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　　美商國家儀器 (National Instruments, NI)新推出 NI PXIe-1435 高效能 Camera Link 影像擷取卡，可于 PXI 系統(tǒng)中整合高速、高分辨率的成像功能，適用于自動化測試作業(yè)。該產(chǎn)品具備高傳輸率成像功能，搭配現(xiàn)成的 PXI 量測硬件，讓NI 可提供完整的軟件定義解決方案，更適用于高系統(tǒng)需求的自動化測試應(yīng)用，如汽車、半導(dǎo)體、消費(fèi)性電子。

　　NI PXIe-1435可用于 Camera Link 架構(gòu)的相機(jī) (包含 10-Tap、Extended 到 Full-Configuration)，達(dá)到最高 850 MB/s 傳輸率。工程師可透過 Power over Camera Link (PoCL)-enabled 連接線而強(qiáng)化相機(jī)功能，并于布署環(huán)境中減少額外接線。此款影像擷取卡亦內(nèi)建 512 MB 的 DDR2 內(nèi)存，可更穩(wěn)定傳輸大型影像，而不需擔(dān)心數(shù)據(jù)溢流。內(nèi)建的數(shù)字 I/O 包含 4 組雙向 Transistor-Transistor Logic (TTL)、2 組光學(xué)隔離輸入、1 組正交編碼器，可搭配自動化裝置而觸發(fā)/溝通檢驗(yàn)結(jié)果。

　　該影像擷取卡亦具備 PXI Express 規(guī)格的時序、同步化、數(shù)據(jù)串流/處理功能，并支持 FPGA 適配卡的圖像處理作業(yè)，達(dá)到更高的系統(tǒng)效能。

　　Camera Link 標(biāo)準(zhǔn)的低潛時、高傳輸率特性，讓影像擷取卡更適用于逐行掃瞄影像傳感器，讓工程師進(jìn)行大范圍的表面檢驗(yàn)，如找出太陽能面板的瑕疵，或平面顯示器的壞點(diǎn)。NI PXIe-1435 影像擷取卡亦可用于多種工業(yè)應(yīng)用，如 Stop 觸發(fā)器的故障分析，可于現(xiàn)場事件前后記錄影像;還有如醫(yī)療裝置應(yīng)用，可分析復(fù)雜運(yùn)動并記錄物體 (眼角膜與心臟瓣膜) 中的激發(fā)/響應(yīng)。

　　工程師亦可透過 NI LabVIEW 圖形化開發(fā)軟件，搭配完整成像函式庫的 NI 機(jī)器視覺開發(fā) (Vision Development) 模塊，以設(shè)計此新款模塊。另針對快速開發(fā)與簡易維護(hù)作業(yè)，另有獨(dú)立的 NI Vision Builder for Automated Inspection 軟件可設(shè)定此款模塊。NI 機(jī)器視覺軟件可利用數(shù)百筆成像處理算法;依多種檢驗(yàn)結(jié)果以利決策;另有 I/O 與工業(yè)級通訊協(xié)議，可客制化用戶接口并溝通結(jié)果。