用FPGA實(shí)現(xiàn)X-Y二維掃描臺(tái)的位置檢測(cè)電路，提高了系統(tǒng)的集成度，位置檢測(cè)快速可靠。并且，F(xiàn)PGA工作頻率高、設(shè)計(jì)靈活，可減少生物芯片掃描儀進(jìn)一步提升掃描速度和掃描分辨率的開發(fā)時(shí)間和成本。
2015-08-10 09:01:35
3864 
作者：默宸? Modelsim代碼覆蓋率功能Code coverage，能報(bào)告出statement（語(yǔ)句）、branch（分支）、condition（條件）、expression（表達(dá)
2020-12-09 11:45:057293 本文采用基于掃描路徑法的可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)，對(duì)一款約750萬(wàn)門級(jí)雷達(dá)芯片的實(shí)際電路進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)。在設(shè)計(jì)中通過(guò)使用時(shí)鐘復(fù)用技術(shù)、時(shí)鐘電路處理技術(shù)以及IP隔離技術(shù)等幾種有效的設(shè)計(jì)策略，大大提高了芯片的故障覆蓋率，最終達(dá)到可測(cè)性設(shè)計(jì)的目的。
2020-12-11 10:04:142894 
在做仿真的時(shí)候往往會(huì)去做代碼覆蓋率和功能覆蓋率的分析，來(lái)保證仿真是做的比較充分完備的。
2024-01-03 12:34:263264 
。但是對(duì)質(zhì)量沒(méi)有把握的芯片能夠交付使用嗎?這些問(wèn)題的答案對(duì)產(chǎn)品的成功非常重要。 為了確保一定的測(cè)試覆蓋率以及盡可能縮短產(chǎn)品測(cè)試時(shí)間， 圖3：DFT分析、BIST掃描和邊界掃描應(yīng)該與新的SoC集成電路
2011-12-15 09:53:14
1.PLC工作過(guò)程示意圖 2.PLC工作過(guò)程介紹 自診斷：每次掃描程序前對(duì)PLC及其系統(tǒng)作一次自檢，異常則（ERROR）報(bào)警燈亮 通信請(qǐng)求：PLC檢測(cè)是否有與計(jì)算機(jī)、編程器的通信請(qǐng)求
2021-02-20 11:47:15
，就能利用較少的測(cè)試矢量達(dá)到較大的測(cè)試覆蓋率。 結(jié)構(gòu)測(cè)試法假設(shè)在芯片內(nèi)插入有DFT功能，而且要求嚴(yán)格遵守設(shè)計(jì)規(guī)則中的測(cè)試規(guī)則。采用這種方法的開發(fā)人員必須延長(zhǎng)其時(shí)間進(jìn)度，將添加和驗(yàn)證DFT以及運(yùn)行ATPG
2009-10-13 17:30:46
在systemverilog中，對(duì)于一個(gè)covergroup來(lái)說(shuō)，可能會(huì)有多個(gè)instance，我們可能需要對(duì)這些instance覆蓋率進(jìn)行操作?！ ≈槐４鎐overgroup type的覆蓋率
2023-03-21 14:24:14
仿真VCO時(shí)候，開關(guān)電容陣列中開關(guān)電容的值取30fF，子帶呈現(xiàn)不規(guī)律變化。當(dāng)取100fF時(shí)，子帶才呈現(xiàn)比特位控制那樣規(guī)律變化，但這樣子帶覆蓋率會(huì)存在問(wèn)題。求遇到過(guò)同樣問(wèn)題的大神解答下！感謝!
