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使用ADS進(jìn)行芯片電-熱聯(lián)合仿真

信號完整性 ? 來源:信號完整性 ? 作者:信號完整性 ? 2022-12-20 09:35 ? 次閱讀
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在電子產(chǎn)品中,只要產(chǎn)品工作就會發(fā)熱。電子系統(tǒng)的熱主要來自芯片和PCB板上產(chǎn)生的熱量,尤其是芯片產(chǎn)生的熱量比較顯著。在電子系統(tǒng)中,過高的溫度就會導(dǎo)致電源供電不足、芯片等器件失效,進(jìn)而導(dǎo)致系統(tǒng)性能下降或者宕機(jī),所以控制好芯片和系統(tǒng)的溫度非常重要。

芯片發(fā)熱依然是工程師們的一大頭疼的問題,不管采用什么樣的架構(gòu)、什么樣的工藝,至今都無法從根本解決高功耗和高發(fā)熱問題,而且芯片發(fā)熱的問題有越來越嚴(yán)重的趨勢,因?yàn)殡S著工藝的發(fā)展,單位面積內(nèi)的晶體管越來越多,大型的CPU晶體管數(shù)量都達(dá)到了幾億甚至幾十億顆,所以發(fā)熱量就可能會越來越大。

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對于芯片設(shè)計(jì)師來講,在設(shè)計(jì)過程中就要平衡電性能與熱的關(guān)系,最好的方式就是通過仿真工具能對電和熱同時進(jìn)行仿真分析,使之能達(dá)到一個比較好的性能平衡點(diǎn)。

審核編輯:湯梓紅

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原文標(biāo)題:使用ADS進(jìn)行芯片電-熱聯(lián)合仿真

文章出處:【微信號:SI_PI_EMC,微信公眾號:信號完整性】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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