資料介紹
近年來出現(xiàn)的離散事件系統(tǒng)(DES)理論為數(shù)?;旌想娐返臏y試提供了一種新的解
決思路,本文對DES 理論在求取數(shù)?;旌想娐返目蓽y試性和最小測試集中的應(yīng)用進行了論述。該種方法可以在計算機上用C++語言實現(xiàn)。
關(guān)鍵詞:數(shù)模混合電路,離散事件系統(tǒng),可測試性,最小測試集,故障覆蓋率。
The research of the testability of Mixed-signal circuits based on the DES theory
ZHANG Qibo, LU Changhua, JIANG Weiwei (Hefei University of Technology, Hefei 230009) Abstract:The discrete event system theory that is developed in the recent years gave a new method for the mixed-signal circuits testing. This paper illustrates the application of the DES in the getting of testability and the minimum test set of the mixed-signal circuits. This method can be realized on computer by the C++.
Keywords: the Mixed-signal circuits ,the Discrete event system theory ,the Testability ,the Minimum test set ,the Fault efficiency.
決思路,本文對DES 理論在求取數(shù)?;旌想娐返目蓽y試性和最小測試集中的應(yīng)用進行了論述。該種方法可以在計算機上用C++語言實現(xiàn)。
關(guān)鍵詞:數(shù)模混合電路,離散事件系統(tǒng),可測試性,最小測試集,故障覆蓋率。
The research of the testability of Mixed-signal circuits based on the DES theory
ZHANG Qibo, LU Changhua, JIANG Weiwei (Hefei University of Technology, Hefei 230009) Abstract:The discrete event system theory that is developed in the recent years gave a new method for the mixed-signal circuits testing. This paper illustrates the application of the DES in the getting of testability and the minimum test set of the mixed-signal circuits. This method can be realized on computer by the C++.
Keywords: the Mixed-signal circuits ,the Discrete event system theory ,the Testability ,the Minimum test set ,the Fault efficiency.
數(shù)模混合電路
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