2021-06-25 06:19:25
，覆蓋率只有微微的提升，請(qǐng)問(wèn)是否要遍歷很多數(shù)才能提升覆蓋率嗎？一般這種浮點(diǎn)數(shù)有什么方法去跑嗎？ 每個(gè)數(shù)都跑豈不是天文數(shù)字，本人剛接觸不久，請(qǐng)大佬指教下，謝謝
2024-10-15 18:38:47
您好，我對(duì)Coverage Analyst有疑問(wèn)。我使用的是Coverage Analyst版本5.21p。覆蓋率分析師完成覆蓋率報(bào)告確定（html文件），但我對(duì)報(bào)告中顯示的結(jié)果有疑問(wèn)： - 覆蓋率
2019-01-07 16:06:45
在做RTL仿真驗(yàn)證時(shí)，覆蓋率收集往往是我們?cè)隍?yàn)證中需要注意的地方，本篇就SpinalHDL中的驗(yàn)證覆蓋率收集做一個(gè)簡(jiǎn)單說(shuō)明。sbt配置在SpinalHDL里進(jìn)行仿真驗(yàn)證時(shí)，我們的待測(cè)試代碼會(huì)生
2022-06-24 15:56:45
基于掃描的DFT方法掃描設(shè)計(jì)的基本原理是什么？掃描設(shè)計(jì)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)過(guò)程是怎樣的？基于掃描的DFT對(duì)芯片測(cè)試的影響有哪些？
2021-05-06 09:56:36
等功能，而且系統(tǒng)的體積小，測(cè)試時(shí)與電路板的連接線少，雖然由于測(cè)試點(diǎn)有限， 不能提供100%的故障覆蓋率，但該系統(tǒng)仍能夠?yàn)榫S修人員對(duì)含邊界掃描器件電路板的快速 維修提供有效支持?！ ”疚淖髡邉?chuàng)新點(diǎn)是：將邊界
2018-09-10 16:28:11
邊界掃描是什么原理？如何利用FPGA作為載體來(lái)實(shí)現(xiàn)邊界掃描故障診斷儀的SOPC系統(tǒng)？
2021-04-12 06:07:03
在邊界掃描機(jī)制引入電路設(shè)計(jì)的前提下，如何增加板級(jí)互連的故障診斷覆蓋率？
2021-04-26 06:37:15
提高DFT設(shè)計(jì)測(cè)試覆蓋率的有效方法是什么
2021-05-07 06:37:41
改善5G覆蓋率的方法
2020-12-15 07:52:51
我有34970a。我用它來(lái)監(jiān)控夜間隨機(jī)和未知的冷凍機(jī)故障。如果我打開掃描儀，數(shù)據(jù)將在早上覆蓋。冰箱很遙遠(yuǎn)，可能幾天都看不到它。每小時(shí)收集大約10,800點(diǎn)。接下來(lái)，我將34970a的功率與冷凍功率
2018-09-27 15:42:49
代碼執(zhí)娜行覆蓋情況的功能，來(lái)檢測(cè)代碼中未執(zhí)行覆蓋情況。在覆蓋率分析時(shí)需要分析嵌入式軟件的指令覆蓋率、指令函數(shù)覆蓋率、指令函數(shù)分支覆蓋率、源代碼行覆蓋率、源代碼函數(shù)覆蓋率、源代碼函數(shù)分支覆蓋率。通過(guò)覆蓋率
2021-12-17 07:27:44
怎么提高非隨機(jī)圖形設(shè)計(jì)的故障覆蓋率？為L(zhǎng)BIST設(shè)計(jì)提高故障檢測(cè)能力的技術(shù)是什么？
2021-05-08 07:11:55
評(píng)估功能測(cè)試的故障覆蓋率推廣邊界掃描技術(shù)電路板的彎曲方式
2021-04-23 07:15:39
藍(lán)橋杯單片機(jī)比賽系列3按鍵掃描按鍵掃描原理及實(shí)現(xiàn)在獨(dú)立鍵盤模式時(shí)，要將J5跳在BTN模式。也就是J5中2，3短路。此時(shí)S7,S6,S5,S4一端直接接地，一端連接P30,P31,P32,P33。按鍵
2022-02-17 06:10:41
電腦硬件故障速排方法(掃描儀篇)掃描儀 掃描儀的普及率越來(lái)越高了，但是這類外設(shè)的故障也比較多，而且故障的原因也比較復(fù)雜。以往的手持式掃描儀、滾筒式掃描儀現(xiàn)在都不是市場(chǎng)的主流了，而平板掃描儀才是最受
2011-02-25 15:01:07
