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標(biāo)簽 > 測(cè)試技術(shù)
測(cè)試技術(shù)闡述了測(cè)試技術(shù)的研究對(duì)象、理論基礎(chǔ)以及典型物理量的測(cè)試方法。培養(yǎng)讀者動(dòng)手能力為宗旨,著重?cái)⑹龌镜臏y(cè)試原理、信號(hào)的分析與處理方法、測(cè)試系統(tǒng)的特性以及測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì),并在此基礎(chǔ)上,對(duì)位移、振動(dòng)、噪聲、力、扭矩、壓力、溫度、流量等的測(cè)試分別進(jìn)行了闡述。
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比斯特通用分選機(jī)四線制測(cè)試技術(shù)保障電芯性能一致性
電芯的性能一致性直接決定了終端產(chǎn)品的安全性、續(xù)航能力與使用壽命,然而,受制于原材料差異、制造工藝波動(dòng)等因素,即使是同一批次生產(chǎn)的電芯,其電壓、內(nèi)阻等關(guān)鍵...
2026-01-29 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)電芯 207 0
廣電計(jì)量亮相2025合肥量子測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用論壇
國(guó)家“十五五”規(guī)劃將量子科技列為未來(lái)產(chǎn)業(yè)首位,量子測(cè)試技術(shù)作為其工程化與應(yīng)用落地的關(guān)鍵支撐,正加速?gòu)膶?shí)驗(yàn)室走向產(chǎn)業(yè)前沿。合肥作為“量子硅谷”,持續(xù)推動(dòng)量...
2025-12-04 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)廣電計(jì)量 710 0
廣電計(jì)量邀您相約2025合肥量子測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用論壇
日前,在合肥舉行的“2025量子科技和產(chǎn)業(yè)大會(huì)量子精密測(cè)量論壇”上,廣電計(jì)量受邀參會(huì),資深專家喬仁曉發(fā)表專題報(bào)告,指出量子測(cè)試是產(chǎn)業(yè)落地的關(guān)鍵基石,并系...
2025-11-27 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)廣電計(jì)量 974 0
想理解 RISC-V,得先從“指令集架構(gòu)”說(shuō)起,這是芯片的“語(yǔ)言”。
2025-11-14 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)是德科技RISC-V 1.7k 0
德思特?cái)yGNSS高精度定位測(cè)試技術(shù)亮相粵港科創(chuàng)盛會(huì)
近日,虹科姐妹公司德思特?cái)y自主研發(fā)的GNSS高精度定位測(cè)試技術(shù)亮相香港“粵港創(chuàng)新與科技合作推介活動(dòng)”,與行業(yè)專家共探國(guó)產(chǎn)替代新機(jī)遇,展現(xiàn)“中國(guó)智造”在全...
2025-04-17 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)GNSS虹科電子 909 0
嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)深度研究報(bào)告 ——基于winAMS的全生命周期質(zhì)量保障體系構(gòu)建 一、行業(yè)技術(shù)瓶頸與解決方案框架 2025年嵌入式軟件測(cè)試領(lǐng)域面臨兩大核...
2025-03-03 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)嵌入式軟件 1.1k 0
是德科技發(fā)布LPDDR6完整解決方案,助力內(nèi)存設(shè)計(jì)與測(cè)試
近日,是德科技正式推出了針對(duì)LPDDR6(第六代低功耗雙倍數(shù)據(jù)速率內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn))的完整設(shè)計(jì)和測(cè)試解決方案,旨在引領(lǐng)內(nèi)存系統(tǒng)技術(shù)創(chuàng)新的新潮流。 該解決方案覆蓋...
2025-02-13 標(biāo)簽:內(nèi)存測(cè)試技術(shù)是德科技 1.1k 0
羅德與施瓦茨測(cè)試技術(shù)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)回顧
羅德與施瓦茨成功舉辦了備受期待的“掌握未來(lái):車載定位標(biāo)準(zhǔn)GB/T 45086.1-2024測(cè)試技術(shù)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)”。來(lái)自汽車行業(yè)的專家、工程師和技術(shù)愛好者齊...
2025-01-16 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)羅德與施瓦茨 1.3k 0
是德科技與中汽研共建充電測(cè)試技術(shù)聯(lián)合創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室
是德科技公司近期宣布了一項(xiàng)重要合作舉措,與中汽研新能源汽車檢驗(yàn)中心(天津)有限公司攜手共建充電測(cè)試技術(shù)聯(lián)合創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室,并成功舉行了揭牌儀式。這一合作標(biāo)志...
2025-01-15 標(biāo)簽:新能源汽車測(cè)試技術(shù)是德科技 896 0
是德科技與中汽中心建立充電測(cè)試技術(shù)聯(lián)合創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室
是德科技(NYSE:KEYS)日前宣布,是德科技與中汽研新能源汽車檢驗(yàn)中心(天津)有限公司(簡(jiǎn)稱:中汽中心新能源檢驗(yàn)中心)共同建立充電測(cè)試技術(shù)聯(lián)合創(chuàng)新實(shí)...
