資料介紹
??晶體的主要組成部分是二氧化硅,俗稱石英。石英具有非凡的機(jī)械和壓電特性,使得從19世紀(jì)40年代中期以來一直作為基本的時(shí)鐘器件。如今,只要需要時(shí)鐘的地方,工程師首先想到的就是晶體,但是隨著應(yīng)用的不斷深入,晶體的一些固有的缺陷也隨之暴露出來。如今新技術(shù)不斷涌現(xiàn),并帶來很大的變化。
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??晶體的特點(diǎn)及參數(shù)
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??封裝
??晶體的封裝如圖1所示,有三部分組成:金屬上蓋,帶有電極的石英片和陶瓷底座。一般來說,還需要向密封殼內(nèi)充氮?dú)狻?
??現(xiàn)在幾乎所有的陶瓷密封裝都是由三家日本公司提供,但是由于日本地震和海嘯,產(chǎn)量嚴(yán)重受影響。今后很長一段時(shí)間將難以滿足市場需求。
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??圖1 晶體封裝圖
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??石英材料石英以其固有的壓電特性成為晶體中的主要部分。但是它必須經(jīng)過切割打磨才能使用,由于其厚度非常薄,雖然采取了保護(hù)措施,但是其抗震性一直是大家所擔(dān)心的。
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??精度
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??所謂精度就是實(shí)際的時(shí)鐘頻率偏離標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘頻率的程度。用公式表示為:
??Error (PPM) = (Factual-Ftarget) / Ftarget * 10E6
??Error:精度
??Factual:實(shí)際頻率
??Ftarget:標(biāo)準(zhǔn)頻率
??PPM:百萬分之一
??在晶體的應(yīng)用中,有這幾個(gè)方面需要考慮:
??1) 頻率公差:就是在通常的環(huán)境溫度下(25°C+/-5°C)實(shí)際頻率偏離標(biāo)準(zhǔn)頻率的值。
??2) 頻率溫度特征:就是在整個(gè)溫度變化范圍內(nèi),實(shí)際頻率偏離標(biāo)準(zhǔn)頻率的值?,F(xiàn)在通常有三種溫度范圍:0°C--70°C,-20°C--70°C和-40°C--85°C。
??3) 老化:晶體的內(nèi)部特性隨著時(shí)間的推移發(fā)生變化引起的頻率的偏差,稱為晶體的老化。一般來說,第一年晶體的精度受老化的影響為5PPM,以后每年大約為1-3PPM。如果一個(gè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)生命周期為10年,則老化帶來的頻率精度變化最高可達(dá)32PPM。
??4) 負(fù)載電容精度變化引起頻率的變化:這個(gè)因素往往容易被忽視。在晶體的應(yīng)用中有兩種工作模式,串行振蕩模式和并行振蕩模式。由于并行模式設(shè)計(jì)靈活并且有很高的輸出精度,現(xiàn)在已成為市場主流。 圖2是并行振蕩模式的等效電路圖:
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??圖2 并行振蕩模式等效電路圖
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??R1:動態(tài)阻抗
??C1:動態(tài)電容
??L1:動態(tài)電感
??C0:靜態(tài)電容
??CL:負(fù)載電容
??并行振蕩模式的頻率可根據(jù)以下公式:
??FL=[1/2π√(L1*C1))]*√[1+C1/(C0+CL)]
??其中[1/2π√(L1*C1))]是晶體串行振蕩模式的頻率
??根據(jù)泰勒展開:
??FL=[1/2π√(L1*C1)]*[1+C1/2(C0+CL)] (1)
??從公式中可以看出,頻率與C0,C1和CL都有關(guān)。
??在基頻諧振中C1為10-30fF,一般取值為20fF。C0取值與晶體的尺寸有關(guān),一般取值為5pF。但是CL的計(jì)算與晶體外接電容和和材料有關(guān)。下圖是參考電路圖
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??圖3 晶體外接負(fù)載電容示意圖
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