故障現(xiàn)象分析認(rèn)識(shí)場(chǎng)掃描電路的常見故障現(xiàn)象了解場(chǎng)掃描電路故障產(chǎn)生的原因3、場(chǎng)掃描電路故障檢修方法掌握?qǐng)?b class="flag-6" style="color: red">掃描檢修方法與要點(diǎn)掌握?qǐng)?b class="flag-6" style="color: red">掃描檢修的流程4、掌握?qǐng)?b class="flag-6" style="color: red">掃描電路檢修注意事項(xiàng)任務(wù)二 行掃描
2010-09-11 18:02:37
百分之百的覆蓋率。另外，結(jié)構(gòu)測(cè)試向量在DFT應(yīng)用過(guò)程中起著至關(guān)重要的作用，為了得到高效率的此類測(cè)試向量，需要在設(shè)計(jì)階段實(shí)現(xiàn)特定的輔助性設(shè)計(jì)；通過(guò)增加一定的硬件開銷，獲得最大可測(cè)試性。而此類的輔助性設(shè)計(jì)就包括掃描鏈
2016-05-25 15:32:58
實(shí)現(xiàn)高覆蓋率的診斷效果，具備對(duì)incorrect frequency和period jitter兩種故障類型的診斷能力？2. 如果問(wèn)題1的答案是肯定的，請(qǐng)描述一下具體實(shí)現(xiàn)方案。3. 如果問(wèn)題1的答案是否定的，是否可以提供一些參考建議。
2018-05-22 01:58:19
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-22 14:58 編輯
最近有RM48芯片做的產(chǎn)品，需要對(duì)它的可靠性進(jìn)行評(píng)估，但是如何獲得它的失效率λ故障覆蓋率呢？只知道這個(gè)芯片滿足SIL3等級(jí)，SIL3PFD 10-4~10-3PFH10-8~10-7
2018-05-22 07:30:38
的。只不過(guò)，100%的驗(yàn)證覆蓋率，可以讓工程團(tuán)隊(duì)對(duì)即將tape out的芯片增添不少信心。01 覆蓋率概述要完成一項(xiàng)工程，需要從市場(chǎng)需求、產(chǎn)品計(jì)劃、工程流程、技術(shù)手段、監(jiān)管機(jī)制、資源調(diào)配、評(píng)審體系等多個(gè)維度做
2022-09-14 11:57:52
本文首先介紹RVM驗(yàn)證方法學(xué)和覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)，然后詳細(xì)分析如何使用結(jié)合覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)的RVM驗(yàn)證方法學(xué)對(duì)SOC(System On Chip)進(jìn)行完備的功能驗(yàn)證, 最
2009-09-05 08:53:00
15 單片機(jī)鍵盤掃描之狀態(tài)機(jī)實(shí)現(xiàn):在編寫單片機(jī)程序的過(guò)程中，鍵盤作為一種人機(jī)接口的實(shí)現(xiàn)方式，是很常用的。而一般的實(shí)現(xiàn)方法大概有：1、外接鍵盤掃描芯片（例如8279，7279 等
2009-09-26 10:37:49205 針對(duì)功能覆蓋率的驗(yàn)證過(guò)程神州龍芯集成電路設(shè)計(jì)公司徐偉俊 楊鑫 陳先勇 夏宇聞[摘要]：本文在介紹傳統(tǒng)驗(yàn)證過(guò)程及其局限性的基礎(chǔ)上，闡述了針對(duì)功能覆蓋率驗(yàn)證（co
2009-12-23 16:12:4413
隔行掃描光柵的形成過(guò)程及其掃描電流的波形
2009-07-31 11:58:541499 指紋讀取器的掃描范圍/分辨率/接口
掃描范圍
2009-12-28 14:27:13733 多功能一體機(jī)的掃描分辨率/掃描尺寸 掃描分辨率指的是多功能一體機(jī)在實(shí)現(xiàn)掃描功能時(shí)，通
2009-12-29 12:12:471496 本文通過(guò)對(duì)一種控制芯片的測(cè)試，證明通過(guò)采用插入掃描鏈和自動(dòng)測(cè)試向量生成(ATPG)技術(shù)，可有效地簡(jiǎn)化電路的測(cè)試，提高芯片的測(cè)試覆蓋率，大大減少測(cè)試向量的數(shù)量，縮
2010-09-02 10:22:523043 
安捷倫科技公司日前宣布推出一款快速易用的測(cè)試覆蓋率預(yù)測(cè)工具：N1194A 安捷倫測(cè)試覆蓋率顧問(wèn)(ATCC)軟件.
