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泰克PCIe Gen 5 Tx一致性測(cè)試解決方案

王燕 ? 來(lái)源:十個(gè)名字V ? 作者:h1654155957.9311 ? 2022-08-03 11:36 ? 次閱讀
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由于5GIoT互聯(lián)設(shè)備及相關(guān)高帶寬要求預(yù)計(jì)將大幅度攀升,所以數(shù)據(jù)中心運(yùn)營(yíng)商需要遷移到帶寬更高的網(wǎng)絡(luò),其中的帶寬要超過(guò)當(dāng)前通常使用的100GB以太網(wǎng)(100GE)。遷移到下一代400GE網(wǎng)絡(luò)要求更快速的內(nèi)存和更高速的串行總線通信。除了把以太網(wǎng)接口升級(jí)到400GE,服務(wù)器還需要采用速度更高的串行擴(kuò)展總線接口和內(nèi)存。

PCIe(PCI Express)擴(kuò)展總線現(xiàn)在正遷移到最新標(biāo)準(zhǔn)化的PCIe5.0,也稱為PCIeGen5。與此同時(shí),DDR(雙倍數(shù)據(jù)速率)內(nèi)存也正從DDR4.0遷移到DDR≈5.0。PCIeGen5規(guī)范是PCI-SIG開(kāi)發(fā)的PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)的快速晉升增強(qiáng)版本。PCI-SIG是一家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu),規(guī)定了所有PCIe規(guī)范。隨著PCIe5.0插件機(jī)電(CEM)規(guī)范的最終確定,PCIe5.0標(biāo)準(zhǔn)最近完成并于2021年6月發(fā)布,這是2019年發(fā)布的現(xiàn)有PCIe5.0基本(硅)規(guī)范的姊妹篇。

PCIe標(biāo)準(zhǔn)演進(jìn),傳輸速度翻番

最初的并行PCI總線于1992年問(wèn)世,旨在擴(kuò)展個(gè)人電腦的功能,允許添加顯卡和網(wǎng)卡及許多其他外設(shè)。PCIe是一種高速串行總線,旨在代替PCI及其他現(xiàn)有的傳統(tǒng)接口,如PCI-X(PCIeXtended)和AGP(加速圖形端口)。PCIe不僅吞吐量高,而且體積小,鏈路寬度可以在×1路、×2路、×4路、×8路、×16路間擴(kuò)充。PCIe基于根復(fù)數(shù)(系統(tǒng)/主機(jī))與端點(diǎn)(插件)之間的點(diǎn)到點(diǎn)總線拓?fù)?,支持基于包的全雙工通信。

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PCIe雙工鏈路通信

PCIe1.0標(biāo)準(zhǔn)在2003年問(wèn)世,提供了2.5G傳送/秒(2.5GT/s)的速率。PCIe目前提供2.5GT/s~32GT/s的速率。PCIe5.0把PCIe4.0傳送速率翻了一番,從16GT/s提高到32GT/s,但沒(méi)有提供任何新增功能,因?yàn)楫?dāng)時(shí)的目標(biāo)是在最短的時(shí)間內(nèi)提供額外的速度。

目前發(fā)布的所有PCIe標(biāo)準(zhǔn)都采用非歸零(NRZ)信令。但是,PCI-SIG目前正在開(kāi)發(fā)PCIeGen6規(guī)范,將再次把傳送速率翻一番,達(dá)到64GT/s,將從NRZ信令遷移出去。而Gen6第六代規(guī)范將采用PAM-4信令,以及低時(shí)延FEC(前向糾錯(cuò))技術(shù)來(lái)改善數(shù)據(jù)完整性。

所有PCIe標(biāo)準(zhǔn)都必須向下兼容,也就是說(shuō),PCIe5.0(32GT/s最大數(shù)據(jù)速率)還必須支持2.5GT/s、5GT/s、8GT/s、16GT/s及32GT/s。

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PCIe規(guī)范時(shí)間線

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PCIe通路和鏈路速度

PCIe一致性測(cè)試,面臨特定挑戰(zhàn)

