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測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測試行為，一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
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BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路最優(yōu)測試集的生成設(shè)計(jì)
BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路最優(yōu)測試集的生成設(shè)計(jì) 1 引言 人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)是基于模仿生物大腦的結(jié)構(gòu)和功能而構(gòu)成的一種信息處理系統(tǒng)。國際著名 的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)專家...
2010-02-02 標(biāo)簽：測試BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 1.6k 0
羅德與施瓦茨北京開放實(shí)驗(yàn)室正式對外開放 為了更好地服務(wù)用戶，羅德與施瓦茨公司北京開放實(shí)驗(yàn)室于2010年1月正式對外開放。實(shí)驗(yàn)室面向R&S公司的...
電路板改板技術(shù)之光板測試工藝指導(dǎo) 光板工藝測試技術(shù)是電路板抄板改板過程中常用到的一種制板工藝技術(shù)，目的是為了能確保最后成品電路板的品質(zhì)。以下我們提供
2010-01-23 標(biāo)簽：測試 1.2k 0
電路板改板設(shè)計(jì)中的可測試性技術(shù) 電路板制板可測試性的定義可簡要解釋為：電路板測試工程師在檢測某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡單的方法來測試，以確定
2010-01-23 標(biāo)簽：測試 613 0
筆記本電池測試軟件的使用方法和注意事項(xiàng) 筆記本除了處理能力受人們關(guān)注之外，還有一個(gè)指標(biāo)是用戶相當(dāng)關(guān)心的，那就是電池的使用時(shí)間。消
百佳泰授權(quán)成為首家TransferJet測試實(shí)驗(yàn)室
百佳泰授權(quán)成為首家TransferJet測試實(shí)驗(yàn)室 百佳泰(Allion)近期宣部已通過TransferJet Consortium授權(quán)，成為Tran...
K-micro、安立公司合作開發(fā)測試方案，為10G EPON
K-micro、安立公司合作開發(fā)測試方案，為10G EPON系統(tǒng)上市鋪路 日前，K-micro公司和安立公司共同宣布開發(fā)出全球第一款測量分析10Gbp...
萬用表附加器-相位測試儀 在現(xiàn)代電子電路中，很多方面對電路中信號的相位有較嚴(yán)格的要求，為此相位的測量就成為比較普遍的問題
2009-11-22 標(biāo)簽：測試 2.4k 0
層出不窮的信號發(fā)生器可有效節(jié)省測試時(shí)間
層出不窮的信號發(fā)生器可有效節(jié)省測試時(shí)間 所有電子電路和電子設(shè)備都接收輸入信號，然后將其處理成新的不同的輸出信號。工程師在設(shè)計(jì)和測試電路及設(shè)備時(shí)會(huì)從哪
2009-11-05 標(biāo)簽：測試 1.7k 0
霍尼韋爾 TPE331發(fā)動(dòng)機(jī)測試可再生航空燃料
-- 測試發(fā)現(xiàn)使用替代燃料對發(fā)動(dòng)機(jī)和 APU 性能沒有影響，可減排15%到50% 佛羅里達(dá)州奧蘭多市2009年1...
2009-10-22 標(biāo)簽：發(fā)動(dòng)機(jī)測試航空 2.2k 0
新研發(fā)實(shí)驗(yàn)室單芯片，可同時(shí)執(zhí)行上千筆測試
新研發(fā)實(shí)驗(yàn)室單芯片，可同時(shí)執(zhí)行上千筆測試 美國加州大學(xué)洛杉磯分校(UCLA)的研究人員表示，他們所研發(fā)的微流體實(shí)驗(yàn)室單芯片(microfluidic ...
2009-08-11 標(biāo)簽：測試 586 0
為什么需要進(jìn)行WiMAX協(xié)議一致性測試？
頻繁掉話、“網(wǎng)絡(luò)繁忙”的信息以及斷斷續(xù)續(xù)的服務(wù)，都是設(shè)備互操作性差的潛在癥狀。通常，引起這類問題的原因要么是驗(yàn)證測試不夠嚴(yán)格，要么由于沒有進(jìn)行充分的互操作性測
為什么要發(fā)展測試友好技術(shù) 過去，若某一產(chǎn)品在上一測試點(diǎn)不能測試，那么這個(gè)問題就被簡單地推移到直一個(gè)測試點(diǎn)上去。如
2009-05-16 標(biāo)簽：測試 460 0
基于ISP的導(dǎo)彈測試系統(tǒng)接口電路設(shè)計(jì)?
【摘 要】 介紹了在VXI總線儀器構(gòu)成的導(dǎo)彈測試系統(tǒng)中，利用ISP器件使接口電路設(shè)計(jì)簡化，并用VHDL語言實(shí)現(xiàn)了ISP器件的內(nèi)部邏輯，給出了設(shè)計(jì)的方法及...
2009-05-11 標(biāo)簽：測試 1.4k 0
根據(jù)混合信號邊界掃描測試的工作機(jī)制，提出了符合1149．4標(biāo)準(zhǔn)的測試方法，并用本研究室開發(fā)的混合信號邊界掃描測試系統(tǒng)進(jìn)行了測試驗(yàn)證。
2009-05-09 標(biāo)簽：測試 747 0
自動(dòng)測試設(shè)備的預(yù)算-Automatic Test Equip
Abstract: The complexity of electronic-device testing varies widely, ranging...
多輸入多輸出(MIMO)技術(shù)正在迅速流行起來，以便增強(qiáng)噪聲和干擾環(huán)境中的無線電性能。為同時(shí)滿足下一代射...
2009-04-24 標(biāo)簽：測試 708 0
LTE TDD測試介紹及Rohde & Schwarz 解決
目前，在3G之后，各種通信技術(shù)將如何演進(jìn)是業(yè)界非常關(guān)注的一個(gè)焦點(diǎn)，特別是對于TD-SCDMA來說，能否實(shí)現(xiàn)向下一代通信技術(shù)的平滑演進(jìn)，決定了TD究竟具有...
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