ATCC 軟件可以執(zhí)行兩個(gè)重要任務(wù)。首先，該軟件可以在完
2011-01-10 09:42:18814 ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題上，以達(dá)到良好的測(cè)試覆蓋率。盡管遵循可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法，但對(duì)嵌入式R
2011-05-28 11:56:591796 
掃描設(shè)計(jì)是一種廣泛采用的可測(cè)性設(shè)計(jì)方法。在采用掃描設(shè)計(jì)的電路中，掃描單元及其控制電路芯片面積可能占到30%，引起的故障總數(shù)可能占到50%。因此掃描鏈的診斷對(duì)于邏輯診斷具有
2011-05-28 16:27:510 隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，驗(yàn)證已經(jīng)逐漸成為大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的主要瓶頸。首先介紹傳統(tǒng)的功能驗(yàn)證方法并剖析其優(yōu)缺點(diǎn)，然后引入傳統(tǒng)方法的一種改進(jìn)基于覆蓋率的驗(yàn)證方法，最后
2011-06-29 10:46:0622 介紹了 龍芯2號(hào) 配套北橋中PCIB ridge的功能驗(yàn)證系統(tǒng)以及功能覆蓋率建模和分析方法。該系統(tǒng)和方法在開發(fā)和驗(yàn)證PCIB ridge模塊過(guò)程中發(fā)揮了重要作用，加快了PCI Bridge的開發(fā)速度，協(xié)助發(fā)
2011-06-29 10:57:2228 介紹了支持JTAG 標(biāo)準(zhǔn)的IC 芯片結(jié)構(gòu)和故障測(cè)試的4-wire 串行總線，以及運(yùn)用 邊界掃描 故障診斷的原理。實(shí)驗(yàn)中分析了IC 故障類型、一般故障診斷流程和進(jìn)行掃描鏈本身完整性測(cè)試的方案
2011-07-04 15:08:4730 現(xiàn)今流行的可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT：Design For Testability)為保證芯片的良品率擔(dān)任著越來(lái)越重要的角色。
2012-04-20 09:39:058138 
Verilog代碼覆蓋率檢查是檢查驗(yàn)證工作是否完全的重要方法，代碼覆蓋率（codecoverge）可以指示Verilog代碼描述的功能有多少在仿真過(guò)程中被驗(yàn)證過(guò)了，代碼覆蓋率分析包括以下分析內(nèi)容。
2012-04-29 12:35:039031 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《[隨機(jī)過(guò)程論].錢敏平.掃描版.txt》資料免費(fèi)下載
2012-06-08 19:44:480 慢掃描示波器電路故障檢修方法。
2016-05-05 11:01:3011 使用 Veloce 完成局部系統(tǒng)級(jí)協(xié)議檢查和 覆蓋率收斂
2017-09-05 08:39:514 功能覆蓋率是保證驗(yàn)證過(guò)程整體完整性的關(guān)鍵指標(biāo)，然而有很多證據(jù)表明覆蓋率模型往往不準(zhǔn)確，不完整和具有誤導(dǎo)性。作者這種覆蓋缺陷是非常常見的，并且覆蓋分析往往集中于沒(méi)有覆蓋到的點(diǎn)而不是已經(jīng)覆蓋到的點(diǎn)
2017-09-15 10:49:136 的建議以及分析運(yùn)行過(guò)代碼的覆蓋率的準(zhǔn)確性。此外，我們還嘗試了自動(dòng)化的一些方面，隨著工具開發(fā)人員對(duì)這個(gè)重要問(wèn)題的重視，它很可能在未來(lái)進(jìn)行擴(kuò)展。
2017-09-15 10:53:032 傳感器節(jié)點(diǎn)進(jìn)行路徑規(guī)劃，一方面使節(jié)點(diǎn)的覆蓋面最大化，另一方面使掃描覆蓋的路徑最短。仿真實(shí)驗(yàn)在含有障礙物和不合障礙物的情況下進(jìn)行，與多節(jié)點(diǎn)的編隊(duì)覆蓋算法相比，所提算法在適度降低覆蓋率的情況下，可大幅降低移動(dòng)能耗。