PCI-SIG是非專有PCI技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和相關(guān)規(guī)范的開(kāi)發(fā)者,PCIe現(xiàn)在已經(jīng)成為服務(wù)器事實(shí)上的標(biāo)準(zhǔn)。PCI-SIG規(guī)定了PCI規(guī)范,以支持要求的I/O功能,同時(shí)向下兼容以前的規(guī)范。為了能夠在整個(gè)行業(yè)內(nèi)采用PCI技術(shù),PCI-SIG同時(shí)支持互操作能力和一致性測(cè)試,包括實(shí)現(xiàn)一致性必須執(zhí)行及通過(guò)的測(cè)試。

PCI-SIG允許會(huì)員針對(duì)其他會(huì)員產(chǎn)品和測(cè)試套件進(jìn)行互操作能力測(cè)試,參加測(cè)試的產(chǎn)品要么通過(guò)測(cè)試,要么未通過(guò)測(cè)試。為了通過(guò)正式的一致性測(cè)試,產(chǎn)品必須通過(guò)至少80%的互操作能力測(cè)試,并通過(guò)所有標(biāo)準(zhǔn)性的一致性測(cè)試。

PCIe5.0面臨特定的挑戰(zhàn)。PCIe4.0的最大數(shù)據(jù)速率是16GT/s,是PCIe上一代的速度加強(qiáng)規(guī)范,經(jīng)驗(yàn)證實(shí)現(xiàn)起來(lái)要比以前的標(biāo)準(zhǔn)更難。在PCIe5.0中,計(jì)算機(jī)PCIe通道和主板都面臨著明顯的挑戰(zhàn),因?yàn)橐幚?2GT/s數(shù)據(jù)速率。除了在較低數(shù)據(jù)速率遇到的挑戰(zhàn)外,PCIe5.0設(shè)備預(yù)計(jì)還會(huì)遇到明顯的信號(hào)完整性挑戰(zhàn)。泰克擁有針對(duì)所有數(shù)據(jù)速率(Tx、Rx和PLL帶寬)的PCI-SIG批準(zhǔn)的測(cè)試套件。

泰克PCIeGen5Tx一致性測(cè)試解決方案

泰克是PCI-SIG的主要貢獻(xiàn)者,為PCIe4.0和5.0物理層測(cè)試規(guī)范做出了重大貢獻(xiàn),為確定PCIe6.0Tx/Rx測(cè)量方法做了大量探尋道路式的試驗(yàn)。泰克還在PCIe標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)發(fā)和實(shí)現(xiàn)過(guò)程中在一致性和互操作能力測(cè)試方面發(fā)揮了關(guān)鍵作用。

PCIe5.0發(fā)射機(jī)測(cè)試,適當(dāng)?shù)臏y(cè)試設(shè)備和自動(dòng)化軟件至關(guān)重要

在開(kāi)發(fā)PCIeGen5發(fā)射機(jī)器件時(shí),不管是在基本(芯片)級(jí)還是在CEM(系統(tǒng)和插件)級(jí),都將要求芯片級(jí)驗(yàn)證(通常由PHYIP公司執(zhí)行)和預(yù)一致性測(cè)試,然后才能把器件提交給PCI-SIG進(jìn)行正式的一致性測(cè)試。因此,獲得適當(dāng)?shù)臏y(cè)試設(shè)備及相關(guān)自動(dòng)化軟件至關(guān)重要。

PCIe一致性測(cè)試包括:

電氣測(cè)試-評(píng)估平臺(tái)、插件發(fā)射機(jī)(Tx)和接收機(jī)(Rx)特點(diǎn)

配置測(cè)試-評(píng)估PCIe器件中的配置空間

鏈路協(xié)議測(cè)試-評(píng)估器件的鏈路級(jí)協(xié)議特點(diǎn)

交易協(xié)議測(cè)試-評(píng)估器件的交易級(jí)協(xié)議特點(diǎn)

平臺(tái)BIOS測(cè)試-評(píng)估BIOS識(shí)別和配置PCIe器件的能力

在電氣測(cè)試方面,它分成兩套測(cè)量,一套是基本級(jí),一套是CEM級(jí)。這些測(cè)試又分為標(biāo)準(zhǔn)性測(cè)試和參考性測(cè)試:

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PCIe基本和CEM一致性測(cè)量

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眼圖

這兩類測(cè)量都要求高帶寬實(shí)時(shí)示波器,要能夠捕獲數(shù)據(jù)波形。然后采用后處理技術(shù),進(jìn)行基本規(guī)范和CEM規(guī)范中要求的相應(yīng)的電壓和定時(shí)測(cè)量。不相關(guān)抖動(dòng)考查在去除包和通道碼間干擾(ISI)后系統(tǒng)固有的抖動(dòng)。除了抖動(dòng)外,示波器還要進(jìn)行眼高和眼寬測(cè)量?;疽?guī)范中規(guī)定了大量的“一致性測(cè)試碼型”。推薦使用包含多次發(fā)生的整個(gè)一致性測(cè)試碼型的波形記錄,來(lái)構(gòu)建代表性眼圖。

在器件的基本Tx測(cè)試中,規(guī)范規(guī)定直接在發(fā)射機(jī)的引腳上進(jìn)行測(cè)量。如果不能直接接入,那么測(cè)試點(diǎn)應(yīng)盡可能靠近器件引腳。如果用戶很好地了解S參數(shù),那么通過(guò)物理復(fù)現(xiàn)通道或仿真,可以反嵌任何接續(xù)通道損耗。從4.0規(guī)范開(kāi)始,描述了另一種反嵌技術(shù),在波形后處理過(guò)程中,對(duì)不相關(guān)抖動(dòng)測(cè)量應(yīng)用CTLE(連續(xù)時(shí)間線性均衡),可以有效消除直到引腳的ISI。

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Tx均衡器預(yù)置

提交PCI-SIG認(rèn)證的任何PCIe5.0產(chǎn)品,都必須使用規(guī)定的Tx均衡器設(shè)置預(yù)置成功地通過(guò)一致性測(cè)試,支持速度從2.5GT/s直到32GT/s。這些預(yù)置用來(lái)均衡碼流內(nèi)部的頻率相關(guān)衰減差引起的碼間干擾,改善了信號(hào)完整性。每個(gè)預(yù)置都是下沖(光標(biāo)前)和去加重(光標(biāo)后)的特定組合。

目前有各種特定實(shí)現(xiàn)方案,讓DUT發(fā)射機(jī)掃描通過(guò)各種數(shù)據(jù)速率和TxEQ預(yù)置。但是,基本規(guī)范規(guī)定了一種常用的方法,其中向接收機(jī)的通路0傳送一個(gè)100MHz時(shí)鐘突發(fā)。這可以采用任意函數(shù)發(fā)生器(AFG)自動(dòng)實(shí)現(xiàn)。

對(duì)最大速率為32GT/s的PCIe鏈路,基本時(shí)鐘(Refclks)存在著新的驗(yàn)證挑戰(zhàn)。基本規(guī)范已經(jīng)與數(shù)據(jù)速率成比例擴(kuò)大抖動(dòng)極限,但Gen5不成比例地把極限下降到150fs。這種高頻抖動(dòng)測(cè)量要求正確應(yīng)用公共時(shí)鐘傳送功能,并考慮最壞情況傳送延遲。這一最新版規(guī)范還把測(cè)量從基本級(jí)規(guī)范(芯片級(jí))推高到是CEM規(guī)范要求(外表級(jí)),必需滿足一致性測(cè)試。

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CEM插件PCIe5.0一致性測(cè)試及自動(dòng)預(yù)置切換

泰克PCIe解決方案,讓一致性測(cè)試更有信心

示波器帶寬和采樣率要求。對(duì)基本Tx測(cè)試,每條PCIe5.0通路以16GHz速率運(yùn)行(因?yàn)閮蓚€(gè)比特可以在一個(gè)周期中發(fā)送),三階諧波達(dá)到48GHz。由于在三階諧波以上沒(méi)有太有效的信號(hào)信息,所以PCIe5.0基本Tx測(cè)試只需50GHz帶寬的實(shí)時(shí)示波器。對(duì)CEMTx測(cè)試,要在最壞情況通道的末端附近進(jìn)行測(cè)量,減少了高頻內(nèi)容,要求33GHz的帶寬。為確保充足的波形后處理(SigTest),要求每個(gè)單位間隔最少4個(gè)點(diǎn),CEM允許最多2xsinx/x插補(bǔ),所以最低采樣率要達(dá)到128GS/s。

