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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>基于數(shù)值模擬的LED鍵合線熱應(yīng)力的基礎(chǔ)理論

基于數(shù)值模擬的LED鍵合線熱應(yīng)力的基礎(chǔ)理論

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2020-05-30 10:45:134805

關(guān)于LED組件的結(jié)溫和引腳溫度的熱測(cè)試系統(tǒng)

Avago Technologies用于測(cè)量特定應(yīng)用中安裝的LED組件的結(jié)溫和引腳溫度的熱測(cè)試系統(tǒng)。 通常,對(duì)LED組件進(jìn)行熱測(cè)試的目的是測(cè)量結(jié)溫到環(huán)境的溫升,以確保不超過(guò)最大結(jié)溫。LED組件在高于最大結(jié)溫的溫度下的溫度循環(huán)往往會(huì)導(dǎo)致金產(chǎn)生過(guò)度的熱應(yīng)力,從而導(dǎo)致過(guò)早
2021-05-13 09:47:175303

銀線二焊點(diǎn)剝離失效分析

銀線二焊點(diǎn)剝離LED死燈的案子時(shí)常發(fā)生,大家通常爭(zhēng)論是鍍銀層結(jié)合力差的問(wèn)題,還是工藝問(wèn)題,而本案例,金鑒從百格實(shí)驗(yàn)和FIB截面觀察的角度來(lái)判定為工藝導(dǎo)致。
2021-05-16 11:53:123593

DN247-雙相高效移動(dòng)CPU電源將體積和熱應(yīng)力降至最低

DN247-雙相高效移動(dòng)CPU電源將體積和熱應(yīng)力降至最低
2021-05-27 08:50:246

LED引線鍵合工藝評(píng)價(jià)

引線鍵合LED封裝制造工藝中的主要工序,其作用是實(shí)現(xiàn)LED芯片電極與外部引腳的電路連接。引線鍵合工藝的方法和質(zhì)量直接影響著LED燈珠的可靠性和成本。 服務(wù)客戶(hù): LED封裝廠 檢測(cè)手段: 掃描電鏡
2021-11-21 11:15:262519

時(shí)間序列分析和預(yù)測(cè)基礎(chǔ)理論知識(shí)

今天給大家?guī)?lái)一篇實(shí)戰(zhàn)案例,本案例旨在運(yùn)用之前學(xué)習(xí)的時(shí)間序列分析和預(yù)測(cè)基礎(chǔ)理論知識(shí),用一個(gè)基于交通數(shù)據(jù)的實(shí)際案例數(shù)據(jù)演示這些方法是如何被應(yīng)用的。
2022-03-16 14:05:003421

詳解單片機(jī)基礎(chǔ)理論知識(shí)

單片機(jī)基礎(chǔ)理論知識(shí)包括模擬電路、數(shù)字電路和C語(yǔ)言知識(shí),模擬電路與數(shù)字電路屬于抽象學(xué)科,要把這些學(xué)好還得費(fèi)點(diǎn)功夫,但是在學(xué)習(xí)單片機(jī)之前,覺(jué)得自己模擬電路和數(shù)字電路基礎(chǔ)不好的話,先不要急著入門(mén)單片機(jī)
2022-03-30 17:19:065760

銅絲塑封器件的幾種不同失效模式和失效機(jī)理分析

實(shí)驗(yàn)室采用高溫貯存試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、高溫高濕試驗(yàn)或高加速熱應(yīng)力試驗(yàn)等對(duì)銅絲可靠性進(jìn)行評(píng)估,結(jié)果均顯示銅絲具有非常好的使用壽命。
2022-12-28 09:52:345511

極小焊盤(pán)的金絲方案

金絲質(zhì)量的好壞受劈刀、參數(shù)、層鍍金質(zhì)量和金絲質(zhì)量等因素的制約。傳統(tǒng)熱壓、超聲鍵合、熱超聲鍵合或楔形和球形分別在不同情況下可以得到最佳效果。工藝人員針對(duì)不同焊盤(pán)尺寸所制定
2023-02-07 15:00:256593

成本更低但性能相當(dāng)甚至更好的銅線來(lái)代替金

金價(jià)不斷上漲增加了半導(dǎo)體制造業(yè)的成本壓力,因此業(yè)界一直在改善銅線的性能上努力,希望最終能夠用成本更低但性能相當(dāng)甚至更好的銅線來(lái)代替金
2023-02-13 09:21:414689

可以達(dá)到或超過(guò)金性能和焊接效率的銅線

金價(jià)不斷上漲增加了半導(dǎo)體制造業(yè)的成本壓力,因此業(yè)界一直在改善銅線的性能上努力,希望最終能夠用成本更低但性能相當(dāng)甚至更好的銅線來(lái)代替金。
2023-03-02 16:14:561979

?晶圓直接及室溫技術(shù)研究進(jìn)展

晶圓直接技術(shù)可以使經(jīng)過(guò)拋光的半導(dǎo)體晶圓,在不使用粘結(jié)劑的情況下結(jié)合在一起,該技術(shù)在微電子制造、微機(jī)電系統(tǒng)封裝、多功能芯片集成以及其他新興領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。對(duì)于一些溫度敏感器件或者熱膨脹系數(shù)差異
2023-06-14 09:46:273533

展會(huì)邀請(qǐng)|Aigtek安泰電子誠(chéng)邀您蒞臨第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)!