2017-12-07 16:41:380 如何在開發(fā)IP的同時(shí)去鞏固集成和復(fù)用覆蓋率？IP的某些功能和性能是可以配置的，需要考慮的是IP被各種合理配置后的工作是否都能夠正常，將功能覆蓋率先整理為層次化的抽象功能覆蓋率模型，稱之為cover model。
2018-02-18 12:08:003146 安捷倫邊界掃描軟件包支持符合IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1的數(shù)字設(shè)備的測(cè)試。測(cè)試開發(fā)人員可以有效和高效地測(cè)試數(shù)字設(shè)備，同時(shí)顯著減少測(cè)試開發(fā)時(shí)間。當(dāng)邊界掃描被實(shí)現(xiàn)時(shí)，故障覆蓋和診斷可以增加。本章提供了關(guān)于邊界掃描和IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1的概述和背景信息。
2018-12-04 08:00:000 邊界掃描技術(shù)的基本思想是在芯片管腳和內(nèi)部邏輯之間增加了串聯(lián)在一起的移位寄存器組，在邊界掃描測(cè)試模式下，寄存器單元在相應(yīng)的指令下控制引腳狀態(tài)，從而對(duì)外部互連及內(nèi)部邏輯進(jìn)行測(cè)試。邊界掃描結(jié)構(gòu)定義了4個(gè)基本硬件單元：測(cè)試存取口（TAP）、TAP控制器、指令寄存器和測(cè)試數(shù)據(jù)寄存器組。
2019-04-25 15:09:572059 
如果 PCB 制造廠掌握電路板上所有節(jié)點(diǎn)的電氣接入，則無(wú)需費(fèi)力構(gòu)建設(shè)計(jì)原型，并可縮短產(chǎn)品上市時(shí)間?，F(xiàn)在我們將介紹相關(guān)方法，幫助您實(shí)現(xiàn) 100% 的測(cè)試覆蓋率。
2019-05-17 06:25:003862 
基于架構(gòu)和基于流的DFT方法 ASIC設(shè)計(jì)平均門數(shù)的增加迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)花費(fèi)20％到50％的ASIC開發(fā)工作量測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題，以實(shí)現(xiàn)良好的測(cè)試覆蓋率。雖然遵循設(shè)計(jì)測(cè)試規(guī)則被認(rèn)為是一種良好的做法，但是
2023-11-10 17:01:041739 當(dāng)PCB制造商有電氣測(cè)試訪問(wèn)每個(gè)節(jié)點(diǎn)板,原型被淘汰并縮短上市時(shí)間。這是你能做什么來(lái)幫助達(dá)到100%的測(cè)試覆蓋率。
2019-11-05 07:10:003886 前言 大家都知道相比其他的協(xié)議，比如Wifi、藍(lán)牙等，LoRa最大的優(yōu)勢(shì)就是長(zhǎng)距離。那如何才能使他的優(yōu)勢(shì)最大化的體現(xiàn)出來(lái)，影響的主要因素有哪些？我們需要如何布網(wǎng)LoRa網(wǎng)絡(luò)，才能提高LoRa網(wǎng)絡(luò)覆蓋率
2020-05-21 14:49:281869 
基于掃描路徑法的可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)是可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）技術(shù)的一個(gè)重要的方法，這種方法能夠從芯片外部設(shè)定電路中各個(gè)觸發(fā)器的狀態(tài)，并通過(guò)簡(jiǎn)單的掃描鏈的設(shè)計(jì)，掃描觀測(cè)觸發(fā)器是否工作在正常狀態(tài)，以此來(lái)檢測(cè)電路
2020-08-12 16:15:241435 
以串行掃描的方式輸入，對(duì)相應(yīng)的引腳狀態(tài)進(jìn)行設(shè)定，實(shí)現(xiàn)測(cè)試矢量的加載；通過(guò)掃描輸出端將系統(tǒng)的測(cè)試響應(yīng)串行輸出，進(jìn)行數(shù)據(jù)分析與處理，完成電路系統(tǒng)的故障診斷及定位，邊界掃描測(cè)試原理示意圖如圖1所示。
