具有 HD 電容器、適用于數(shù)字 X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 (AFE)
| Number of input channels | 256 |
| Resolution (Bits) | 16 |
| Features | Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray |
| Interface type | SPI/LVDS |
| Operating temperature range (C) | 0 to 85 |
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| Rating | Catalog |
- 256 通道
- 片上 16 位 ADC
- 光電二極管抗短路
- 高性能：
- 噪聲：< 600 電荷數(shù)
- 低相關噪聲
- 全通道積分非線性：
內部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB) - 掃描時間：< 20μs 至 > 250μs
- 集成：
- 可編程滿量程輸入電荷量范圍：
< 1pC 至 > 25pC - 內部時序發(fā)生器 (TG)
- 內置相關雙采樣器
- 流程線“集成和讀取”，提高集成期間的吞吐量數(shù)據(jù)讀取
- 串行 LVDS 輸出
- 可編程滿量程輸入電荷量范圍：
- 簡單電源方案：
- AVDD1 = 1.85V
- AVDD2 = 3.3V 或 4.75V
- 低功耗
- 小睡模式和完全斷電模式
- 與 AFE2256 之間具有引腳兼容性
AFE2257 是一種 256 通道電荷量讀取集成電路 (ROIC)，設計用于基于平板檢測器 (FPD) 的數(shù)字 X 射線系統(tǒng)。此器件包括 256 個集成器、帶雙電源的相關雙采樣器 (CDS) 和 256:4 模擬多路復用器。
此外，該器件還 特性 四個 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉換器 (ADC)。來自 ADC 的串行數(shù)據(jù)采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。
該器件憑借多功率模式和系統(tǒng)內調試選項等 特性 優(yōu)化總體 X 射線系統(tǒng)性能。小睡和斷電模式能夠大幅降低功耗，在由電池供電的系統(tǒng)中極其實用。
