由于生產(chǎn)工藝及現(xiàn)場環(huán)境等影響，容易造成薄膜表面出現(xiàn)黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、麻點(diǎn)、破洞、線條、褶皺、蚊蟲、劃傷等瑕疵，不僅影響嚴(yán)重薄膜產(chǎn)品的外觀，更是給企業(yè)帶來經(jīng)濟(jì)損失。只有在生產(chǎn)過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，從生產(chǎn)的根源來消除瑕疵，控制和提高薄膜的表面質(zhì)量，才是最行之有效的辦法。

傳統(tǒng)的檢測方法如人工目視抽檢速度慢、精度低、易疲勞已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求。基于CCD的賽默斐視薄膜污點(diǎn)檢測設(shè)備與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)，實(shí)時在線檢測，自動報警并顯示當(dāng)前瑕疵的具體信息，以便及時進(jìn)行處理。

賽默斐視薄膜污點(diǎn)檢測設(shè)備主要用于檢測薄膜在生產(chǎn)過程中表面出現(xiàn)的黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業(yè)CCD相機(jī)、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統(tǒng)，及時準(zhǔn)確的反應(yīng)缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質(zhì)量控制、產(chǎn)品評級提供真是準(zhǔn)確數(shù)據(jù)的同時，有效的節(jié)約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

賽默斐視薄膜污點(diǎn)檢測設(shè)備檢測原理：

針對透光率高的薄膜材料，系統(tǒng)采用透射的打光檢測方式進(jìn)行檢測，即光源在薄膜的下方，相機(jī)在薄膜的上方進(jìn)行圖像拍攝（對于不透明的材料則采用反射的打光方式，即光源與相機(jī)在所要檢測面的同一側(cè)）。產(chǎn)線運(yùn)行時，系統(tǒng)通過編碼器實(shí)時的采集產(chǎn)線運(yùn)行狀態(tài)信息并開始檢測，系統(tǒng)將相機(jī)采集到的圖像通過SIMV圖像分析軟件進(jìn)行瑕疵處理，由于瑕疵與正常產(chǎn)品的圖像在灰階上存在明顯差異，從而使得系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，并通過進(jìn)一步的計算、分析來確定瑕疵的大小、位置、類型等信息。

賽默斐視薄膜污點(diǎn)檢測設(shè)備技術(shù)參數(shù)：

檢測對象：保護(hù)膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學(xué)膜等等

典型瑕疵：晶點(diǎn)、黑點(diǎn)、蚊蟲、污點(diǎn)、線條、破洞等

檢測速度：Max：800m/min

檢測幅寬：任意（根據(jù)生產(chǎn)線定制）

檢測精度：0.1mm~1mm（取決于相機(jī)數(shù)量、產(chǎn)線幅寬及車速）

瑕疵標(biāo)識：自動聲光報警、截取當(dāng)前瑕疵圖片及實(shí)時X/Y坐標(biāo)瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據(jù)批次號自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

賽默斐視薄膜污點(diǎn)檢測設(shè)備功能：

（1）精確的瑕疵地圖（X、Y坐標(biāo)）定位顯示模塊；

（2）自動聲光報警，并顯示當(dāng)前及前后10個瑕疵的瑕疵圖像；

（3）實(shí)時瑕疵信息展示，記錄當(dāng)前瑕疵的類型、面積（直徑）、橫縱向位置等信息；

（4）產(chǎn)品基本信息模塊，記錄產(chǎn)品批次號、型號、規(guī)格、班號、操作員等信息（用戶可根據(jù)生產(chǎn)情況進(jìn)行修改）；

（5）實(shí)時的檢測米數(shù)、報警信息顯示；

（6）根據(jù)瑕疵面積大小、形狀、灰階差異等特征實(shí)現(xiàn)瑕疵的自動分類；

（7）周期性、連續(xù)性瑕疵的自動報警；

（8）自動生成每一卷產(chǎn)品的產(chǎn)品瑕疵記錄，用戶可根據(jù)批次號直接查詢；

（9）自動換卷，并自動打印每一卷產(chǎn)品信息的質(zhì)量報表；

（10）檢測歷史記錄的自動統(tǒng)計、保存、查詢、調(diào)用及打印等功能；

（11）長時間、大容量的歷史記錄存儲；

（12）產(chǎn)線的自動化聯(lián)動、遠(yuǎn)程技術(shù)服務(wù)等；

注：軟件功能可根據(jù)用戶的不同要求進(jìn)行特殊功能的定制開發(fā)。

責(zé)任編輯：tzh