2025-01-13 標(biāo)簽:充電實(shí)驗(yàn)室測(cè)試技術(shù) 964 0
國(guó)電西高成功舉辦電力測(cè)試技術(shù)培訓(xùn)交流會(huì)
近日,國(guó)電西高成功舉辦了電力測(cè)試技術(shù)培訓(xùn)交流會(huì),會(huì)議吸引了眾多電力行業(yè)的專家、技術(shù)人員及相關(guān)企業(yè)代表參加。此次培訓(xùn)旨在提升行業(yè)技術(shù)水平,促進(jìn)各方的經(jīng)驗(yàn)交...
2024-12-16 標(biāo)簽:電力電力設(shè)備測(cè)試技術(shù) 1.2k 0
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,BGA芯片因其高集成度、高性能和小型化的特點(diǎn),在現(xiàn)代電子產(chǎn)品中扮演著越來(lái)越重要的角色。然而,由于BGA芯片的復(fù)雜性和精細(xì)的封裝,...
2024-11-23 標(biāo)簽:電子產(chǎn)品機(jī)械測(cè)試技術(shù) 4k 0
LitePoint創(chuàng)新測(cè)試技術(shù)研討會(huì)圓滿結(jié)束
LitePoint,全球先進(jìn)的無(wú)線測(cè)試解決方案提供商,近期在上海和深圳成功舉辦了兩場(chǎng)主題為“未來(lái)先行 智測(cè)致遠(yuǎn)”的創(chuàng)新測(cè)試技術(shù)研討會(huì)。此次活動(dòng)吸引了眾多...
2024-11-15 標(biāo)簽:物聯(lián)網(wǎng)測(cè)試技術(shù)LitePoint 1.3k 0
博科測(cè)試IPO上市:募資用途助力企業(yè)搶占發(fā)展先機(jī)
在競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)中,企業(yè)如何精準(zhǔn)捕捉市場(chǎng)脈搏,快速響應(yīng)技術(shù)變革,是決定其能否在激烈競(jìng)爭(zhēng)中脫穎而出的關(guān)鍵因素。北京博科測(cè)試系統(tǒng)股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱“博科...
2024-09-06 標(biāo)簽:ipo測(cè)試技術(shù) 839 0
總投資1億美元,香港芯片封裝測(cè)試產(chǎn)業(yè)項(xiàng)目落戶南通開發(fā)區(qū)
近日,南通經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)委員會(huì)與香港亮鼎國(guó)際有限公司舉行簽約儀式,芯片封裝測(cè)試產(chǎn)業(yè)項(xiàng)目落戶南通開發(fā)區(qū)。
2024-08-25 標(biāo)簽:封裝測(cè)試測(cè)試技術(shù)芯片封裝 1.7k 0
華嶺股份全資子公司—上海華嶺申瓷集成電路有限責(zé)任公司(以下簡(jiǎn)稱:華嶺申瓷)在上海臨港舉行開業(yè)儀式。上海自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)管委會(huì)高科處副處長(zhǎng)吳海濤、...
2024-08-20 標(biāo)簽:集成電路半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù) 1.8k 0
南京宏泰半導(dǎo)體榮獲集成音視頻系統(tǒng)芯片測(cè)試系統(tǒng)
該項(xiàng)發(fā)明聚焦于混合信號(hào)芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體是一套基于ATE測(cè)試平臺(tái)并搭載測(cè)試程序和算法服務(wù)器的綜合芯片測(cè)試系統(tǒng)以及相應(yīng)的測(cè)試方法。其中,算法服務(wù)器負(fù)責(zé)...
2024-04-16 標(biāo)簽:混合信號(hào)算法測(cè)試技術(shù) 975 0
雷卯在第六屆電子設(shè)計(jì)與測(cè)試技術(shù)大會(huì)上大放光彩
2024年01月06日,上海雷卯胡工參加了在深圳舉辦的第六屆電子設(shè)計(jì)與測(cè)試技術(shù)大會(huì)(簡(jiǎn)稱:EDTEST2023),“一起共創(chuàng),為您而生”電子技術(shù)開發(fā)者年...
2024-01-24 標(biāo)簽:電磁兼容測(cè)試技術(shù) 1k 0
千兆光模塊和萬(wàn)兆光模塊在現(xiàn)代通信設(shè)備中應(yīng)用廣泛,但其可靠性一直是光模塊廠家面臨的重要問(wèn)題之一。本文將深入探討光模塊可靠性的提高方法,包括材料選擇、生產(chǎn)工...
2023-11-13 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)可靠性光模塊 1.4k 0
聚焦千兆光模塊和萬(wàn)兆光模塊的測(cè)試技術(shù)及設(shè)備
本文主要探討了千兆光模塊和萬(wàn)兆光模塊的測(cè)試技術(shù)及測(cè)試設(shè)備,讓讀者了解光模塊測(cè)試的具體方法。同時(shí),文章還對(duì)測(cè)試過(guò)程中需要注意的細(xì)節(jié)進(jìn)行了提醒和分析,讓讀者...
2023-11-06 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)光模塊 1.7k 0
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