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EXR小故事 – 雙脈沖測(cè)試雙管齊下

廈門同昌源儀器設(shè)備 ? 2025-04-11 15:00 ? 次閱讀
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關(guān)鍵詞:雙脈沖測(cè)試,上管測(cè)試,下管測(cè)試,電源完整性測(cè)試套件

寬禁帶半導(dǎo)體作為第三代半導(dǎo)體功率器件的代表,正在電源處理領(lǐng)域發(fā)揮著日益重要的作用。這類材料憑借其高能量密度、高工作頻率以及耐高溫等天然優(yōu)勢(shì),成為了眾多電源及電源模塊的首選材料。特別是在功率半導(dǎo)體中,上下管雙脈沖測(cè)試已經(jīng)成為評(píng)估動(dòng)態(tài)參數(shù)的經(jīng)典方法,對(duì)于推動(dòng)相關(guān)技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。

那么,何為雙脈沖測(cè)試呢?

正如其名,雙脈沖測(cè)試是指向功率半導(dǎo)體器件施加兩個(gè)脈沖作為驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)的過程。其中,第一個(gè)脈沖寬度較大,旨在達(dá)到特定的電流強(qiáng)度。此脈沖的下降沿用于觀察關(guān)斷過程,而第二個(gè)脈沖的上升沿則用來監(jiān)測(cè)開通狀態(tài)。通過分析這兩個(gè)脈沖的輸出信號(hào),可以有效評(píng)估兩個(gè)功率管的動(dòng)態(tài)性能指標(biāo)。

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通常開關(guān)電源都需要進(jìn)行上、下管測(cè)試,其經(jīng)典的雙脈沖測(cè)試示意圖是這樣的:

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上、下管的測(cè)試要求存在差異。對(duì)于上管的Vds測(cè)試,需要具備高共模抑制比,因此推薦使用具有優(yōu)異共模抑制性能的探頭(如光電隔離探頭)進(jìn)行測(cè)量。至于電流測(cè)量,則通常需要穿過電路板執(zhí)行,故常選用柔性探頭(例如羅氏線圈)。相比之下,下管的測(cè)試較為簡(jiǎn)單,電壓測(cè)量可以采用低噪聲單端探頭完成,而電流測(cè)量則可利用帶寬更高的電流探頭進(jìn)行。此外,圖中所示需并聯(lián)的大電感,在實(shí)際測(cè)試時(shí)應(yīng)與上管測(cè)試同步,并與下管并聯(lián);在對(duì)下管進(jìn)行測(cè)試時(shí),則相應(yīng)地將該電感與上管并聯(lián),以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和有效性。這種配置有助于優(yōu)化測(cè)試環(huán)境,確保獲得可靠且精確的測(cè)量結(jié)果。

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通常情況下,雙脈沖測(cè)試需要專門的設(shè)備,包括測(cè)試夾具、自動(dòng)化測(cè)試軟件、儀器和探頭等。然而,這種專業(yè)裝置的投資成本較高,對(duì)于研發(fā)工程師而言,未必是性價(jià)比最高的選擇。在日常測(cè)試中,我們可以采用EXR示波器搭配任意波形發(fā)生器,并選配電源與信號(hào)完整性分析軟件來高效完成測(cè)試任務(wù)。EXR系列示波器擁有高達(dá)6GHz的帶寬、16GS/s的采樣率以及1.6G的存儲(chǔ)深度,結(jié)合多種顯示模式和自動(dòng)測(cè)量功能,輔以應(yīng)用軟件的支持,能夠極大地提升測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。通過這樣的配置,電源工程師可以專注于電路設(shè)計(jì)的工作,在進(jìn)行第三代半導(dǎo)體電源器件的動(dòng)態(tài)雙脈沖測(cè)試時(shí),無需擔(dān)憂測(cè)量的問題,真正實(shí)現(xiàn)了“雙管齊下”,讓測(cè)試過程更加簡(jiǎn)便快捷,同時(shí)也確保了測(cè)試結(jié)果的精確性和可靠性。

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