本系統(tǒng)總體可分如下功能：
? 在線邏輯功能測(cè)試
本功能僅實(shí)現(xiàn)對(duì)電路板上的中小規(guī)模數(shù)字集成電路的功能測(cè)試。可測(cè)試器件包括在五個(gè)元
器件庫(kù)中，即TTL74 系列、TTL54 系列、CMOS 系列、存儲(chǔ)器系列、75 系列接口芯片庫(kù)，共
三千余種。
? 離線邏輯功能測(cè)試
對(duì)未焊在板上的器件進(jìn)行邏輯功能測(cè)試。可測(cè)范圍與在線邏輯功能測(cè)試相同。主要用于集
成電路上機(jī)前的篩選或?qū)υ诰€測(cè)試有問題的IC 做進(jìn)一步驗(yàn)證。
? 在線環(huán)境比對(duì)測(cè)試
本功能實(shí)現(xiàn)對(duì)電路板上數(shù)字IC 的引腳狀態(tài)、互連關(guān)系及引腳電平的學(xué)習(xí)，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)
中，供日后維修時(shí)參照。對(duì)庫(kù)中已有的器件，同時(shí)還進(jìn)行功能測(cè)試。若功能測(cè)試失敗，則
將其響應(yīng)存入數(shù)據(jù)庫(kù)中供維修時(shí)參考。另外還可以對(duì)器件庫(kù)中沒有的器件進(jìn)行狀態(tài)和互連
關(guān)系以及引腳電平的學(xué)習(xí)。雖然也學(xué)習(xí)引腳電平，但不對(duì)它進(jìn)行比較。
? 伏安特性（簡(jiǎn)稱VI）曲線分析
本功能實(shí)現(xiàn)對(duì)元器件各腳的阻抗（V/I）特性進(jìn)行學(xué)習(xí)、比較測(cè)試。供維修時(shí)作為參照。
本功能適用于測(cè)試各種模似/數(shù)字、集成/分立元器件等。