自動(dòng)一致性測(cè)試。在一致性測(cè)試中,手動(dòng)執(zhí)行分析既耗時(shí)又容易出錯(cuò)。為節(jié)省時(shí)間,最好使用自動(dòng)化軟件,其不僅可以減少工作量,還可以加快一致性測(cè)試速度。對(duì)電氣驗(yàn)證,PCI-SIG提供了SigTest離線分析軟件,使用示波器采集的數(shù)據(jù)執(zhí)行分析。自動(dòng)化軟件還控制被測(cè)器件(DUT),使用任意函數(shù)發(fā)生器作為碼型源,讓DUT自動(dòng)通過(guò)一致性測(cè)試所需的各種速度、去加重和預(yù)置。

一輪完整的一致性測(cè)試要求在不同的DUT設(shè)置下每條通路采集多個(gè)波形。這個(gè)波形集合將按需要分析的通路數(shù)(最多16條)提高。軟件要能夠管理和存儲(chǔ)分析及未來(lái)參考要求的數(shù)據(jù),這對(duì)任何一致性測(cè)試解決方案來(lái)說(shuō)都是一個(gè)重要指標(biāo)。自動(dòng)化軟件還可以調(diào)節(jié)示波器水平和垂直設(shè)置及采集度。除了配置和分析外,還可以使用自動(dòng)化軟件管理采集的多個(gè)波形。

自動(dòng)化軟件可以選擇數(shù)據(jù)速率、電壓擺幅、預(yù)置和要執(zhí)行的測(cè)試。它還可以提供選項(xiàng),嵌入包參數(shù)模型,反嵌電纜、測(cè)試夾具或到達(dá)規(guī)范規(guī)定的目標(biāo)測(cè)試點(diǎn)所需的其他元素。來(lái)自軟件的分析結(jié)果通??梢?a href="http://www.makelele.cn/v/tag/3195/" target="_blank">匯編成PDF或HTML格式的報(bào)告,可以包括通過(guò)/未通過(guò)測(cè)試摘要、眼圖、設(shè)置配置和用戶備注。

通過(guò)使用泰克DPO70000SX系列示波器和AFG31252任意函數(shù)發(fā)生器,PCIExpressGen1/2/3/4/5解決方案可以在基本級(jí)(芯片)和CEM級(jí)(系統(tǒng)和插件)自動(dòng)進(jìn)行發(fā)射機(jī)驗(yàn)證和一致性測(cè)試。

TekExpressPCIe5.0Tx自動(dòng)軟件功能:

使DUT自主步進(jìn)通過(guò)不同的速度、碼型和TxEQ預(yù)置

在進(jìn)行測(cè)量前,在發(fā)射機(jī)上檢驗(yàn)信號(hào)是否正確

執(zhí)行通道和包嵌入和反嵌

支持SigTest和SigTestPhoenix各版軟件和模板文件

使用SiliconLabs.“PCIe時(shí)鐘抖動(dòng)工具”和泰克DPOJET軟件進(jìn)行100MHz參考時(shí)鐘抖動(dòng)和信號(hào)完整性測(cè)量

在歷史上,當(dāng)新一代PCIe器件進(jìn)入一致性測(cè)試時(shí),很大一部分器件在進(jìn)行PHY和鏈路訓(xùn)練一致性測(cè)試時(shí),會(huì)在第一次互操作能力講習(xí)會(huì)中通不過(guò)測(cè)試。在PCI-SIG講習(xí)會(huì)前,確保完善的示波器、AFG、BERT(用于Rx測(cè)試)和自動(dòng)化軟件解決方案到位至關(guān)重要。泰克PCIe測(cè)試和調(diào)試Tx、Refclk和Rx解決方案可以在互操作能力測(cè)試前引導(dǎo)您完成一致性測(cè)試和調(diào)試,確保您的設(shè)計(jì)滿懷信心地滿足PCI-SIGPCIe標(biāo)準(zhǔn)要求。

