資料介紹
運(yùn)算放大器的穩(wěn)定性:本系列的第4部分著重討論了環(huán)路穩(wěn)定性的主要技巧與經(jīng)驗(yàn)。首先,我們將討論45度相位及環(huán)路增益帶寬準(zhǔn)則,考察了在Aol 曲線與1/β曲線以及環(huán)路增益曲線Aolβ中的極點(diǎn)與零點(diǎn)之間的互相轉(zhuǎn)化關(guān)系。我們還將討論用于環(huán)路增益穩(wěn)定性分析的頻率“十倍頻程準(zhǔn)則”。這些十倍頻程準(zhǔn)則將被用于1/β、Aol及Aolβ曲線。我們將給出運(yùn)放輸入網(wǎng)絡(luò)ZI與反饋網(wǎng)絡(luò)ZF的幅度“十倍頻程準(zhǔn)則”。我們將開發(fā)一種用于在1/β曲線上繪制雙反饋路徑的技術(shù),并將解釋為何在使用雙反饋路徑時(shí)應(yīng)該避免出現(xiàn)“BIG NOT”這種特殊情況。最后,我們將給出一種便于使用的實(shí)際穩(wěn)定性測(cè)試方法。在本系列的第5部分中,這些關(guān)鍵工具的綜合使用使我們能夠系統(tǒng)而方便地穩(wěn)定一個(gè)帶有復(fù)雜反饋電路的實(shí)際運(yùn)放應(yīng)用。
環(huán)路增益帶寬準(zhǔn)則
已確立的環(huán)路穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)要求在fcl處相移必須小于180度,fcl是環(huán)路增益降為零時(shí)的頻率。在fcl處的相移與整個(gè)180度相移之間的差定義為相位余量。圖4.0詳細(xì)給出了建議用于實(shí)際電路的經(jīng)驗(yàn),亦即在整個(gè)環(huán)路增益帶寬(f≤fcl)中設(shè)計(jì)得到135度的相移(對(duì)應(yīng)于45度的相位余量)。這是考慮到,在實(shí)際電路中存在著功率上升、下降及瞬態(tài)情況,在這些情況下,運(yùn)放在Aol曲線上的改變可能會(huì)導(dǎo)致瞬態(tài)振蕩。而這種情況在功率運(yùn)放電路中是特別不希望看到的。由于存在寄生電容與印制板布局寄生效應(yīng),因此這種經(jīng)驗(yàn)還考慮在環(huán)路增益帶寬中用額外的相位余量來考慮實(shí)際電路中的附加相移的。此外,當(dāng)環(huán)路增益帶寬中相位余量小于45度時(shí),即可能在閉環(huán)傳輸函數(shù)中導(dǎo)致不必要的尖峰。相位余量越低及越靠近fcl,則閉環(huán)尖峰就會(huì)越明顯。
環(huán)路增益帶寬準(zhǔn)則
已確立的環(huán)路穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)要求在fcl處相移必須小于180度,fcl是環(huán)路增益降為零時(shí)的頻率。在fcl處的相移與整個(gè)180度相移之間的差定義為相位余量。圖4.0詳細(xì)給出了建議用于實(shí)際電路的經(jīng)驗(yàn),亦即在整個(gè)環(huán)路增益帶寬(f≤fcl)中設(shè)計(jì)得到135度的相移(對(duì)應(yīng)于45度的相位余量)。這是考慮到,在實(shí)際電路中存在著功率上升、下降及瞬態(tài)情況,在這些情況下,運(yùn)放在Aol曲線上的改變可能會(huì)導(dǎo)致瞬態(tài)振蕩。而這種情況在功率運(yùn)放電路中是特別不希望看到的。由于存在寄生電容與印制板布局寄生效應(yīng),因此這種經(jīng)驗(yàn)還考慮在環(huán)路增益帶寬中用額外的相位余量來考慮實(shí)際電路中的附加相移的。此外,當(dāng)環(huán)路增益帶寬中相位余量小于45度時(shí),即可能在閉環(huán)傳輸函數(shù)中導(dǎo)致不必要的尖峰。相位余量越低及越靠近fcl,則閉環(huán)尖峰就會(huì)越明顯。
運(yùn)算放大器
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