在電子產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計過程中，電磁干擾EMI(Electro Magnetic Interference)一直是研發(fā)工程師們非常關(guān)心的話題。因為電子設(shè)備會發(fā)出不需要的電磁場，并通過它們的連接線傳輸不需要的干擾電壓和電流。過高的電磁干擾可能會造成電子設(shè)備的不穩(wěn)定，可能會出現(xiàn)亂碼，數(shù)據(jù)接觸不良甚至宕機(jī)。

為了保證電子產(chǎn)品的順利上市，產(chǎn)品的電磁輻射一定要符合各個國家的相關(guān)機(jī)構(gòu)都制定的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)，一般我們稱為電磁兼容性(EMC)測試。所有電子相關(guān)的產(chǎn)品在上市前必須強(qiáng)制性通過電磁兼容性測試。因此在開發(fā)過程中及早檢測、分析和糾正電磁干擾 (EMI) 的成因，能夠可靠地確保成功通過 EMI 一致性測試，并有效避免在項目后期重新進(jìn)行設(shè)計、推遲產(chǎn)品開發(fā)和額外增加成本。

Keysight推出的MXR中端示波器作為一臺8合1產(chǎn)品，集成了RTSA實(shí)時頻譜分析能力，搭載Keysight N9311A近場探頭可實(shí)現(xiàn)EMI的預(yù)測試需求。MXR基于其快速的波形捕獲能力和高速存儲器，連續(xù)無死區(qū)捕獲波形并進(jìn)行FFT運(yùn)算，然后進(jìn)行Overlap運(yùn)算處理提供實(shí)時頻譜分析能力。

如何使用MXR示波器搭載N9311A近場探頭來分析 EMI 問題?怎樣用較大的探頭，找到疑似區(qū)域，再逐漸減小探頭尺寸，最終定位到干擾源?

原文標(biāo)題：【6月13日】基于MXR示波器EMI測試分析

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審核編輯：湯梓紅