標(biāo)簽 > 點(diǎn)云
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在逆向工程中通過(guò)測(cè)量?jī)x器得到的產(chǎn)品外觀表面的點(diǎn)數(shù)據(jù)集合也稱(chēng)之為點(diǎn)云,通常使用三維坐標(biāo)測(cè)量機(jī)所得到的點(diǎn)數(shù)量比較少,點(diǎn)與點(diǎn)的間距也比較大,叫稀疏點(diǎn)云;而使用三維激光掃描儀或照相式掃描儀得到的點(diǎn)云,點(diǎn)數(shù)量比較大并且比較密集,叫密集點(diǎn)云。
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