歡迎使用《下一代測試系統(tǒng)設計的開發(fā)者指南》。該指南收集了許多與測試系統(tǒng)設計相關的白皮書，可以幫助您在開發(fā)測試系統(tǒng)時能夠降低成本、提高測試吞吐量并擴展對未來需求的支持。如欲閱讀完整的開發(fā)者指南，您可以下載PDF版本（超過90頁），或者查看《下一代測試系統(tǒng)設計的開發(fā)者指南》的電子版本。
目錄：
? 引言
? 1. 解讀儀器規(guī)范
? 2. 考慮校準需求
? 3. 關注操作環(huán)境
? 4. 使用恰當?shù)难b配方式
? 5. 利用同步
? NI相關產(chǎn)品
引言
在設計自動化測試系統(tǒng)時，精度的最大化通常是關鍵的考慮因素。確定如何最大化精度總是很困難的。絕大多數(shù)測試工程師會求助于他們所評估的儀器的技術參數(shù)表，寄希望于這些文檔能夠提供所有的答案。然而，其它因素對于最大化您的自動化測試系統(tǒng)的精度也是同樣重要的。
本文檔為您提供的五個步驟，可以最大化您的自動化測試系統(tǒng)的精度。這五個步驟如下所示：
1．解讀儀器規(guī)范
評估一個儀器的精度時，其數(shù)據(jù)參數(shù)表是寶貴的資源。然而，重要的是要明白，不同儀器廠商時常在規(guī)定測量精度時使用不同的術語，或者使用相似的術語表示不同的意義。因而，清楚地理解定義儀器特性時所涉及的所有參數(shù)是很重要的。在許多情況下，分辨率（resolution）、精密度（precision）和精確度（accuracy）等術語是互換使用的，但它們所代表的真正意義還是差別較大的。雖然通常都認為一個6?位數(shù)字萬用表（DMM）必定可以精確到6?位，但往往情況并非如此。這里的位數(shù)僅僅關系到儀器所顯示的數(shù)字的位數(shù)，并不是輸入信號的可分辨的最小變化。您需要查驗儀器的靈敏度和有效精度是否足夠高，以保證該儀器將為您提供所需的測量精度。
例如，一個6?位DMM能夠表示一個給定范圍，如1,999,999個計數(shù)或單元。但如果儀器的噪聲的峰峰值為20個計數(shù)，那么可分辨的最小變化必須至少為0.52 x 20個計數(shù)，因為分辨率——儀器可以可靠檢測的輸入信號的最小變化——等于高斯噪聲的電位或計數(shù)乘以0.52。因而，該6?位DMM的有效位數(shù)（ENOD）為：
正如您所看到的，DMM的數(shù)據(jù)參數(shù)表中所列出的位數(shù)是一條重要的信息，但不應當就認為這是最終參數(shù)或唯一需要考慮的參數(shù)。通過了解您的自動化測試系統(tǒng)的測量精度與分辨率需求，您可以計算您所考慮的儀器的總的誤差范圍，并驗證其是否符合您的要求。而且，應主動詢問廠商，以準確把握數(shù)據(jù)參數(shù)表中的技術規(guī)范的意義，因為不理解您的儀器的真正性能可能會導致代價慘重的失誤。 為了更好地理解您所評估的儀器的規(guī)范，請閱讀應用說明《解讀儀器規(guī)范——如何理解專業(yè)術語》。
2．考慮校準需求
無論您為自己的自動化測試系統(tǒng)所選擇的儀器的精度如何，重要的是要意識到，所有儀器中所用到的電子部分的精度會隨時間發(fā)生偏差。持續(xù)工作的時間以及環(huán)境條件的影響會加劇這樣的偏差。隨著時間的推移，組件值的偏差將給您的測量帶來更大的不確定性。要想解決這個問題，必須定期校準您的儀器。 外部校準就是將儀器的性能與已知的標準精度進行比較?？梢杂梦臋n的形式記錄外部校準的結果，以表明測量結果相對已知標準的偏差，但更多的情況是，外部校準也包括儀器測量能力的調(diào)整，以確保其測量精度在廠商提供的范圍內(nèi)。許多廠商提供了精度演化表, 這些表反映了儀器自最近一次外部校準后不確定性的變化的清晰輪廓。
要想完成一個儀器的外部校準，您可以將其送回原廠，或者送至一個校準計量實驗室。此外，您也可以自己實現(xiàn)外部校準。無論您采取何種方式，重要的是認識到，對于不同廠商，一個特定類型儀器的外部校準間隔不總是相同的。一個廠商函數(shù)發(fā)生器的外部校準間隔可能是一年；而另一個廠商具備同等或更好精度規(guī)范的函數(shù)發(fā)生器的外部校準間隔可能是兩年。為了減少自動化測試系統(tǒng)的維護成本，您應該選擇第二個廠商的儀器。選擇儀器時，您需要仔細考慮外部校準的間隔。 除了外部校準，一些廠商的儀器還包含自校準的功能。具備自校準功能的儀器包含如精度電位參考等硬件資源，這樣您就可以快速校準該儀器，而不必將其搬離測試系統(tǒng)或者與外部校準硬件連接。自校準并不能完全替代外部校準，它只是提供了一種在外部校準之間改善儀器測量精度的方法。
保持恰當校準的儀器會減少測量誤差（原文中的reduced應為reduces），改善測量值間的連續(xù)性，并保證測量的精確性。參見《解讀校準》指南，查閱其它的校準資源。