除了傳統(tǒng)的冗余機(jī)制，主動(dòng)容錯(cuò)技術(shù)也被用來提高存儲(chǔ)系統(tǒng)的可靠性。然而，當(dāng)前對主動(dòng)容錯(cuò)云存儲(chǔ)系統(tǒng)可靠性的研究工作很少，而且都局限于硬盤故障服從指數(shù)分布的假設(shè)前提。針對主動(dòng)容錯(cuò)磁盤冗余陣列RAID-5和RAID-6云存儲(chǔ)系統(tǒng)提出兩個(gè)可靠性狀態(tài)轉(zhuǎn)移模型，并基于轉(zhuǎn)移模型設(shè)計(jì)了蒙特卡洛仿真算法，評價(jià)系統(tǒng)在一定運(yùn)行周期內(nèi)發(fā)生數(shù)據(jù)丟失事件的期望個(gè)數(shù)。該算法采用韋布分布函數(shù)模擬隨時(shí)間變化（降低、恒定不變、或升高）的硬盤故障率，準(zhǔn)確評價(jià)了主動(dòng)容錯(cuò)機(jī)制、硬盤整體故障、故障修復(fù)、潛在塊故障以及磁盤清洗過程對系統(tǒng)可靠性的影響。所提方法可以幫助系統(tǒng)設(shè)計(jì)者評估不同容錯(cuò)機(jī)制和系統(tǒng)參數(shù)對云存儲(chǔ)系統(tǒng)可靠性的影響，有助于創(chuàng)建高可靠存儲(chǔ)系統(tǒng)。

　　近年來，大規(guī)模云存儲(chǔ)系統(tǒng)已成為主流IT企業(yè)的主要存儲(chǔ)架構(gòu)，因?yàn)閮r(jià)格等方面的優(yōu)勢，硬盤仍然是它們的主要存儲(chǔ)介質(zhì)。由于制作工藝及技術(shù)的進(jìn)步，單體硬盤的可靠性不斷提高，但是，在包含成千上萬塊硬盤的大規(guī)模云存儲(chǔ)系統(tǒng)中，硬盤故障甚至是并發(fā)故障時(shí)有發(fā)生。硬盤故障不僅會(huì)引起服務(wù)中斷、降低用戶服務(wù)體驗(yàn)，甚至?xí)?dǎo)致數(shù)據(jù)的永久丟失，給企業(yè)和用戶帶來無法挽回的損失。因此，當(dāng)前大規(guī)模云存儲(chǔ)系統(tǒng)面臨著高可靠性的挑戰(zhàn)。