配置設(shè)備特性分析的系統(tǒng)可能具有挑戰(zhàn)性; 設(shè)備必須來自多個(gè)供應(yīng)商,然后在測(cè)試第一臺(tái)設(shè)備之前進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)配置和驗(yàn)證。您必須集合所有測(cè)量設(shè)備,晶圓探測(cè)器和其他組件,每個(gè)組件都由獨(dú)立的固件或軟件控制,并確保不同位置之間存在數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)性和測(cè)量精度一致性。您可能需要花費(fèi)數(shù)周甚至數(shù)月的時(shí)間才能進(jìn)行第一次測(cè)量。 FormFactor與MeasureOne的合作伙伴是德科技Keysight公司一起,通過提供高度集成的晶圓級(jí)測(cè)試解決方案,可保證的系統(tǒng)配置,安裝和支持,直面解決了這些挑戰(zhàn)。
MeasureOne 優(yōu)勢(shì)
- 有保證的系統(tǒng)配置、安裝和支持
- 準(zhǔn)確和可重復(fù)的晶圓級(jí)產(chǎn)品特性分析
- 系統(tǒng)配置經(jīng)過預(yù)先驗(yàn)證
- 按照規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行安裝
- 一對(duì)一為客戶提供支持
- 專家?guī)椭鷮?shí)現(xiàn)優(yōu)化解決方案
解決方案組件
- Cascade 200 mm或300 mm半自動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng),WinCal XE校準(zhǔn)軟件,Infinity探針和ISS標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片
- 是德科技 KeysightPNA 或 PNA-X、B1500A、WaferPro-XP、IC-CAP 軟件和 DC 功率分析儀
審核編輯:符乾江
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瑞樂半導(dǎo)體——12寸TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)#晶圓測(cè)溫 #晶圓檢測(cè) #晶圓測(cè)試 #晶圓制造
晶圓
瑞樂半導(dǎo)體
發(fā)布于 :2025年05月20日 21:42:05
提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試
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發(fā)表于 05-07 20:34
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