2020-08-23 10:56:421472 
例一種安全機(jī)制可以在本附件中具有較高的通用典型診斷覆蓋率，但如果所使用的診斷測(cè)試間隔大于符合相關(guān)容錯(cuò)時(shí)間間隔所需的診斷測(cè)試間隔，則避免違反安全目標(biāo)的具體診斷覆蓋率將低得多。
2020-08-25 15:30:246317 
的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法，并在MARCH-G算法的基礎(chǔ)上提出了一種低功耗的改進(jìn)方法。它具有測(cè)試功耗低，故障覆蓋率較高的特點(diǎn)。 RAM測(cè)試方法 方法1：給出一種測(cè)試系統(tǒng)ram的方法，該方法是分兩步來(lái)檢查，先后向整個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)分別送#0
2020-11-17 14:03:032799 12月1日消息，中國(guó)電信官方微博今天宣布全杭州城區(qū)已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了5G連續(xù)覆蓋，覆蓋率達(dá)到92%以上，并對(duì)西湖景區(qū)、錢江新城、未來(lái)科技城、高校、奧體中心等區(qū)域進(jìn)行了重點(diǎn)保障覆蓋。
2020-12-01 16:23:276926 代碼覆蓋率是衡量軟件測(cè)試完成情況的指標(biāo)，通?；跍y(cè)試過(guò)程中已檢查的程序源代碼比例計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測(cè)試代碼的程序被發(fā)布。 1. 問(wèn)題背景 代碼覆蓋（Code coverage
2021-01-06 15:06:533760 
代碼覆蓋率是衡量軟件測(cè)試完成情況的指標(biāo)，通?；跍y(cè)試過(guò)程中已檢查的程序源代碼比例 計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測(cè)試代碼的程序被發(fā)布。
2021-01-09 11:12:183670 
文主要探討了用全掃描結(jié)構(gòu)（FULL SCAN METHOD）來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)字電路可測(cè)性設(shè)計(jì)（DESIGN FOR TEST）的原理與方法。其中涉及到掃描結(jié)構(gòu)（SCAN）的算法依據(jù)、電路的基本結(jié)構(gòu)、測(cè)試矢量
2021-03-26 14:48:1827 開發(fā)成本高，技術(shù)難度大，故障覆蓋率低的缺陷。該測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)已成功擔(dān)負(fù)新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路的維修保障任務(wù)，應(yīng)用表明，系統(tǒng)具有設(shè)計(jì)合理，性能穩(wěn)定、可靠，故障隔離準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
2021-03-29 11:31:123200 
代碼覆蓋率是衡量軟件測(cè)試完成情況的指標(biāo)，通?；跍y(cè)試過(guò)程中已檢查的程序源代碼比例計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測(cè)試代碼的程序被發(fā)布。 1. 問(wèn)題背景 代碼覆蓋（Code coverage
2021-03-29 11:58:512641 
針對(duì)含DSP電路板的測(cè)試與診斷問(wèn)題，本文提出一種利用邊界掃描技術(shù)和傳統(tǒng)的外部輸入矢量測(cè)試相結(jié)合的方法，對(duì)含DSP電路板中的邊界掃描器件的器件及非邊界掃描器件進(jìn)行了測(cè)試。較大的改善了含DSP電路板的測(cè)試覆蓋率和定位精度，具有非常重要的實(shí)用價(jià)值。