安泰電子誠(chéng)邀您蒞臨觀摩2023年3月31日-4月2日,第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)將在重慶隆重召開(kāi),屆時(shí)Aigtek安泰電子將攜一眾明星產(chǎn)品及專(zhuān)業(yè)測(cè)試解決方案亮相本次展會(huì),我們誠(chéng)邀您蒞臨重慶科苑戴斯酒店,2
2023-03-28 16:23:131390

大會(huì)回顧 | 重溫第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)安泰電子高光時(shí)刻!

第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)2023年4月2日,第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)在重慶完美落下帷幕,作為我國(guó)熱應(yīng)力領(lǐng)域的年度盛會(huì),本次大會(huì)匯聚業(yè)內(nèi)眾多科研工作者參加。作為國(guó)內(nèi)優(yōu)秀的民族測(cè)試儀器制造商,本屆大會(huì)
2023-04-10 11:23:231205

技術(shù)資訊 I 多層 PCB 的熱應(yīng)力分析

本文要點(diǎn)多層PCB有很多優(yōu)點(diǎn),但是,多層結(jié)構(gòu)也會(huì)給電路板帶來(lái)熱應(yīng)力問(wèn)題。熱應(yīng)力分析是一種溫度和應(yīng)力分析方法,用于確定多層PCB中的熱應(yīng)力點(diǎn)。熱應(yīng)力分析結(jié)果有助于PCB設(shè)計(jì)人員構(gòu)建可靠、穩(wěn)健和經(jīng)過(guò)優(yōu)化
2023-04-13 15:15:352590

銀合金IMC的實(shí)驗(yàn)檢查方法研究

介紹了封裝過(guò)程中應(yīng)用的銀合金與鋁墊之間形成的共金化合物(IMC),提出了侵蝕對(duì)IMC的影響,由于銀合金IMC不能通過(guò)物理方法確認(rèn),需通過(guò)軟件測(cè)量計(jì)算和化學(xué)腐蝕試驗(yàn)得到IMC覆蓋面積。詳述
2023-10-20 12:30:023369

優(yōu)化封裝以滿(mǎn)足SerDes應(yīng)用封裝規(guī)范

 一個(gè)典型的SerDes通道包含使用兩個(gè)單獨(dú)互連結(jié)構(gòu)的互補(bǔ)信號(hào)發(fā)射器和接收器之間的信息交換。兩個(gè)端點(diǎn)之間的物理層包括一個(gè)連接到子卡的封裝或倒裝芯片封裝的發(fā)射器件。子卡通過(guò)一個(gè)連接器插在背板上。背板上的路由通過(guò)插入的子卡連接到一個(gè)或一組連接器。采用或倒裝芯片封裝的接收芯片也位于這些子卡上。
2023-11-06 15:27:291063

線路板壽命不可缺的pcb熱應(yīng)力試驗(yàn)

pcb熱應(yīng)力試驗(yàn)
2023-11-10 10:11:502441

多層 PCB 的熱應(yīng)力分析

多層 PCB 的熱應(yīng)力分析
2023-11-27 15:35:012002

基于數(shù)值計(jì)算的模擬仿真方法進(jìn)行碲鎘汞芯片的熱應(yīng)力分析

通過(guò)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行大面陣碲鎘汞芯片的熱應(yīng)力分析不僅耗時(shí)長(zhǎng)、成本高,而且對(duì)于微米尺度的陣列單元分析難度高。近年來(lái),利用基于數(shù)值計(jì)算的模擬仿真方法進(jìn)行碲鎘汞芯片的熱應(yīng)力分析受到了人們廣泛的關(guān)注及研究。近年來(lái)
2023-11-26 10:48:392600

鋁質(zhì)焊盤(pán)的工藝

超聲楔形、金絲熱聲球形、金絲熱壓楔形。對(duì)層狀結(jié)構(gòu)的焊盤(pán)在熱聲和熱壓應(yīng)力仿真對(duì)比分析,得出各因素的重要性排序?yàn)槌暪β省?b class="flag-6" style="color: red">鍵壓力、襯底加熱溫度和劈刀溫度。通過(guò)正交試驗(yàn)設(shè)計(jì),找到鋁焊盤(pán)上較為適宜的
2024-02-02 16:51:482915