審核編輯:湯梓紅

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    ?直播主題CAN總線一致性測(cè)試一致性測(cè)試是保障總線系統(tǒng)穩(wěn)定、兼容、可靠運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)?!彪S著整車電子電氣架構(gòu)日益復(fù)雜,ECU數(shù)量增多、通信負(fù)載加大,CAN節(jié)點(diǎn)之間若存在電氣特性不匹配
    的頭像 發(fā)表于 10-30 17:34 ?2338次閱讀
    直播回顧 |  深度解讀CAN總線<b class='flag-5'>一致性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>的四大層級(jí)與實(shí)戰(zhàn)方法,虹科技術(shù)直播助您破解汽車通信穩(wěn)定性的關(guān)鍵

    科技展示物理層發(fā)送端和接收端一致性測(cè)試解決方案

    PCIe總線的高吞吐量和低延遲,使得處理器與處理器之間、處理器與外圍芯片之間能更高效地協(xié)同工作,這對(duì)于處理大規(guī)模的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和復(fù)雜的AI模型至關(guān)重要, 是AI蓬勃發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù)底座之。
    的頭像 發(fā)表于 09-09 15:58 ?784次閱讀
    <b class='flag-5'>泰</b><b class='flag-5'>克</b>科技展示物理層發(fā)送端和接收端<b class='flag-5'>一致性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>解決方案</b>

    科技功率器件雙脈沖測(cè)試解決方案

    在當(dāng)今快速發(fā)展的電力電子技術(shù)領(lǐng)域,功率半導(dǎo)體器件的性能優(yōu)化至關(guān)重要。雙脈沖測(cè)試(DPT)作為種關(guān)鍵的測(cè)試方法,為功率器件的動(dòng)態(tài)行為評(píng)估提供了精準(zhǔn)的手段。本文將深入解析雙脈沖測(cè)試的原理
    的頭像 發(fā)表于 06-05 11:37 ?1416次閱讀
    <b class='flag-5'>泰</b><b class='flag-5'>克</b>科技功率器件雙脈沖<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>解決方案</b>

    車用鋰離子電池機(jī)理建模與并聯(lián)模組不一致性研究

    車用鋰離子電池機(jī)理建模與并聯(lián)模組不一致性研究
    發(fā)表于 05-16 21:02

    Tektronix 7713差分探頭測(cè)試異常故障診斷與解決方案

    近期深圳某企業(yè)送修臺(tái)7713電壓差分探頭,報(bào)修故障為接入示波器后,測(cè)試值偏小很多只有正常信號(hào)的1/3。并且測(cè)試狀態(tài)不穩(wěn)定。對(duì)儀器進(jìn)行初
    的頭像 發(fā)表于 05-08 17:46 ?722次閱讀
    <b class='flag-5'>泰</b><b class='flag-5'>克</b>Tektronix 7713差分探頭<b class='flag-5'>測(cè)試</b>異常故障診斷與<b class='flag-5'>解決方案</b>

    堆焊熔池輪廓實(shí)時(shí)監(jiān)控,實(shí)現(xiàn)工藝穩(wěn)定性與焊縫一致性

    及稀釋程度等關(guān)鍵參數(shù)對(duì)焊層質(zhì)量有直接影響,實(shí)時(shí)監(jiān)控熔池輪廓和溫度分布可及時(shí)預(yù)警缺陷并指導(dǎo)參數(shù)優(yōu)化,以保證焊層一致性與工藝穩(wěn)定性。今天起了解堆焊熔池輪廓實(shí)時(shí)監(jiān)控,實(shí)現(xiàn)工藝穩(wěn)定性與焊縫一致性。 堆焊簡(jiǎn)介 堆焊,又
    的頭像 發(fā)表于 04-24 17:15 ?674次閱讀
    堆焊熔池輪廓實(shí)時(shí)監(jiān)控,實(shí)現(xiàn)工藝穩(wěn)定性與焊縫<b class='flag-5'>一致性</b>

    一致性校正與邊緣融合拼接

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《差一致性校正與邊緣融合拼接.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 04-10 18:02 ?0次下載