SCANSTA111增強(qiáng)型掃描橋多點(diǎn)可尋址IEEE 1149.1(JTAG)端口數(shù)據(jù)表
2024-06-28 |
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SCANSTA111擴(kuò)展了IEEE標(biāo)準(zhǔn)。1149.1測(cè)試總線進(jìn)入多點(diǎn)測(cè)試總線環(huán)境。與單個(gè)串行掃描鏈相比,多點(diǎn)方法的優(yōu)勢(shì)在于提高了測(cè)試吞吐量,并且能夠從系統(tǒng)中移除電路板并保留對(duì)剩余模塊的測(cè)試訪問(wèn)。每個(gè)SCANSTA111最多支持3個(gè)本地IEEE 1149.1scan掃描環(huán),可以單獨(dú)訪問(wèn)或串行組合。尋址是通過(guò)向指令寄存器加載與槽輸入相匹配的值來(lái)完成的。背板和板間測(cè)試可以通過(guò)一個(gè)Park指令將本地TAP控制器置于一個(gè)穩(wěn)定的TAPController狀態(tài)來(lái)輕松完成。32位TCK計(jì)數(shù)器支持在一個(gè)端口上執(zhí)行內(nèi)置自測(cè)操作,同時(shí)測(cè)試其他掃描鏈。
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