn)化的目的在于提供一種能夠在多個(gè)UUT之間方便轉(zhuǎn)換的硬件連接結(jié)構(gòu)。這種結(jié)構(gòu)通過(guò)對(duì)機(jī)械連接機(jī)構(gòu)、接插件和連接器的標(biāo)準(zhǔn)化規(guī)定提供了可工作于寬頻帶信號(hào)范圍內(nèi)的接口連接方式。為采用VME總線、VXI總線、PCI總線、PXI總線儀器的通用測(cè)試系統(tǒng)提供了標(biāo)準(zhǔn)化（IEEE P1505轉(zhuǎn)接裝置接口（RFI）系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)）的有力支撐。圖3是通用化硬件組成及接口原理示意框圖。其中：開(kāi)關(guān)矩陣（SWM）接口和ATS轉(zhuǎn)接裝置（RFX）接口是ATS的重要組成部分，因?yàn)锳TS儀器和UUT是通過(guò)SWM來(lái)連接的，大多數(shù)的激勵(lì)和測(cè)量信號(hào)是通過(guò)RFX作用到UUT上的。標(biāo)準(zhǔn)RFX接口限制了不同類型信號(hào)在接收器的不同位置上出現(xiàn)，SWM可實(shí)現(xiàn)多種儀器與由標(biāo)準(zhǔn)RFX接口所確定的多功能終端的連接。SWM接口與RFX的標(biāo)準(zhǔn)化提高了互操作性，并降低了重組費(fèi)用，可以確保測(cè)試UUT所需要ATS儀器能被切換到轉(zhuǎn)接裝置所需要的任何管腳。

3 通用測(cè)試系統(tǒng)軟件架構(gòu)

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的軟件是TPS的重要組成部分，直接影響通用測(cè)試系統(tǒng)的性能和效率。自動(dòng)測(cè)試軟件結(jié)構(gòu)也有相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)。開(kāi)放式ATS體系結(jié)構(gòu)中包含了多種標(biāo)準(zhǔn)的開(kāi)放式軟件接口關(guān)系。IEEE 1226中的測(cè)試基礎(chǔ)框架（TFF）定義了開(kāi)發(fā)和執(zhí)行測(cè)試程序和測(cè)試流程的一系列接口，軟件功能模塊通過(guò)這些接口實(shí)現(xiàn)信息交換，這些帶有標(biāo)準(zhǔn)接口的功能模塊組成了測(cè)試基礎(chǔ)框架。但是標(biāo)準(zhǔn)并沒(méi)有定義這些模塊的實(shí)現(xiàn)，留給開(kāi)發(fā)者很大的自由度，使之可以用C/C++或ATLAS等語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)TFF。

在科學(xué)技術(shù)高度發(fā)展的今天，測(cè)試工作處于各種現(xiàn)代裝備系統(tǒng)設(shè)計(jì)和制造的首位，是保證現(xiàn)代裝備系統(tǒng)實(shí)際性能指標(biāo)的重要手段。代表著測(cè)試技術(shù)與儀器行業(yè)最高水平的通用ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備） /ATS（自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)） 技術(shù)，以商業(yè)成品設(shè)備和技術(shù)（Commercial Off The Shelf）為依托，采用開(kāi)放的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、低廉的設(shè)備價(jià)格、有效的技術(shù)支持和最新技術(shù)的商業(yè)產(chǎn)品和技術(shù)，在電子設(shè)備的生產(chǎn)與制造行業(yè)成為降低生產(chǎn)成本、提高生產(chǎn)效率的重要手段。