金絲引線鍵合的影響因素探究

共讀好書(shū) 劉鳳華 中電科思儀科技股份有限公司 摘要: 對(duì)設(shè)備性能和人員技能的要求極高,屬于關(guān)鍵控制工序,質(zhì)量的好壞直接影響電路的可靠性。工藝人員需對(duì)的影響因素進(jìn)行整體把控,有針對(duì)性地控制
2024-02-02 17:07:181762

金絲強(qiáng)度測(cè)試儀試驗(yàn)方法:拉脫、引線拉力、剪切力

金絲強(qiáng)度測(cè)試儀是測(cè)量引線鍵合強(qiáng)度,評(píng)估強(qiáng)度分布或測(cè)定強(qiáng)度是否符合有關(guān)的訂購(gòu)文件的要求。強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)可應(yīng)用于采用低溫焊、熱壓焊、超聲焊或有關(guān)技術(shù)的、具有內(nèi)引線的器件封裝內(nèi)部的引線
2024-07-06 11:18:592227

金絲工藝溫度研究:揭秘質(zhì)量的奧秘!

在微電子封裝領(lǐng)域,金絲(Wire Bonding)工藝作為一種關(guān)鍵的電氣互連技術(shù),扮演著至關(guān)重要的角色。該工藝通過(guò)細(xì)金屬(主要是金絲)將芯片上的焊點(diǎn)與封裝基板或另一芯片上的對(duì)應(yīng)焊點(diǎn)連接起來(lái)
2024-08-16 10:50:144903

半導(dǎo)體制造的檢測(cè)解決方案

引線鍵合廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、半導(dǎo)體行業(yè)和微電子領(lǐng)域。它實(shí)現(xiàn)了集成電路(IC)中芯片與其他電子元件(如晶體管和電阻)之間的互連。引線合通過(guò)在芯片的焊盤(pán)與封裝基板或其他芯片上的對(duì)應(yīng)焊盤(pán)之間建立電氣連接
2024-10-16 09:23:522457

利用電容測(cè)試方法開(kāi)創(chuàng)檢測(cè)新天地

作者:是德科技產(chǎn)品經(jīng)理 Shawn Lee 廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)和微電子領(lǐng)域。它能夠?qū)⒓呻娐罚↖C)中的裸片與其他電子元器件(如晶體管和電阻器)進(jìn)行連接。可在芯片的焊盤(pán)
2024-10-21 09:32:43791

機(jī)械應(yīng)力熱應(yīng)力下的BGA焊點(diǎn)可靠性

BGA(球柵陣列封裝)是一種常見(jiàn)的集成電路封裝技術(shù),它具有接觸面積大、信號(hào)傳輸效率高等優(yōu)點(diǎn)。然而,BGA焊點(diǎn)位于器件底部,不易檢測(cè)和維修,而且由于BGA功能高度集成,焊點(diǎn)容易受到機(jī)械應(yīng)力熱應(yīng)力
2024-11-06 08:55:421633

晶圓膠的與解方式

晶圓是十分重要的一步工藝,本文對(duì)其詳細(xì)介紹。???????????????????????????? ? 什么是晶圓膠? 晶圓膠(wafer bonding adhesive)是一種用于
2024-11-14 17:04:443586

微流控多層技術(shù)

一、超聲鍵合輔助的多層技術(shù) 基于微導(dǎo)能陣列的超聲鍵合多層技術(shù): 在超聲鍵合微流控芯片多層研究中,有基于微導(dǎo)能陣列的聚碳酸酯微流控芯片超聲鍵合技術(shù)。研究對(duì)比了大量方法,認(rèn)為超聲鍵合方式
2024-11-19 13:58:001070

芯片倒裝與相比有哪些優(yōu)勢(shì)

與倒裝芯片作為封裝技術(shù)中兩大重要的連接技術(shù),各自承載著不同的使命與優(yōu)勢(shì)。那么,芯片倒裝(Flip Chip)相對(duì)于傳統(tǒng)(Wire Bonding)究竟有哪些優(yōu)勢(shì)呢?倒裝芯片在封裝技術(shù)演進(jìn)
2024-11-21 10:05:152312

優(yōu)化銅互連結(jié)構(gòu)的熱應(yīng)力分析與介電材料選擇

摘要: 基于Ansys有限元軟件,采用三級(jí)子模型技術(shù)對(duì)多層銅互連結(jié)構(gòu)芯片進(jìn)行了三維建模。研究了10層銅互連結(jié)構(gòu)總體互連線介電材料的彈性模量和熱膨脹系數(shù)對(duì)銅互連結(jié)構(gòu)熱應(yīng)力的影響,在此基礎(chǔ)上對(duì)總體互連
2024-12-03 16:54:471484

帶你一文了解什么是引線鍵合(WireBonding)技術(shù)?

