資料介紹
物體內(nèi)部的缺陷在受到外力作用時(shí),例如抽真空(施加負(fù)壓)、充氣加壓、加熱、振動(dòng)、彎曲等加載方式的作用下,與缺陷對(duì)應(yīng)的物體表面將產(chǎn)生與周?chē)煌木植课⑿∽冃危ㄎ灰疲捎眉す馊⒄障嗟姆椒?,將發(fā)生變形前后兩個(gè)光波的波陣面記錄下來(lái)進(jìn)行對(duì)比觀察,從而可以判斷并檢出物體的內(nèi)部缺陷。
無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
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