2021-04-13 16:35:0310 線與目標(biāo)區(qū)域的相交部分作為初始計(jì)算對(duì)象，通過(guò)初始計(jì)算對(duì)象與覆蓋帶多邊形的求交實(shí)現(xiàn)掃描線的分段劃分，統(tǒng)計(jì)掃描線分段數(shù)據(jù)得到覆蓋率、覆蓋重?cái)?shù)等指標(biāo)。算例分析結(jié)果表明，該算法具有較低的時(shí)空復(fù)雜度，當(dāng)網(wǎng)格數(shù)量超過(guò)80萬(wàn)時(shí)，
2021-05-14 10:42:296 芯片前端工程中，測(cè)試驗(yàn)證的核心理念：以提高覆蓋率為核心。設(shè)計(jì)工程師需要關(guān)心的主要有行覆蓋率（Block），條件覆蓋率（Expression），翻轉(zhuǎn)覆蓋率（Toggle），狀態(tài)機(jī)覆蓋率。本文從ASIC
2021-06-01 10:13:433243 設(shè)計(jì)工程師需要關(guān)心的主要有行覆蓋率（Block），條件覆蓋率（Expression），翻轉(zhuǎn)覆蓋率（Toggle），狀態(tài)機(jī)覆蓋率。本文從ASIC設(shè)計(jì)的角度上來(lái)討論，如何寫出高覆蓋率的Verilog代碼。
2022-05-26 17:30:214990 聲明、決策或 MC/DC 覆蓋率等指標(biāo)并不能保證軟件沒(méi)有缺陷。如前所述，真正詳盡的測(cè)試可能是不可能的，或者至少是不可行的。然而，結(jié)構(gòu)覆蓋率度量可以更好地了解代碼的可靠性和對(duì)測(cè)試的更大信心。
2022-06-29 10:20:232168 測(cè)量代碼覆蓋率對(duì)于嵌入式系統(tǒng)來(lái)說(shuō)越來(lái)越重要，但需要一些經(jīng)驗(yàn)。這是因?yàn)橛幸恍┱系K需要克服，尤其是小目標(biāo)。但是，使用正確的方法和合適的工具，無(wú)需過(guò)多努力即可測(cè)量測(cè)試覆蓋率。九個(gè)實(shí)用技巧可幫助您入門
2022-07-14 15:58:123637 
安全關(guān)鍵型軟件標(biāo)準(zhǔn)高度關(guān)注如何有效地測(cè)試軟件。他們指出，有效的軟件測(cè)試需要一種規(guī)范的方法，其中代碼覆蓋率用于提供有關(guān)迄今為止測(cè)試有效性的反饋。應(yīng)用于系統(tǒng)的測(cè)試嚴(yán)格程度必須由系統(tǒng)故障的影響決定。后果越嚴(yán)重，測(cè)試必須越嚴(yán)格。
2022-11-01 10:46:421535 軟件測(cè)試和分析可以被認(rèn)為是由許多相互依賴的部分組成的整體活動(dòng)。其中包括需求跟蹤、靜態(tài)和動(dòng)態(tài)分析、編碼標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性等，包括覆蓋范圍分析。歸根結(jié)底，覆蓋率分析應(yīng)該讓我們了解一段代碼的測(cè)試程度和徹底程度
2022-11-11 15:02:22900 測(cè)試覆蓋率是軟件質(zhì)量的重要指標(biāo)，也是軟件維護(hù)的重要組成部分。它通過(guò)提供不同承保項(xiàng)目的數(shù)據(jù)來(lái)幫助評(píng)估測(cè)試的有效性。這種洞察力允許通過(guò)為未經(jīng)測(cè)試的代碼定義新的測(cè)試用例來(lái)改進(jìn)測(cè)試，從而提高代碼質(zhì)量，最終增加代碼覆蓋率并降低成本。
2022-12-08 15:13:342036 
DFT是確保芯片在制造過(guò)程中具有可測(cè)試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時(shí)， 不會(huì)破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計(jì)方法。
2023-03-06 14:47:073425 ? ? ? ? ? 原文標(biāo)題：AI驅(qū)動(dòng)芯片驗(yàn)證：VSO.ai在手，覆蓋率收斂更快、更好、更高效 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-03-30 20:05:031547 代碼覆蓋率提供的價(jià)值是對(duì)V&V（Verification & Validation）過(guò)程的提升，它可以幫助我們清除代碼中的缺陷，確保每行代碼都已執(zhí)行，從而滿足團(tuán)隊(duì)或者認(rèn)證的要求。這可以大大提高團(tuán)隊(duì)代碼質(zhì)量的安全性和可靠性。
