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是德科技Solution Talks寬禁帶半導(dǎo)體(WBG)雙脈沖測試方案

是德科技快訊 ? 來源:是德科技快訊 ? 2023-03-26 10:03 ? 次閱讀
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在億萬斯年的歷史長河中,提出問題與解決問題一直是推動人類文明進步的主要動力。作為太陽系唯一的文明,人類不斷運用智慧解決各種難題,從電、電話、無線電到計算機、半導(dǎo)體、汽車、新能源車、航天飛船、人工智能等的發(fā)明,這些都徹底改變了人類的世界。而未來的世界中,還將會有更多未知的挑戰(zhàn)等待人類去探索和解決。

是德科技為您帶來最新的“Solution Talks”,旨在幫助您快速實現(xiàn)創(chuàng)新的解決方案,以加速創(chuàng)新,連接世界并確保安全的領(lǐng)先。我們的話題覆蓋無線通信(包含5G、6G)、汽車與能源、高速計算和光通信、半導(dǎo)體、醫(yī)療等行業(yè)的測試場景。

如果您未找到遇到的測試挑戰(zhàn),告訴我們您想了解的測試問題,是德科技專家將會聯(lián)系您,并提供全方位的測試解決方案。

總結(jié)

?鑒于其高電壓特性和快速開關(guān)速度,動態(tài)特性的表征在評估寬禁帶半導(dǎo)體(WBG)器件時變得至關(guān)重要。

?JEDEC持續(xù)將WBG半導(dǎo)體的動態(tài)測試定義為GaN JC-70.1和SiC JC-70.2,并且更多標準化測試正在出現(xiàn),包括開啟、關(guān)斷、開關(guān)、反向恢復(fù)、柵電荷以及其他測試。

?Keysight提供符合JEDEC標準的WBG半導(dǎo)體簡單、可靠、可重復(fù)的測量解決方案。

場景和趨勢

第三代半導(dǎo)體是指使用新的材料和器件結(jié)構(gòu)制造的半導(dǎo)體器件,如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等。相較于傳統(tǒng)的硅同類材料,WBG半導(dǎo)體使得器件能夠在更高的溫度、電壓和頻率下工作,因此這些材料制成的電力電子模塊比使用傳統(tǒng)半導(dǎo)體材料制成的模塊更加穩(wěn)定和節(jié)能。

鑒于第三代半導(dǎo)體因其優(yōu)異的性能,在半導(dǎo)體照明、新一代移動通信、新能源并網(wǎng)、智能電網(wǎng)、高速軌道交通、新能源汽車、消費類電子等領(lǐng)域擁有廣泛的應(yīng)用前景。第三代半導(dǎo)體材料具有高擊穿電場、高熱導(dǎo)率、高電子飽和速率及抗強輻射能力等優(yōu)異性能,是固態(tài)光源和電力電子、微波射頻器件的“核芯”,正在成為全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)新的戰(zhàn)略高地。

需求和痛點

寬禁帶半導(dǎo)體(WBG)作為一項革命性的材料,能夠提供更高的速度、更高的電壓和更高的熱操作能力,從而提高效率,減少尺寸和成本。然而,這也帶來了新的挑戰(zhàn),半導(dǎo)體制造商和工程師在表征寬禁帶半導(dǎo)體遇到了一些困難。對于傳統(tǒng)硅基的大功率半導(dǎo)體應(yīng)用,通過測試靜態(tài)參數(shù)是可以評估芯片和器件性能,因為它們的開關(guān)速率較慢。然而,對于寬禁帶半導(dǎo)體,測試靜態(tài)和動態(tài)參數(shù)都是重要的。寬禁帶半導(dǎo)體的更高開關(guān)速率會在開關(guān)瞬態(tài)過程中會造成損失。

JEDEC是全球領(lǐng)先的微電子行業(yè)標準化組織,它將WBG半導(dǎo)體的動態(tài)測試定義為GaN JC-70.1和SiC JC-70.2。隨著JEDEC標準的發(fā)展,測試WBG半導(dǎo)體已經(jīng)成為一項復(fù)雜的任務(wù),更多的測試涌現(xiàn)出來。第三代半導(dǎo)體需要對應(yīng)不同的測試需求,不僅要測量擊穿電壓、工作電流、導(dǎo)通電阻、IV、CV曲線等靜態(tài)參數(shù),還需要對開關(guān)時間、損耗能量、動態(tài)導(dǎo)通電阻等參數(shù)進行完全表征。因此,WBG器件制造商和測試機構(gòu)需要一種全面的解決方案,可以重復(fù)、可靠、安全地測試動態(tài)參數(shù)。

解決方案

Keysight PD1500A動態(tài)功率器件分析儀/雙脈沖測試儀是一個全方位針對分立器件的測試解決方案。雙脈沖測試(DPT)系統(tǒng)可以幫助您實現(xiàn)可靠、可重復(fù)的功率半導(dǎo)體器件動態(tài)測試結(jié)果。PD1500A 解決方案可以運行全自動化測試,其中包括開關(guān)特性、柵極電荷和反向恢復(fù),PD1500A 采用的均是標準的測量技術(shù),例如探頭補償、增益/偏置調(diào)整、偏移校正和共模噪聲抑制。此外,通過積極參與制定GaN JC-70.1和SiC JC-70.2標準,Keysight PD1500A可提供符合JEDEC規(guī)范的可靠、重復(fù)的寬帶隙半導(dǎo)體測量結(jié)果。

PD1500A雙脈沖測試系統(tǒng)助力表征WBG半導(dǎo)體

是德科技PD1500A動態(tài)功率器件分析儀能夠提供1200V、200A的漏極測試電壓電流,提供-28V到+28V的柵極驅(qū)動電壓,適應(yīng)不同規(guī)格器件的測量;高電流shunt,具備400MHz的電流測試帶寬,能夠捕捉ns級別的快速開關(guān)邊沿;我們專門開發(fā)了半自動校準例程 (AutoCal),用于校正系統(tǒng)增益和偏置誤差。針對測量電流時所出現(xiàn)的不一致性,系統(tǒng)還使用先進技術(shù)加以補償,保證測量精度和重復(fù)性。

Keysight PD1500A DPT 可以測量功率半導(dǎo)體器件的動態(tài)參數(shù),包括:

?開啟參數(shù)(td(on),tr,ton,e(on))

?關(guān)斷參數(shù)(td(off), tf, toff, e(off))

?反向恢復(fù)參數(shù)(trr, Qrr, Err, Irr, Id-t)

?柵電荷(Qgs(th), Qgs(pl), Qgd)

?開關(guān)過程曲線(Id-t, Vds-t, Vgs-t, Ig-t, Clamped Vds-t, e-t)

?動態(tài)導(dǎo)通電阻(RDSon)

?高功率IV曲線(Id-Vg, Id-Vd)

PD1550A高級動態(tài)功率模塊分析儀測試方案

PD1550A的功能在PD1500A的基礎(chǔ)上進行了擴展,為測試高達1360 V和1000 A 的功率模塊提供了一套完整的解決方案。該平臺還內(nèi)置了保護機制,確保用戶的安全和系統(tǒng)硬件的保護。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:Solution Talks | 寬禁帶半導(dǎo)體(WBG)雙脈沖測試方案

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