資料介紹
電子設(shè)計(jì)技術(shù)的核心就是EDA技術(shù),EDA是指以計(jì)算機(jī)為工作平臺(tái),融合應(yīng)用電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、智能化技術(shù)最新成果而研制成的電子CAD通用軟件包,主要能輔助進(jìn)行三方面的設(shè)計(jì)工作,即IC設(shè)計(jì)、電子電路設(shè)計(jì)和PCB設(shè)計(jì)。 EDA技術(shù)已有30年的發(fā)展歷程,大致可分為三個(gè)階段。70年代為計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)階段,人們開始用計(jì)算機(jī)輔助進(jìn)行IC版圖編輯、PCB布局布線,取代了手工操作。80年代為計(jì)算機(jī)輔助工程(CAE)階段。與CAD相比,CAE除了有純粹的圖形繪制功能外,又增加了電路功能設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),并且通過電氣連接網(wǎng)絡(luò)表將兩者結(jié)合在一起,實(shí)現(xiàn)了工程設(shè)計(jì)。 CAE的主要功能是:原理圖輸人,邏輯仿真,電路分析,自動(dòng)布局布線,PCB后分析。90年代為電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)階段。
EDA技術(shù)的基本特征 EDA代表了當(dāng)今電子設(shè)計(jì)技術(shù)的最新發(fā)展方向,它的基本特征是:設(shè)計(jì)人員按照“自頂向下”的設(shè)計(jì)方法,對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行方案設(shè)計(jì)和功能劃分,系統(tǒng)的關(guān)鍵電路用一片或幾片專用集成電路(ASIC)實(shí)現(xiàn),然后采用硬件描述語言(HDL)完成系統(tǒng)行為級(jí)設(shè)計(jì),最后通過綜合器和適配器生成最終的目標(biāo)器件,這樣的設(shè)計(jì)方法被稱為高層次的電子設(shè)計(jì)方法。下面介紹與 EDA基本特征有關(guān)的幾個(gè)概念。 1.“自頂向下”的設(shè)計(jì)方法。10年前,電子設(shè)計(jì)的基本思路還是選用標(biāo)準(zhǔn)集成電路“自底向上”地構(gòu)造出一個(gè)新的系統(tǒng),這樣的設(shè)計(jì)方法就如同一磚一瓦建造金字塔,不僅效率低、成本高而且容易出錯(cuò)。高層次設(shè)計(jì)是一種“自頂向下”的全新設(shè)計(jì)方法,這種設(shè)計(jì)方法首先從系統(tǒng)設(shè)計(jì)人手,在頂層進(jìn)行功能方框圖的劃分和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。在方框圖一級(jí)進(jìn)行仿真、糾錯(cuò),并用硬件描述語言對(duì)高層次的系統(tǒng)行為進(jìn)行描述,在系統(tǒng)一級(jí)進(jìn)行驗(yàn)證。然后,用綜合優(yōu)化工具生成具體門電路的網(wǎng)絡(luò)表,其對(duì)應(yīng)的物理實(shí)現(xiàn)級(jí)可以是印刷電路板或?qū)S眉呻娐?。由于設(shè)計(jì)的主要仿真和調(diào)試過程是在高層次上完成的,這既有利于早期發(fā)現(xiàn)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上的錯(cuò)誤,避燃計(jì)工作的浪費(fèi),又減少了邏輯功能仿真的工作量,提高了設(shè)計(jì)的一次成功率。 2.ASIC設(shè)計(jì)?,F(xiàn)代電子產(chǎn)品的復(fù)雜度日益提高,一個(gè)電子系統(tǒng)可能由數(shù)萬個(gè)中小規(guī)模集成電路構(gòu)成,這就帶來了體積大、功耗大、可靠性差的問題。解決這一問題的有效方法就是采用ASIC芯片進(jìn)行設(shè)計(jì)。ASIC按照設(shè)計(jì)方法的不同可分為全定制ASIC、半定制ASC和可紀(jì)程ASIC(也稱為可編程邏輯器件)。設(shè)計(jì)全定制ASIC芯片時(shí),設(shè)計(jì)師要定義芯片上所有晶體管的幾何圖形和工藝規(guī)則,最后將設(shè)計(jì)結(jié)果交由m廠家去進(jìn)行格模制造,做出產(chǎn)品。這種設(shè)計(jì)方法的優(yōu)點(diǎn)是芯片可以獲得最優(yōu)的性能,即面積利用率高、速度快、功耗低,而缺點(diǎn)是開發(fā)周期長(zhǎng),費(fèi)用高,只適合大批量產(chǎn)品開發(fā)。半定制ASIC芯片的版圖設(shè)計(jì)方法分為門陣列設(shè)計(jì)法和標(biāo)準(zhǔn)單元設(shè)計(jì)法,這兩種方法都是約束性的設(shè)計(jì)方法,其主要目的就是簡(jiǎn)化設(shè)計(jì),以犧牲芯片性能為代價(jià)來縮短開發(fā)時(shí)間。

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