2023-03-31 13:57:561667 ? ? ? ? ? 原文標(biāo)題：下周五｜AI驅(qū)動(dòng)芯片驗(yàn)證：VSO.ai在手，覆蓋率收斂更快、更好、更高效 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-03-31 17:30:021146 ? ? ? ? ? 原文標(biāo)題：本周五｜AI驅(qū)動(dòng)芯片驗(yàn)證：VSO.ai在手，覆蓋率收斂更快、更好、更高效 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-04-03 22:20:04854 下圖是一個(gè)典型的EDA仿真驗(yàn)證環(huán)境，其中主要的組件就是激勵(lì)生成、檢查和覆蓋率收集。
2023-04-15 10:13:062441 PLC的工作過(guò)程可分為三部分： 1. 上電處理 2. 掃描過(guò)程 3. 出錯(cuò)處理
其中最為核心的工作過(guò)程為掃描過(guò)程。 PLC是按集中輸入、集中輸出，周期性循環(huán)掃描的方式進(jìn)行工作的。每一次掃描所用
2023-04-17 15:58:400 驗(yàn)證覆蓋率（Verification Coverage）的存在是為了試圖回答這樣一個(gè)問(wèn)題：“你怎么知道驗(yàn)證已經(jīng)完成？”
2023-04-17 10:04:546124 DFT是確保芯片在制造過(guò)程中具有可測(cè)試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時(shí)， 不會(huì)破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計(jì)方法。DFT不友好的ECO會(huì)對(duì)芯片的測(cè)試和調(diào)試帶來(lái)很大的困難，可能導(dǎo)致芯片測(cè)試效率降低甚至無(wú)法測(cè)試。
2023-05-05 15:06:372896 
為了確保驗(yàn)證的完備性，我們需要量化驗(yàn)證目標(biāo)。SystemVerilog提供了一套豐富的覆蓋率建模方式。
2023-06-25 10:44:162269 為確保具體的產(chǎn)品（例如，醫(yī)療或航空電子市場(chǎng)）質(zhì)量合格，
通常需要提供語(yǔ)句覆蓋與判定覆蓋認(rèn)證證明。對(duì)于各種嵌
入式系統(tǒng)，規(guī)范要求高度優(yōu)化的代碼需要實(shí)時(shí)測(cè)試。禁止
代碼插裝和運(yùn)行時(shí)篡改。勞特巴赫代碼覆蓋率測(cè)試系統(tǒng)為
客戶提供實(shí)時(shí)的語(yǔ)句覆蓋和判定覆蓋證明。
2023-11-03 11:02:100 各種測(cè)試對(duì)象和方法的所有覆蓋率測(cè)量結(jié)果，并記錄在新的測(cè)試總結(jié)報(bào)告中。 了解更多TESSY新版本功能詳情或申請(qǐng)免費(fèi)試用，歡迎咨詢TESSY中國(guó)授權(quán)分銷商——龍智。 新版本功能亮點(diǎn)速覽： 1、超級(jí)覆蓋率 逐行評(píng)估源代碼。 基于標(biāo)準(zhǔn)覆蓋率測(cè)量。 提供不同測(cè)試級(jí)別的
2024-07-08 16:20:291102 
1. 準(zhǔn)備掃描儀和地圖 在開始掃描之前，確保您的大幅掃描儀已經(jīng)安裝并正確配置。您可能需要安裝特定的驅(qū)動(dòng)程序或軟件，以便掃描儀能夠與您的計(jì)算機(jī)通信。 檢查掃描儀設(shè)置 ：確保掃描儀的分辨率、色彩模式
2024-10-14 15:47:283123 掃描機(jī)氣密性檢測(cè)儀在保障掃描設(shè)備氣密性能、確保掃描質(zhì)量方面發(fā)揮著重要作用。然而，在使用過(guò)程中，檢測(cè)儀也可能遇到一些常見故障。本文將介紹這些常見故障及其排除方法，以幫助用戶使用和維護(hù)設(shè)備。一、常見故障
2025-08-05 11:34:21798 
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