微電子封裝中的引線鍵合技術(shù)引線鍵合技術(shù)在微電子封裝領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色,它通過(guò)金屬將半導(dǎo)體芯片與外部電路相連,實(shí)現(xiàn)電氣互連和信息傳遞。在理想條件下,金屬引線與基板之間的連接可以達(dá)到原子級(jí)別的
2024-12-24 11:32:042832

引線鍵合的基礎(chǔ)知識(shí)

引線鍵合是一種將裸芯片的焊墊與封裝框架的引腳或基板上的金屬布線焊區(qū)通過(guò)金屬引線(如金、銅線、鋁線等)進(jìn)行連接的工藝。 這一步驟確保了芯片與外部電路的有效電氣連接和信號(hào)傳輸。 前的等離子體清洗 在引線鍵合之前,通常需
2025-01-02 10:18:012679

什么是引線鍵合(WireBonding)

(WireBonding)是一種使用細(xì)金屬,利用熱、壓力、超聲波能量為使金屬引線與基板焊盤(pán)緊密焊,實(shí)現(xiàn)芯片與基板間的電氣互連和芯片間的信息互通。在理想控制條件下,引線和基板間會(huì)發(fā)
2025-01-06 12:24:101966

什么是金屬共晶

金屬共晶是利用金屬間的化學(xué)反應(yīng),在較低溫度下通過(guò)低溫相變而實(shí)現(xiàn)的,后的金屬化合物熔點(diǎn)高于溫度。該定義更側(cè)重于從材料科學(xué)的角度定義。
2025-03-04 14:14:411922

一文詳解共晶技術(shù)

技術(shù)主要分為直接和帶有中間層的。直接如硅硅,陽(yáng)極條件高,如高溫、高壓等。而帶有中間層的,所需的溫度更低,壓力也更小。帶金屬的中間層技術(shù)主要包括共晶、焊料、熱壓和反應(yīng)等。本文主要對(duì)共晶進(jìn)行介紹。
2025-03-04 17:10:522636

剪切試驗(yàn)——確保汽車(chē)電子產(chǎn)品的可靠連接

汽車(chē)電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性對(duì)于現(xiàn)代汽車(chē)至關(guān)重要,因?yàn)樗鼈冎苯佑绊懙狡?chē)的性能和安全。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)下的剪切試驗(yàn)是評(píng)估這些電子產(chǎn)品中關(guān)鍵連接點(diǎn)強(qiáng)度的重要手段。汽車(chē)電子的可靠性保障:
2025-06-03 15:11:29561

芯片封裝中的打介紹

就是將芯片上的電信號(hào)從芯片內(nèi)部“引出來(lái)”的關(guān)鍵步驟。我們要用極細(xì)的金屬(多為金、鋁線或銅線)將芯片的焊盤(pán)(bond pad)和支架(如引線框架或基板)之間做電連接。
2025-06-03 18:25:491870

鋁絲的具體步驟

鋁絲常借助超聲楔焊技術(shù),通過(guò)超聲能量實(shí)現(xiàn)鋁絲與焊盤(pán)的直接。由于所用劈刀工具頭為楔形,使得點(diǎn)兩端同樣呈楔形,因而該技術(shù)也被叫做楔形壓焊。超聲焊工藝較為復(fù)雜,劈刀的運(yùn)動(dòng)、夾動(dòng)作
2025-07-16 16:58:241461

IGBT 芯片平整度差,引發(fā)與芯片連接部位應(yīng)力集中,失效

一、引言 在 IGBT 模塊的可靠性研究中,失效是導(dǎo)致器件性能退化的重要因素。研究發(fā)現(xiàn),芯片表面平整度與連接可靠性存在緊密關(guān)聯(lián)。當(dāng)芯片表面平整度不佳時(shí),與芯片連接部位易出現(xiàn)應(yīng)力集中
2025-09-02 10:37:351788

IGBT 封裝底部與散熱器貼合面平整度差,引發(fā)與芯片連接部位應(yīng)力集中,脆斷

一、引言 在 IGBT 模塊散熱系統(tǒng)中,封裝底部與散熱器的貼合狀態(tài)直接影響熱傳導(dǎo)效率。研究發(fā)現(xiàn),貼合面平整度差不僅導(dǎo)致散熱性能下降,還會(huì)通過(guò)力學(xué)傳遞路徑引發(fā)與芯片連接部位的應(yīng)力集中,最終造成
2025-09-07 16:54:001684

芯片工藝技術(shù)介紹

在半導(dǎo)體封裝工藝中,芯片(Die Bonding)是指將晶圓芯片固定到封裝基板上的關(guān)鍵步驟。工藝可分為傳統(tǒng)方法和先進(jìn)方法:傳統(tǒng)方法包括芯片(Die Bonding)和引線鍵合(Wire
2025-10-21 17:36:162062

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