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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動測試機(jī),用于檢測集成電路功能之完整性, 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程, 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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采用系統(tǒng)級模塊方法簡化精密阻抗分析儀的設(shè)計(jì)
作者:Kenton Williston 投稿人:DigiKey 北美編輯 許多應(yīng)用都要求準(zhǔn)確的阻抗測量,這些應(yīng)用包括觸摸屏校準(zhǔn)、半導(dǎo)體表征、晶圓驗(yàn)收和電...
基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試,以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試,從而降低測試成本,簡化數(shù)字/RF片...
2023-07-10 標(biāo)簽:ATEMEMS開關(guān)寬帶寬 1.2k 0
產(chǎn)品應(yīng)用方案|士模八通道同步采樣ADC(CM2248)在ATE設(shè)備中的應(yīng)用
CM2248具有集成度高,92dB SNR高信噪比,-105dB高THD等優(yōu)勢;使得它非常適合應(yīng)用于ATE設(shè)備中各類信號的高精度回采。同時(shí),CM2248...
2025-03-06 標(biāo)簽:adc模數(shù)轉(zhuǎn)換器ATE 1k 0
電纜線束是電子系統(tǒng)的核心組件,通常由多根鍍銅線組成,連接到不同位置,總長度可達(dá)數(shù)千米。然而,在制造過程中,這些銅線可能會因刮擦、扭曲、打結(jié)或部分割斷而產(chǎn)...
以更低的成本實(shí)現(xiàn)更高的半導(dǎo)體測試吞吐量
在這種環(huán)境下,ATE設(shè)計(jì)人員努力增加每一代通道的數(shù)量并不少見。提高測試能力意味著主板(具有大量引腳驅(qū)動器電子元件的驅(qū)動板)將需要大量功率才能運(yùn)行。當(dāng)然,...
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